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莱迪思半导体公司宣布推出其全新的LatticeXP器件。LatticeXP将低成本的FPGA结构和非易失、可无限重构的ispXP(eXpanded Programmability:拓展了的可编程性)技术结合起来,能实现瞬时上电和单芯片应用,还具备出色的安全性。
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/ Z! F9 C' E/ G- z1 X+ ] LatticeXP提供了一种用于替代基于SRAM的FPGA和与之相关的引导存储器的低成本选择方案。由于新的LatticeXP器件采用了先进的130nm闪存硅处理工艺、优化的器件结构和专有的电路设计,其芯片尺寸比莱迪思过去的非易失FPGA降低了80%以上。现在,批10K LUT的LatticeXP10器件样片已经上市,该系列的其余四个器件预计将于今年第二季度推出。' [" n9 s# W& O# i( Y+ v3 e* `
) D; u x9 @# B# d. w7 A LatticeXP器件采用ispXP技术,该技术将SRAM和非易失的闪存结合起来,使FPGA同时具备了非易失性和无限可重构性。“用户告诉过我们,非易失的可无限重构的FPGA,连同其瞬时上电的操作性能和安全的单芯片解决方案,代表了FPGA世界的‘希望之乡’,” 莱迪思公司负责市场的副总裁Stan Kopec先生说,“有了这样一种FPGA,用户就可以同时获得两个领域里的东西:SRAM的无限可重构性和非易失性的众多优点。”与传统的基于SRAM的FPGA不同,LatticeXP器件不需要外接引导存储器,所以能提供单芯片的解决方案,从而减少了电路板面积,并简化了系统制造过程。
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由于没有外接的引导器件,启动时无需外部编程信号流(bit-stream),而窥探外部编程信号流正是SRAM FPGA的主要安全隐患。LatticeXP还禁止从器件的SRAM和闪存部分回读编程信号流,进一步提高了器件的安全性。1 r5 i& Z' f( Y" y# Y/ p
LatticeXP以易于综合的工业标准四输入查找表(LUT)逻辑块为基础结构。只有25%的逻辑块包含分布式内存,这一优化既满足
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# g" E/ ]% Y2 o! P$ y9 r了大多数用户对少量分布式内存的需求,又降低了成本。由于器件拥有sysCLOCK 锁相环(PLL)和内嵌模块RAM(EBR),用 R/ ^, l& r5 H7 _2 s" K& ?+ w0 l
; G$ o# Q6 U6 i: z: L- n9 w户可将这些功能集成在FPGA中,无需采用离散元器件,进一步降低了成本。先进的sysI/O 缓冲器支持LVCMOS、LVDS、LVTTL
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、PCI以及SSTL和HSTL等标准,便于轻松高效地连接业界的总线标准。LatticeXP器件中还有专门用来简化DDR存储器接口
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的电路,为这类FPGA提供高性能、一体化、信号完整性和易于设计的特性。LatticeXP 器件是由节省成本的低介电系数(low-k
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" T5 T1 O, Q) O Y4 I7 A)、130nmCMOS闪存处理工艺 实现的,采用了镀铜法。该工艺由富士通有限公司和莱迪思半导体公司共同研发。晶片在富士通
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公司的晶片制造厂生产。LatticeXP器件支持1.2V、1.8V、2.5V和3.3V的供电电压,有5种密度可供选择,密度范围3K~204 s) p# v$ u- O: N
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