各类失效机理的归纳讲解与相应案例分析

TheWorld

1、失效分析全过程案例
) ^( B; S- j) R; J; j# n! ]
A、失效信息收集与分析            

; A. z; h' h( x5 B' u% xB、思路分析

# x# S6 s; e% M5 |C、过程方法                     
8 H8 ^! t3 t: x1 Z. `9 F* R
D、逻辑推导
/ k/ P8 t2 T* _  E
+ y& t# g. C  L8 o5 A1 H! Y1 w1 z; [E、试验手段                       

, h  r: \  L( l6 rF、综合分析

G、结论与建议
* P) q+ N) n0 I. ]8 e
- ?' E' }5 @3 O+ {) [7 J  b2 V2、静电放电失效机理讲解与案例分析
2 D" p- a( v  J! l) H4 ?
A、静电损伤的原理               
+ w! V' `$ m( T4 `
) P& O" g# p5 X7 _B、静电损伤的三种模型讲解
# k. k) [" L& V
C、静电损伤的途径               

6 s/ J2 [( ]& Z# K* e( ^8 rD、静电放电的失效模式

E、静电放电的失效机理           

# [: O% p2 n- F* _* sF、静电损害的特点

% h' U4 ]( k& OG、静电损伤的案例（比较器、单片机、微波器件、发光管、功率管）

3、闩锁失效机理讲解与案例分析
  L- j1 g) Q" T# n: q+ z7 G
A、闩锁损坏器件的原理           
! y. P0 N/ P8 r+ [6 p4 \% u& b
' q- v1 v0 A. C: H/ jB、闩锁损坏器件的特征

C、闩锁损坏器件的案例（开关器件、驱动器件等）
/ T1 V! h1 o# ^; h6 y2 \$ v8 o5 ]
' w. o+ o4 I7 ]2 dD、闩锁与端口短路的比较         

E、CMOS电路引起闩锁的外部条件

7 @; A& T' j8 _) W, U5 yF、静电与闩锁的保护设计

4、过电失效类失效机理讲解与案例分析

A、过电的类型及特点（浪涌、过电压、过电流、过功率等）
/ H' m& i. ~! n( h* G
) ]7 G$ q$ |4 }% Y$ U7 J4 O( o" r# bB、对应不同类型的过电的失效案例

5、机械应力类失效机理讲解与案例分析

A、机械应力常见的损伤类型

6、热变应力类失效机理讲解与案例分析

; I% N+ X* u* }" P' I8 M, D4 nA、热变应力损伤的类型和特征

7、结构缺陷类失效机理讲解与案例分析
  y  N  _- d& b9 g! R
A、热结构缺陷的类型和特征         
- y7 P9 \# t7 o6 t
B、发现缺陷的技术手段
: e% a, v1 {$ }
8、材料缺陷类失效机理讲解与案例分析

" d: N+ g$ G2 |- G0 b! a0 Q, TA、绕线材料缺陷                  

B、钝化材料缺陷

. |1 D" g2 f% R: `& n5 N# k  CC、引线材料缺陷                  
1 B* b6 {4 i8 G
( u9 v3 j" K4 L% AD、簧片材料缺陷

9、工艺缺陷类失效机理讲解与案例分析

A、工艺缺陷的类型和主要特征，发现手段
$ e; A; P# l& I/ W; A- `
/ D' _( i6 h. ^10、应用设计缺陷类失效机理讲解与案例分析
- w# i( q- s3 {" W  ]$ o
11、污染腐蚀类失效机理讲解与案例分析

' h$ ^; I( q. H& e4 U+ LA、污染的来源与类型，腐蚀的主要原理
4 |* j2 d7 b% f) S5 }& k
12、元器件固有机理类失效机理讲解与案例分析
5 \* R- e% M/ m8 a
* E6 [- @, {4 j! [. u: pA、不同类型的元器件固有失效机理的归纳
& C6 \* n0 R% M& E" m- B2 o, j7 U
# L, {+ Y" `' u3 l, p) _5 ~13、面目全非的样品的分析
' L* R$ D, A4 E! T8 ?; f
5 b% x6 C+ z4 |$ E4 X+ R8 `

IC老和尚

没有一些具体的