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随着现代电子技术的飞速发展,PCBA也向着高密度高可靠性方面发展。虽然现阶段PCB和PCBA制造工艺水平有很大的提升,常规PCB阻焊工艺不会对产品可制造性造成致命的影响。但是对于器件引脚间距非常小的器件,由于PCB助焊焊盘设计和PCB阻焊焊盘设计不合理,将会提升SMT焊接工艺难度,增加PCBA表面贴装加工质量风险。9 K( O1 J4 J3 y# j/ e h s1 \$ `% A% t( }8 X
6 g! T0 f: r( L3 m% ?. g鉴于这种PCB助焊和阻焊焊盘设计的不合理带来的可制造性和可靠性隐患问题,结合PCB和PCBA实际工艺水平,可通过器件封装优化设计规避可制造性问题。优化设计主要从二方面着手,其一,PCB LAYOUT优化设计;其二,PCB工程优化设计。6 z5 i0 Y3 s3 S. u' H$ c
PCB LAYOUT设计: b4 D) x) v# r" H4 B: R6 [+ g: j$ n* ^+ e! a0 v
依据IPC 7351标准封装库并参考器件规格书推荐的焊盘尺寸进行封装设计。为了快速设计,Layout工程师优先按照推荐的焊盘尺寸上进行加大修正设计,PCB助焊焊盘设计长宽均加大0.1mm,阻焊焊盘也在助焊焊盘基础上长宽各加大0.1mm。如图一所示:# A- a0 F( U$ [, k+ Q/ E/ b k. Z: w% I7 B& O* ~
?" n% z( |1 k Z O) z
& V& Y) {* Z0 t$ D(图二)
/ f+ L$ z( T) m/ ZPCB LAYOUT设计要求
, a4 b: F4 V4 Q- P8 O$ Y当两个助焊焊盘边沿间距大于0.2mm以上的焊盘,按照常规焊盘对封装进行设计;当两个助焊焊盘边沿间距小于0.2mm时,则需要进行DFM优化设计,DFM优化设计方法有助焊和阻焊焊盘尺寸优化。确保PCB制造时,阻焊工序的阻焊剂能够形成最小阻焊桥隔离焊盘。如图三所示: \. T5 K- \" T1 q9 [, `/ F$ ~5 d! c- o q* V/ A
Z. _+ e8 k/ H1 I# {- g0 C8 @+ U5 F+ X" W3 s" t
(图四); G- [7 R8 G5 v5 z! ^) \8 h* M `9 t- [
PCB LAYOUT实际设计0 H& v% t' b2 b! s- F& n. k
( L- T+ j) p$ j: U如下图五,助焊焊盘尺寸0.8*0.5mm,阻焊焊盘尺寸0.9*0.6mm,器件焊盘中心间距0.65mm,助焊边沿间距0.15mm,阻焊边沿间距0.05mm,单边阻焊宽度增加0.05mm。, `( r: k1 T/ \9 h. Y
- ], b7 j! P t$ y2 {! i* @(图六) R/ o, ]6 q g, n( {% I" @# I( z5 u! `) j: _8 y' b% i" s5 q) r' P
实际焊接效果( ~9 S) }/ ]# \, w0 l; h" m: t( K, z' w7 \
按照工程设计要求后制板,并完成SMT贴片。通过功能测试验证,该芯片焊接不良率在50%以上;再次通过温度循环实验后,还可以筛选出5%以上不良率。首选对器件进行外观分析(20倍放大镜),发现芯片相邻引脚之间有锡渣及焊接后的残留物;其次对失效的产品进行分析,发现失效芯片引脚短路烧毁。如图七所示:
( W8 s9 G& U9 o# W" Y
4 p. c+ w6 E( f) b(图七)7 P' H& w( h) h/ t' o
优化方案
* ? g4 v K8 B& S5 }* mPCB LAYOUT设计优化
# i# O U+ m, u. i/ g5 |参考IPC 7351标准封装库,助焊焊盘设计为1.2mm*0.3mm,阻焊焊盘设计1.3*0.4mm,相邻焊盘中心间距0.65mm保持不变。通过以上设计,单边阻焊0.05mm的尺寸满足PCB加工工艺要求,相邻阻焊边沿间距0.25mm尺寸满足阻焊桥工艺,加大阻焊桥的冗余设计可以大大降低焊接质量风险,从而提高产品的可靠性。9 O0 _+ `6 I5 z7 h" y8 v. i1 n: N
; z' y" t# Y4 j- c6 p5 [
1 Z$ k( g+ u A! V9 w7 A6 V(图九). J( y, S4 L2 F( Z" y4 ]1 H+ c( O% H" Z1 Q& ]. r' G3 V0 @7 ^: _
设计验证3 q! z6 c! K' Z" {9 ~- @4 l/ H/ u& s* B: F' a7 f$ v
针对上述所提的问题焊盘,通过以上方案优化焊盘和阻焊设计,相邻焊盘边沿间距大于0.2mm,阻焊焊盘边沿间距大于0.1mm,该尺寸可满足阻焊桥制程需求。如图十所示:1 }4 z' u$ a" f) r
" S! P. O) U! n, M* Z(表一)
, b: G8 z! t q. p# S. y4 x5 N通过以上数据可得,优化方案验证有效,满足产品可制造性设计。" l) s0 H0 L/ }
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