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在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?

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1#
发表于 2020-4-9 10:23 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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你好," N; A3 c) j$ B9 B+ o; b
我目前正在研究一个项目,我需要在两个替代设计选项之间做出决定,我必须考虑可靠性分析。(我不需要担心我的设计中的软错误效应)" i) U: b. K, R9 B' Y3 v  q
根据我的研究,我发现FIT值是FPGA可靠性的基本标准。' e* i5 K) m) @& ?( N4 m2 u) w9 W
在第一个设计中,我计划使用XC6SLX25T(Spartan6-0.045um-FIT:11)FPGA,另一个使用XC6VLX550T(Virtex6-0.040um-FIT:8)。5 s: p4 ^5 \! f1 {
当我看到“UG116 xilinx器件可靠性报告”时,我看到所有FPGA的FIT值都归类于工艺技术中,而Virtex6的FIT值明显低于Spartan6(约为34%)。
6 a% E, k; G( o% K" c+ h我好几天都在搜索这个话题,但我找不到确切的答案。8 ^( W7 \" m6 ]3 f* c9 @
为什么FIT率被归类为工艺技术?我观察到工艺技术和FIT值之间没有直接的相关性。
' V6 O: m, _) t; \为什么Virtex6与Spartan6相比具有更小的FIT值?3 C! i- D! M7 Y) |# @
为什么在相同的工艺技术FPGA之间的芯片尺寸或栅极数量没有区别% U( q! Y; O) s  k& C
在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?& b5 v% H! m1 x4 Q0 ]5 h+ f& A% l  r

该用户从未签到

2#
发表于 2020-4-9 11:30 | 只看该作者
由于已发布的硬故障率基于实际数据(故障),因此它就是这样。& o% @& b% ?9 S; u0 o; g% r
在特定技术节点上创建设备所需的一切复杂性几乎是无穷无尽的。* V. Z1 K4 E0 Z) W
因此,一个部件的一个故障容易改变数量。$ V3 z3 p2 P3 U
此外,此数据的置信区间为60%,这意味着真实或实际的故障率很容易变为表中的一半或两倍。7 N& L6 T( X. b. {" `, L
这不应该是选择哪个家庭的考虑因素(它们都是如此之低以至于完全等同)。
4 V" `! `7 r5 _即使您正在构建数百万个单元,也几乎不可能看到您选择的硬故障率有任何差异。4 l4 M4 }3 _- Q( Z# `
当然,你如何使用该部件将完全控制你的现场失败率(例如,炎热的环境总是导致比温带环境更多的失败)。
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