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8 U# L% a0 z7 D. j Accelerate Aging ——加速老化,使用人工的方法,加速正常的老化过程。 1 Q: @1 @- x6 A. p
Acceptance Quality Level(AQL) —— 一批产品中最大可以接受的缺陷数目,通常用于抽样计划。 . ~8 d+ U; T7 T* o% r
Acceptance Test ——用来测定产品可以接受的试验,由客户与供应商之间决定。 0 k3 d0 t+ @3 J! k' V7 d+ n0 f
Access Hole ——在多层线路板连续层上的一系列孔,这些孔的中心在同一个位置,而且通到线路板的一个表面。 0 j( o' Y3 @& g
Annular Ring ——是指保围孔周围的导体部分。
. A9 J5 g5 A. B Artwork ——用于生产 “ArtworkMaster”“production Master”,有精确比例的菲林。 * T( b9 U) ^2 Y. K3 q
Artwork Master ——通常是有精确比例的菲林,其按1:1的图案用于生产 “Production Master”。 3 {- T- M$ N! V3 W0 E1 u: g6 l3 p
B
( h5 }4 z; q: S. O) c! T Back Light ——背光法,是一种检查通孔铜壁完好与否得放大目检方法,其做法是将孔壁外的基材自某一方向上小心的予以磨薄,再利用树脂半透明的原理,从背后射入光线。假如化学铜孔壁品质完好而无任何破洞或针孔时,则该铜层必能阻绝光线而在显微中呈现黑暗,一旦铜壁有破洞时,则必有光点出现而被观察到,并可放大摄影存证,称为背光法,但只能看到半个孔。
% O( i0 |8 {" }8 _ L! j/ c Base Material ——绝缘材料,线路在上面形成。(可以是刚性或柔性,或两者综合。它可以是不导电的或绝缘的金属板。)。
' E$ ^5 q @( @+ ?$ i7 Q( T! q5 V" @ Base Material thickness ——不包括铜箔层或镀层的基材的厚度。 * B/ H9 u: m4 y9 W
Bland Via ——导通孔仅延伸到线路板的一个表面。
/ i. H. _# j5 j+ B% i# } Blister ——离层的一种形式,它是在基材的两层之间或基材与铜箔之间或保护层之间局部的隆起。
( o+ V! C! T" _& v Board thickness 是——指包括基材和所有在上面形成导电层在内的总厚度。 }% o& _7 Y; F: o7 N) ~
Bonding Layer ——结合层,指多层板之胶片层 。 |