使用示波器测量DDR3信号时应该注意什么？如何处理探头的负载效应？

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一、
之前一直在做一些嵌入式板子，所涉及的接口，像SPI、UART，速率多在50Mhz以内，之前开发时候，是直接用无源探头和350MHZ示波器，通过接地环测试，可以很好反映信号本来的面貌。如今打算进一步往前发展，做SOC的硬件开发，不可避免地要接触到，DDR内存，并且在PCB设计中有阻抗要求、等长要求；
假如我想直接测试目标板子上的DDR内存信号（非间接），DDR时钟和数据，或者数据和数据，两两之间的时序关系，以及波形质量时，需要注意些什么？  这么高的速率，探头的负载效应应该影响很严重吧？    可以照抄之前的方法，换一个高带宽示波器，还是无源探头，就近找接地点，然后用接地环测试？
' R) p0 s$ z6 d% ?3 S现在行业内，一般采用什么样的测量方案？
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这个问题疑惑了很久，望各位慷慨赐教。

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二、
通过电巢课堂，毛忠宇老师的"常见Topology介绍与仿真"，的学习。
给我启发，想到这么一些思路：
①像DDR3的时钟信号的波形、地址信号、数据信号，当只有一片DDR3内存时，可以在终端电阻的地方，先摘掉终端电阻，然后再通过50Ω同轴电缆接示波器；（这里有一个问题，同轴电缆怎么接到板子上，直接焊上去？）
有一些内存是内部端接，那好像就用不了这个办法

9 V. C( O* |* F②像测量两两数据信号、两两地址信号的同步性时，当只有一片DDR3内存时，只要①是可行的，两个信号同时测，即可看出时序是否存在问题；
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briantseng

Tektronix/Keysight都有對應的探棒/轉接板
1 v* K% H' _/ o" p, X7 vhttps://www.keysight.com/en/pc-1000000130%3Aepsg%3Apgr/microprocessor-and-bus-support?nid=-536902512.0.00&cc=US&lc=eng
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briantseng 发表于 2020-4-10 13:51
Tektronix/Keysight都有對應的探棒/轉接板
https://www.keysight.com/en/pc-1000000130%3Aepsg%3Apgr/micr ...

* h+ w, X1 a1 `* d6 Q# w( E感谢，好像很少看到有人使用。