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孔金属化板板面起泡成因及对策探讨

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发表于 2008-5-8 21:04 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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孔金属化板板面起泡成因及对策探讨
作者:南京电力自动化设备总厂七分厂 王波
Discussion On Cause & Solution Of PTH Board Blising

" B4 b/ h3 j8 ^% A) F8 n. r摘要:本文介绍了对一例孔金属化板板面起泡现象产生原因的分析,并就分析提出各种解决方法。最终确定引起孔金属化板板面起泡的原因。
; r& j1 w4 A/ G( _5 A1 ]7 p  j6 Z关键词:起泡、化学沉铜、全板电镀、活性、组份、自催化反应、歧化* z/ }% O+ w& P* U
0、 现象
3 K, D1 a; s8 P+ b一次, 更换沉铜槽槽液后,化学镀后的双面板经全板电镀厚铜后发现板面起泡,并伴有结瘤。起泡处形状不规则,目测其形状跟某种液体的自然流动而留下痕迹相似,并且每一处起泡都是以点开始的。/ ]- q# q8 O; H, f" d2 R3 J4 p% }  X
1.1一次分析4 N; s' j" s( b% S' q
我们孔金属化板的典型工艺流程是:化学沉铜(去油——水洗——粗化——水洗——酸性预浸——活化——水洗——还原(1)——还原(2)——沉铜),全板电镀厚铜(水喷淋——酸预浸——全板电镀——水洗——钝化——水洗——风干)。" T+ j0 ~% W$ b' s0 `! b
根据工艺流程我们直接否定了故障产生于电镀工段,因为电镀流程简单,如果产生这一现象,那末唯一的工序就是全板电镀,即是说电镀槽引入有机杂质。但是,共用电镀槽的图形电镀铜却没任何问题,因而确定产生于化学沉铜工段。
( }' a4 ^! [# h6 P# ^  Q在化学沉铜工段,我们将重点放在还原与沉铜工序。因为根据更换槽液前的处理效果,去油与活化都不错,粗化与此现象没太大关系,而且这几槽槽液都没有更换。
3 x4 n5 O5 c( m, S  R+ t8 V根据起泡形状分析认为:这是由还原液引起,因为沉铜液的配制严格按照供应商提供的参数执行,还原液也是刚刚配制的,还原剂中引入杂质可能导致这一现象。还原剂的成份不清楚,只知是浓缩液。还原之后没有水洗,直接进行化学沉铜,这使杂质带入沉铜槽成为可能。7 {: Z! ]' J; |: X1 g
1.2解决方案
! |. \8 k2 F2 [$ e; U7 u经与供应商联系,供应商建议将还原(2)改为蒸馏水水洗。采用建议后,情况有所改观,但是没有达到生产所要求的稳定度。经过一周多的维护与调整,溶液达到稳定状态,经过化学沉积铜的板面色泽鲜艳,铜层致密,经全板电镀后也没有起泡产生。. p+ j3 `$ S2 K4 f% |
1.3小结7 [3 r( g0 A( |2 W- h# n
从上面的情况我们反过来思考所作的分析,在这一周多的时间内仍按供应商的参数维护,仅仅隔两到三天更换一次还原(2)的蒸馏水水洗,以防止还原(2)因还原(1)的残留液的带入而使起浓度上升。从这一情况看我们认为还原引入杂质的分析有误。- q% u& G% l7 O' Z
2.1二次分析) [+ o# \" V! O1 N6 t+ i
既然否定杂质的引入的可能,那么原因何在呢?在控制过程中发现新配溶液的反应很快,起泡是否与活性有关呢?这引起我们的关注,但因为溶液已达到稳定状态,故障无从找起,槽液的更换周期较长,对于起泡的跟踪观察就停止。
9 N& u; K5 i( a5 Q5 Q' b7 H我们就活性的相关因素:Cu、NaOH、HCHO等组份的含量,工作温度,络合剂含量,稳定剂进行分析。
( F$ C" q! n4 C5 Y4 \! L3 G) e- Q8 F9 Z我们从下列图中可知:7 |* u! O9 ^7 ~+ u+ w
1) 沉积速率随着Cu含量的升高而升高,在起始部分几乎呈正比关系。
+ U+ E3 r: z9 I4 F9 L% o. P; z! c2) 随着OH-、HCHO的浓度及温度的上升,沉积速率亦随之上升。可以从反应主式中得以证实:) K$ f6 {+ c5 o% b# x7 g( A
