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导致元件失效的重要因素之一温度

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    2020-9-2 15:07
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    [LV.2]偶尔看看I

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    发表于 2020-8-20 14:01 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    x
    本帖最后由 Zjianeng 于 2020-8-20 14:03 编辑 1 w! Y& @/ i6 `# J8 |0 _2 f, E

    5 p. x, C$ V) a" \3 D$ e' H1 F
    “这天气真的太热了,家里的空调都罢工了.叫来修空调师傅一查,竟然是电容器被烫坏了,幸亏没有发生爆炸。”网友在朋友圈里发了一 条微信,并附上一张像两个一号电池大的电容器图片,该电容器的头部原本是扁平的,如今已经高高涨起。这位网友说,因为空调连续工作,再加上空调外机被烈日 灼晒,电容器不堪高温造成的。

    ' y& o2 }/ r) q$ `; V" F
     这位网友的微信一发,顿时引来众多网友附和:如今,全国各地开启高温“烧烤”模式已经一段时间,被高温害惨的事情可以说数不胜数。

    " L& }. b( A2 R. V
      1.温度变化对半导体器件的影响

    4 d1 @, p" e" r3 F
      构成双极型半导体器件的基本单元P-N结对温度的变化很敏感,当P-N结反向偏置时,由少数载流子形成的反向漏电流受温度的变化影响,其关系为:
    / \4 F6 \) k4 M% V4 p
            

    4 ?3 S- N( ~2 [* }4 j* O0 M. l9 I- l' ~
      式中:ICQ―――温度T0C时的反向漏电流
    ' G7 V$ t* e6 r5 x
      ICQR――温度TR℃时的反向漏电流
    6 y8 T. }" [3 K9 O
      T-TR――温度变化的绝对值
    ( ?7 i3 f8 x+ d* A
      由上式可以看出,温度每升高10℃,ICQ将增加一倍。这将造成晶体管放大器的工作点发生漂移、晶体管电流放大系数发生变化、特性曲线发生变化,动态范围变小。

    ( S0 t; w- j( a! z, P
      温度与允许功耗的关系如下:

    1 U2 j6 j$ C9 P! G+ D
          

    ) u2 t  N' F& p- O
      式中:PCM―――最大允许功耗
    - s. \! e8 a: Z5 ?
      TjM―――最高允许结温
    6 ^( R) t7 X- b. {
      T――――使用环境温度

    : S% t% q) N5 |1 w
      RT―――热阻
    # R" ]: g, r% s$ b3 T$ P, a& h( I
      由上式可以看出,温度的升高将使晶体管的最大允许功耗下降。

    / i# ~6 g7 m3 X( W  F
      由于P-N结的正向压降受温度的影响较大,所以用P-N为基本单元构成的双极型半导体逻辑元件(TTL、HTL等集成电路)的电压传输特性和抗 干扰度也与温度有密切的关系。当温度升高时,P-N结的正向压降减小,其开门和关门电平都将减小,这就使得元件的低电平抗干扰电压容限随温度的升高而变 小;高电平抗干扰电压容限随温度的升高而增大,造成输出电平偏移、波形失真、稳态失调,甚至热击穿。
    7 E) \! h1 t6 W) D

    9 l( y! o; z  c* Q
      2.温度变化对电阻的影响
    1 u: ?5 b' D3 w" B7 v
     温度变化对电阻的影响主要是温度升高时,电阻的热噪声增加,阻值偏离标称值,允许耗散概率下降等。比如,RXT系列的碳膜电阻在温度升高到100℃时,允许的耗散概率仅为标称值的20%。
    # f6 G$ O* u& R. k- Z- u2 D5 L" X
      但我们也可以利用电阻的这一特性,比如,有经过特殊设计的一类电阻:PTC(正温度系数热敏电阻)和NTC(负温度系数热敏电阻),它们的阻值受温度的影响很大。
    7 z! c5 u* q/ r1 b8 i
      对于PTC,当其温度升高到某一阈值时,其电阻值会急剧增大。利用这一特性,可将其用在电路板的过流保护电路中,当由于某种故障造成通过它的电 流增加到其阈值电流后,PTC的温度急剧升高,同时,其电阻值变大,限制通过它的电流,达到对电路的保护。而故障排除后,通过它的电流减小,PTC的温度 恢复正常,同时,其电阻值也恢复到其正常值。

    # S& }  c4 Q4 V2 W, D
      对于NTC,它的特点是其电阻值随温度的升高而减小。
    ' C$ S% x1 `% c
      3.温度变化对电容的影响
    # p6 f% H1 z& u# t" D1 ?. |
      温度变化将引起电容的到介质损耗变化,从而影响其使用寿命。温度每升高10℃时,电容器的寿命就降低50%,同时还引起阻容时间常数变化,甚至发生因介质损耗过大而热击穿的情况。
    ! `" c7 O" F. O/ Q* I* ~, {  e: f1 V
      此外,温度升高也将使电感线圈、变压器、扼流圈等的绝缘性能下降。

    * @( \0 W8 Q; {  s( ]& J
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    2020-8-28 15:16
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    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2020-8-20 14:52 | 只看该作者
    温度对电子元件影响很大 ,像车间里面都是有温度规定的
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