半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法

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半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法

师小琳1，段哲民1，师义民2

（1. 西北工业大学电子工程系，陕西西安 710072；2. 西北工业大学应用数学系，陕西 西安 710072）

摘要:为了提高机载开关电源中半导体器件并联系统可靠性评估的准确性，运用经验Bayes法和经典的统计方法，研究了该系统的可靠性评估问题。分别给出了系统可靠性指标的经验Bayes估计，极大似然估计。利用Monte-Carlo方法，对两种估计结果进行了比较，结果表明，经验Bayes估计的最大绝对误差为0.07，它小于极大似然估计的最大绝对误差0.368。

关键词:半导体器件并联系统；可靠性评估；经验Bayes方法

中图分类号: O213.2 文献标识码:A 文章编号:1001-2028（2004）07-0048-03

Empirical Bayes Method of Reliability Evaluation for

Semiconductor Parallel System

SHI Xiao-lin1, DUAN Zhe-min1, SHI Yi-min2
+ B$ {, v, a$ M8 n* ~* z$ H

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为了提高机载开关电源中半导体器件并联系统可靠性评估的准确性，运用经验Bayes法和经典的统计方法，研究了该系统的可靠性评估问题。