2HCHO+2Cu2++4OH-→Cu+2HCHOO-+2H2O+H2↑ (1)' C/ o# M  [  J8 \" O, r
当[HCHO]、[Cu2+]、[OH-]中的任意一项上升,平衡就左移,即反应速度加快。
8 ~! p3 F" q! w. v1 T3) 浓度超过阀值,沉积速度增长缓慢,有资料表明此时副反应增强。其中几个副反应值得注意:9 b/ U8 O; s- o! j1 g
Cu2+→Cu+(2)$ u. c9 X/ Q/ {" @- K* E8 I0 f
Cu++Cu+ →Cu↓+Cu2+ (3)8 l7 h) J4 T. e/ ~9 N# w
(2)、(3)式说明了在强碱条件下,Cu2+可能被还原成Cu+,Cu+在强碱条件下易歧化形成细小的粒,不规则的分布于溶液中。
8 |9 A5 h0 l; a1 x! N8 e4) 反应(1)式中有H2产生。$ U$ |& ~' C, p5 y6 ?" T
因此从反应入手分析:新配制溶液的浓度我们一般取推荐的上限与下限值的中值,因此溶液的活性极强。假设经高浓度的还原(1)处理后,再经低浓度 还原(2)处理,板面部分残留液的浓度还没有完全降低,直接入化学沉铜槽,极强活性的镀液使Cu在板面迅速沉积,残留液浓度较高部分的催化性较强,其反应速度也较快,使Cu来不及均匀、致密的沉积并与基材铜箔牢固结合。反应产生的H2也来不及排出,就被沉积的铜包围形成气泡,从而使沉积的铜游离于基材铜箔产生起泡。瘤状物质则有可能是高速反应的副产物Cu颗粒附着于板面,我们知道Cu颗粒以球面与溶液接触,不似基材铜箔以部分面积接触。因此就反应面积而言,铜颗粒较大,其反应速度也快许多,使局部自催化反应的化学沉积越来越快。
; h* m, L1 G' b( ]/ H基于上述的认识,我们知道活性过强(即反应过快)是起泡产生的根本原因。因而控制反应速度才能从根本上解决起泡的产生。
; x% e, W# Q4 c5 S" V& ?, j2.2解决方案0 W8 l3 F% R9 |9 H* ~. M* B0 m" U8 x
有2.1的分析,在第二次更换槽液时,我们注意了组分的控制,并将供应商的参数作了更改,现表述如下:
7 s6 l3 i# a" `" [经上述变更后,工作温度采用低温启动组份控制在较低的状态。更换槽液第一天沉积出的板子,色泽鲜艳、镀层致密,孔化质量好,起泡比例只有0.8%(按块数计)左右,即使存在这一现象的,起泡面积小、程度轻。相对前一次大批量、大面积、程度严重的情况而言,状况改观极大。经两到三天的正常维护,起泡现象完全消失,从而达到稳定生产。
$ C$ b- Y9 y; o6 y2.3小结
4 g( X7 }( e9 x# z2 t经上述的调整,基本达到我们所期望的状态,但依然存在起泡现象。源于这次的调整是一次试验。各组份没有达到最佳的匹配状态。经过适当的调整是完全能达到最佳的。9 \0 }+ T" V0 J- f( F# X2 E- H
3.几点建议! [: ~' m2 O% f' n7 X* I
1) 从综合因素考虑,减缓反应速度的措施可全面一些。在降低Cu、HCHO、NaOH组份浓度的同时,可增加络合剂、稳定剂的浓度,这样既可使组份保持相对较高的浓度,避免组份浓度过低造成黑孔及其它不良的孔化,又可以保持较为缓慢的反应速度。即是说采取单一的方式是不可取的,那样会导致溶液组份失去平衡。
  g+ G. T7 l+ o2) 随时间的推移,组份浓度应随着升高。所以,在开始的几天,严密监控组份浓度极为重要,根据沉积质量适当调整组份浓度。当达到稳定状态时,应逐步恢复到供应商的参数值。
' l; z( m: u6 b5 R7 c' f* R3) 还原剂浓度适当低些。4 e( Z; x! H6 c9 c
必须指出:本文只作定性的讨论,对于量的概念应根据实际情况予以不同的处理。所以在行文过程中体现出这一点。在操作过程中作好记录,找出一般性规律以便于规律性添加,因为有些组份的增长并非线性。
) Z0 I. C6 j$ C- x% e

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发表于 2008-5-9 09:59 | 只看该作者
看了,顶一下,大侠辛苦了
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