找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 385|回复: 1
打印 上一主题 下一主题

[毕业设计] 单片机测控系统抗干扰设计

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
发表于 2020-3-3 13:57 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
摘要:针对测控系统恶劣、复杂的工作环境,分析了几类典型干扰即空问辐射干扰、信号通+ j) {4 C% l$ x3 X
道干扰、电源干扰以及数字电路引起的干扰的作用机制,阐述了干扰对单片机测控系统产生的不良" }, X8 Z/ _  s8 w: C6 \& _
影响,并结合实际给出了电源技术、接地技术、隔离、滤波、屏蔽等硬件方面的抗干扰措施,以及数( C$ h. a: M5 Q6 O) b' j, K, |7 x+ v
字信号的输入方法、数字信号的输出方法和CPU抗干扰技术等软件方面的抗干扰措施。$ q. \9 ]7 T! m2 M8 l
关键词:单片机;抗干扰;软件;硬件5 b, V& {* v3 v- l  C- I- @3 g3 S
+ Y$ U% _# N( a, M6 n' O' R

, c$ v* k! y2 j+ M8 t3 E
游客,如果您要查看本帖隐藏内容请回复

/ w  H- @! @# p( m
3 Q; u+ P6 r0 V, _3 ]9 j

该用户从未签到

2#
发表于 2020-3-3 17:27 | 只看该作者
单片机测控系统抗干扰设计
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

GMT+8, 2025-8-1 17:20 , Processed in 0.109375 second(s), 26 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

快速回复 返回顶部 返回列表