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摘要:针对测控系统恶劣、复杂的工作环境,分析了几类典型干扰即空问辐射干扰、信号通+ j) {4 C% l$ x3 X
道干扰、电源干扰以及数字电路引起的干扰的作用机制,阐述了干扰对单片机测控系统产生的不良" }, X8 Z/ _ s8 w: C6 \& _
影响,并结合实际给出了电源技术、接地技术、隔离、滤波、屏蔽等硬件方面的抗干扰措施,以及数( C$ h. a: M5 Q6 O) b' j, K, |7 x+ v
字信号的输入方法、数字信号的输出方法和CPU抗干扰技术等软件方面的抗干扰措施。$ q. \9 ]7 T! m2 M8 l
关键词:单片机;抗干扰;软件;硬件5 b, V& {* v3 v- l C- I- @3 g3 S
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