各类失效机理的归纳讲解与相应案例分析

TheWorld

1、失效分析全过程案例
2 ?6 Y) B3 W$ @6 `( G$ k
. n: _8 a) |8 b3 G+ F8 SA、失效信息收集与分析            
. \1 X# m) p$ Z* v, H6 v
3 z- z# o' C, Y+ k: {B、思路分析
% C# A; s, b9 x- L  f
C、过程方法                     

D、逻辑推导

$ _0 A: {( Y+ \E、试验手段                       
: H3 k% l+ W/ A+ J
F、综合分析
& j, s0 D: T& P0 P' W1 J& E
5 W7 s2 z9 j' p: p0 FG、结论与建议

0 R) ^% ^' Z: ]7 o2 g2、静电放电失效机理讲解与案例分析
2 z5 d5 E- J/ b8 ?5 G1 k0 B
A、静电损伤的原理               

6 \) a$ o( c+ K4 U( ]B、静电损伤的三种模型讲解
3 {4 Z* l! O5 j8 w5 w" q, ]
C、静电损伤的途径               
6 ?2 Y' B% R& O8 L. b- E
5 [# k- {- @/ H+ eD、静电放电的失效模式

. N/ W) I, S, ~) B9 H6 R9 eE、静电放电的失效机理           

5 D2 Z2 {4 @  U8 x8 G4 Q# d" KF、静电损害的特点

G、静电损伤的案例（比较器、单片机、微波器件、发光管、功率管）
& b" u1 x( A: w- j
, V' h" ^, U1 J3、闩锁失效机理讲解与案例分析

) Y1 m( w. b2 r( F4 S- wA、闩锁损坏器件的原理           
0 z* E' _3 b  J3 ^9 S/ l
B、闩锁损坏器件的特征
* s  `) X7 z8 B  a% y1 G0 B
. R2 T3 Q, Q& F! i" ~C、闩锁损坏器件的案例（开关器件、驱动器件等）
' x3 G6 o7 o5 _
- U: L% n" t7 t# G0 C8 ^1 yD、闩锁与端口短路的比较         
% |* p/ B) u; w% X3 O& x  I
E、CMOS电路引起闩锁的外部条件

. S+ N7 Z  \' [; Z" |% BF、静电与闩锁的保护设计
$ t+ ~7 g5 x6 D8 h5 l
; G" X( g5 M+ l! U; j; n& A3 Y4、过电失效类失效机理讲解与案例分析
) z+ y/ G, p# d4 l- ^& @
A、过电的类型及特点（浪涌、过电压、过电流、过功率等）

. p9 P9 p8 B4 I7 k+ Y5 ^5 mB、对应不同类型的过电的失效案例
! e: Q8 B& N0 y% F0 h/ `! w
8 k7 w3 @# ]# Y( x: J5、机械应力类失效机理讲解与案例分析

A、机械应力常见的损伤类型

6、热变应力类失效机理讲解与案例分析

$ e) `, g! F" C* i# R5 AA、热变应力损伤的类型和特征
1 t, K9 f0 g, H& K
7、结构缺陷类失效机理讲解与案例分析
. d. O# i' T3 x# x; R9 R6 ?
A、热结构缺陷的类型和特征         

- g7 @) e4 P, T6 M2 h' K+ q5 e0 C8 }B、发现缺陷的技术手段
( S; Q+ V, t8 l% s6 X
3 ]% ]$ Y& k6 Q# d' w/ U8、材料缺陷类失效机理讲解与案例分析
: X1 U  S- W, N
A、绕线材料缺陷                  
) y$ F: ~3 k9 J) O
B、钝化材料缺陷
/ ]1 ?0 G1 ?/ W) j
C、引线材料缺陷                  
3 l, P6 R! h, y) s8 `3 i
, k* _/ u2 _! W6 q: o0 dD、簧片材料缺陷
$ w+ ]3 i6 U2 m+ A
4 ?' w8 A- O/ L! _9 K1 [9、工艺缺陷类失效机理讲解与案例分析

& W) ?4 o- g# c' L2 @A、工艺缺陷的类型和主要特征，发现手段

+ Y# t1 B6 n9 o& j10、应用设计缺陷类失效机理讲解与案例分析
1 l, U% Y* q8 z3 H
11、污染腐蚀类失效机理讲解与案例分析
, Q9 m. X( Z- S0 E! G
+ V) W4 Z# l; NA、污染的来源与类型，腐蚀的主要原理

12、元器件固有机理类失效机理讲解与案例分析
8 t# r/ ^8 z) l# a: _
A、不同类型的元器件固有失效机理的归纳
5 V" N  Z4 T1 r0 ~. Y. |# r
13、面目全非的样品的分析



0 D/ ?; h# p+ L

IC老和尚

没有一些具体的