找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 516|回复: 1
打印 上一主题 下一主题

失效分析(一)

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
发表于 2020-3-9 15:02 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
失效分析  x2 e2 h7 G2 l0 S( M
失效分析的总章与目录。* R7 m; k: U$ m

" V5 O! w& V5 {6 h8 G失效分析基础
; ?4 `& ^5 Q5 @+ }4 [9 j. }* T( l) tl 可靠性工作的目的,失效分析的理论基础、工作思路4 G: I( m  d% W/ p

5 [8 V8 e7 A1 f; Ql 术语定义与解释:失效、缺陷、失效分析、失效模式、失效机理、应力……
7 d: D! t5 t* E, `! i( f' Y, j$ E, X  y
l 失效分析的问题来源、入手点、输出物、相关标准+ v9 ^3 w2 z0 V; N

( J2 V3 m: k: X失效分析技术方法
3 l' ~; w* O) s& ]7 T! rA、失效分析的原则, ^9 n: ~( Y+ J  J! t- T

( n# J; c0 ]- ~: y" fB、失效分析程序
$ ~, h5 J/ E( r( A$ ^3 U0 S: a5 M7 h% d' J
l 完整的故障处理流程
- c9 o- C9 B( f! E- E) C) d' x- y9 E2 j6 y. U8 m8 B) R
l 整机和板级故障分析技术程序2 S3 b9 L3 T" s8 n% X! L4 Y' W

! \5 N1 Z! F* yl 元器件级失效分析技术程序(工作过程和具体的方法手段介绍)
  q& J5 K4 Y2 |. v! H
% l; A' o& S2 _% {4 a, I. nC、失效信息收集的方法与具体工作内容
( [5 `( R4 B, ?* M
: g5 u) d  q3 J: P7 X$ Ol 如何确定失效信息收集的关注点
. E. S) d& d! N) }
4 U/ }+ {+ b  Q. h* Gl 样品信息需要包括的内容7 a1 d9 T, R7 s$ A) ?' Q  @
9 M5 {  H- T9 C; m" y( Q2 ^
l 失效现场外部信息的内容! A9 `; V- O- H# Z. R

; F" {  i6 D; W% |" @: \, Il 信息收集表格示例
1 g/ B# `% d$ G0 v1 p8 k& G6 F! m5 \4 g& Q
l 信息收集为后面技术分析工作贡献的示例6 _! e5 ^' V: x& z
D、外观检查
$ W8 ~/ S1 h- {; S  w3 w% L/ X' [7 T
l 外观检查应该关注的哪些方面* I( m3 _6 }+ G& {

, d' I& h1 h0 s  c3 o7 M. Cl 外观检查发现问题示例% K2 g0 x  f9 ?4 M. ^8 a7 j/ W
4 o/ l# a' J; u% y
l 外观检查的仪器设备工具
9 e  G2 V2 S; \9 W; XE、电学测试
4 p3 `. P( _% f1 I
6 y. Z/ m7 b) N8 V2 |l 如何用电测验证失效模式和预判失效机理2 x$ h$ R- S7 L
" [( c- Z7 Z% o2 ~$ ]
l 电测的具体方法
- y# _: ~3 O! n7 v
6 Z% N3 }) c5 D+ L; s+ [; ^) rl 几种典型电测结果的机理解析
- s' r0 g( e  w2 o" u' ~; R' D, {1 Z" |: \6 E; {, x9 M0 _
l 电测时复现间歇性失效现象的示例
4 h% Z: X2 Q- k" d: J) c+ V1 P$ Q1 T5 T+ G9 K  F- G9 ^
l 在电测中如何利用外部应力与失效机理的关联
; \+ V$ h' ]- E% k$ b0 Z8 x- Z4 U
( i' K  n7 d: s) S' H1 n, Y( I/ Yl 电测的常用仪器设备, c3 ?' N: `) r6 Q- G
F、X-RAY( H- e: y7 c, @9 b6 Z" G

. c0 m, q' l# p5 N7 P/ M& Yl X-RAY的工作原理与设备技术指标; J+ d3 N( t* G6 l4 ]) V
$ S+ W, {5 \7 v0 ?$ C; Z
l 不同材料的不透明度比较
$ ^/ r0 P, J$ s) N* W, S- x" \, R( E: k
l X-RAY的用途
  y" C. v: n" I5 B3 l
$ f* c2 e; \# ^5 ?9 K+ ?l X-RAY在失效分析中的示例" b9 |: g) Y9 A! N7 E( a# D

4 s0 v( Y$ u3 Jl X-RAY的优缺点
! E- s; z0 Y6 s" N) M7 x, p; Q. `. }6 A2 u# n
l X-RAY与C-SAM的比较
- B& M) l3 L! d% p. C5 G9 L4 ?5 z# a8 x: F
G、C-SAM* W& V. u  t/ K7 ~/ u; `
, U# _6 M) n8 d% W4 f9 G" G! K
l C-SAM的工作原理与设备技术指标  b! m- r0 I3 z8 h

% a7 D  {+ [1 L! cl C-SAM的特点与用途& n( Y; D! N# {) B% k; h7 u4 b* F

# L  F; L* ^' o* G4 v7 d; h/ El C-SAM、X-RAY在失效分析中联合应证的使用示例
7 _# ~) ~5 g2 _  E# a
( v3 G3 K& Z+ |+ x; `  Bl C-SAM的优缺点/ U" }) g" d2 N! D7 z! h( d) w
& Y- j: d! k  p. l; E( _# b

该用户从未签到

2#
发表于 2020-3-9 16:18 | 只看该作者
电测验证失效模式和预判失效机理很重要
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

GMT+8, 2025-7-20 14:45 , Processed in 0.125000 second(s), 23 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

快速回复 返回顶部 返回列表