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随着电子产品日趋便利化,对产品要求也趋小型、薄型化。即对现有的封装器件要求更小,更薄,而产品本身的内容却又不断在增加。如何在这种矛盾的条件下实现全部要求?这对整个封装行业提出了新的发展。 封装行业小型化发展有CSP、BGA等方向,本文从叠DIE的角度介绍Package小型化的方式。 封装流程( G- R6 t1 x3 Y- N
Substrate → 贴装元件 → 贴DIE → 引线键合 → 塑封 → 切割→ 外观检查 → 测试 → 包装 封装形式4 b* x! y3 K# }0 n) s
● 平面贴DIE方式(图1)$ S& ?, N: W6 L% X
平面式 % K# X1 _2 t% S* T9 o. x8 K$ W
● 垂直贴DIE方式(图2)6 c4 ]) a1 n" u
DIE之间直接相贴,阶梯式
- g- U9 M# H% ?; U3 U2 j" M. P4 v DIE之间间隔一层spacer ) U# ^: W) c+ f' B
两种方式的受限之处
1 a8 x6 Q& W1 X: C1 n& S- K0 o平面贴DIE方式:' \" F+ w" o6 N/ i u& H) m
多个DIE布局在同一平面,最大程度的占据了封装空间,难以满足尺寸受限制的条件。 垂直贴DIE方式:
2 z# W+ f/ n7 F6 M; k2 Q阶梯式(1)的叠DIE方式相对平面式的情况有所降低空间利用,但在多层同一类型DIE阶梯时,同样会占据较多空间,因为每递增一层,相当于DIE的尺寸增加约500um,当DIE数量多达8个时,则会增大500×8=4000um的空间。对尺寸紧凑条件,也是难以满足。 阶梯式(2)方式需求所叠层的DIE尺寸比下层的DIE尺寸小,这样才可以让出Wire bonding的空间,应用范围受限。 隔层方式在两层DIE之间增加一层Dummy DIE,留出高度用于Wire bonding,增加工艺流程,材料成本,降低UPH。 新型贴DIE方式5 V! ~% z* `( b" m
新型的贴DIE方式综合了垂直方式中的两种优势(掩埋式)(图3)。 该方式采用一种新型的材料,名称为FOW (film on wafer,如图4),利用film attach技术粘附在DIE的bottom面,所粘DIE可直接attach在其它DIE之上,位置没有要求,即可以直接压附着下层DIE的loop。(多个同种DIE可以完全重合在一起,极大缩小了叠DIE占据的空间)0 k% g, L- Y& g3 I5 H: |( h
- X% v" A. `) Z. |9 I: D8 y其使用条件、使用流程及效果图分别示于图5~7。 该方式的优势在于多个大小相同的DIE叠加在一起,所占据的空间为一个DIE所占据的空间,大大的节约了水平空间。对size要求严的产品是一个好的选择。size的减小同时也可以减低产品的成本。 叠加多层DIE时,Wire bonding完成后可直接贴装上一层DIE,而不需要增加一个隔层Spacer。缩短生产流程与降低外在因素影响,提高UPH。
9 C; h* p& l I/ H该方式可有效解决PACKAGE内包含多个DIE,而水平空间又受到约束的情况。随着器件小型化程度加快,此方式的应用也将普及。
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