各类失效机理的归纳讲解与相应案例分析

TheWorld

1、失效分析全过程案例

8 B: F( W* [& S$ NA、失效信息收集与分析            

B、思路分析
3 A% T4 j* |- \' B& e) j4 n
C、过程方法                     
  A  z- p4 i1 J3 b
D、逻辑推导
% a( T& l8 E# p; X) D
/ l( z0 R" F2 N! EE、试验手段                       
; r% X4 ^5 M- J: n2 r
F、综合分析
6 e2 ^- e: f6 `4 E
G、结论与建议

2、静电放电失效机理讲解与案例分析

4 j: F' |. b0 M! bA、静电损伤的原理               

) G1 I* L# U2 z+ HB、静电损伤的三种模型讲解
! h) M4 u" |( O! q2 O
C、静电损伤的途径               

& G, M8 |% y; @& |! B/ JD、静电放电的失效模式
& o! d% v. C, R: i9 `6 x
3 `, e, B# q1 F. ~! d' E% K6 A+ GE、静电放电的失效机理           

F、静电损害的特点
; c( o$ D7 D' x6 r5 g4 J; T0 t3 S
G、静电损伤的案例（比较器、单片机、微波器件、发光管、功率管）
4 n1 i4 V% I; A0 k$ m+ s* h
3、闩锁失效机理讲解与案例分析

2 V9 n: T! f! M. A8 n2 Q! ?A、闩锁损坏器件的原理           
, f7 B" _7 _! f3 [" g
/ e# C7 i9 F- w) j7 W( N% VB、闩锁损坏器件的特征

0 r* y: j, X9 t9 C3 c0 o  v4 @C、闩锁损坏器件的案例（开关器件、驱动器件等）
+ m0 ~3 F) ^0 _% T( S
4 g9 ]2 k4 D7 p7 L; LD、闩锁与端口短路的比较         

E、CMOS电路引起闩锁的外部条件
* [1 Z4 o& V% {! _8 y* G
F、静电与闩锁的保护设计

4、过电失效类失效机理讲解与案例分析

1 @4 b0 z- f6 ]# W8 EA、过电的类型及特点（浪涌、过电压、过电流、过功率等）

B、对应不同类型的过电的失效案例

5、机械应力类失效机理讲解与案例分析

% u3 n7 T0 a% r: I: q; M9 j7 hA、机械应力常见的损伤类型
% E0 [* y3 \: W1 V/ J' W& o
6、热变应力类失效机理讲解与案例分析
! {. L5 ^' V: E7 `( g
8 P" ~1 [$ d, M, N8 V: bA、热变应力损伤的类型和特征

7、结构缺陷类失效机理讲解与案例分析
6 a6 z5 I1 n4 ]
A、热结构缺陷的类型和特征         
* H& ^" e7 |8 [# o$ P
9 v: L- e7 G+ |$ q$ `0 F4 N4 SB、发现缺陷的技术手段

8 C3 H& j3 j5 _8 Q8、材料缺陷类失效机理讲解与案例分析

( p& l3 G; l9 c* B+ B. uA、绕线材料缺陷                  

& u( l2 ?  A/ T/ ^9 fB、钝化材料缺陷
- s1 @- M- x4 {) e
C、引线材料缺陷                  

D、簧片材料缺陷
+ e* |' W1 [+ E  t
9、工艺缺陷类失效机理讲解与案例分析

2 L& l' e; A, M( z% NA、工艺缺陷的类型和主要特征，发现手段
8 y- F0 L$ p1 ]
10、应用设计缺陷类失效机理讲解与案例分析
) ^% _& W4 U7 |
11、污染腐蚀类失效机理讲解与案例分析
) H) r# r: \# }: J
A、污染的来源与类型，腐蚀的主要原理
$ U& n' D* A# c/ C, H6 z. Z
" P) R7 x* x8 x" {9 `9 F12、元器件固有机理类失效机理讲解与案例分析

5 Y8 L  @/ Y& xA、不同类型的元器件固有失效机理的归纳
& X' e8 \; t& l3 ~7 s2 i
7 L; ^& P2 J! h  d/ @13、面目全非的样品的分析
3 o, b% R4 H5 n! t& ~1 `, d' z


6 P1 v9 N5 r: @5 H

IC老和尚

没有一些具体的