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发表于 2020-2-27 13:49 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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       失效分析是一个细致的活,需要你有多方面的知识,这个在我前一篇的博文中已经提到了,还需要非常的细心,不要放过被分析对象的在设计、生产、使用中的每一个细节,只有注意其中的每一个细节才能够更好的分析,同时要知道每一个细节的原理,也就是理论依据,并认识到理论依据的最高明之处,只有这样才能站在更高的位置分析问题,因为产品设计包括结构设计、电路设计、光路设计、工艺实现,但是所有这些的目的都是为了实现产品的功能、性能、技术指标。成功的设计需要实现如下几个方面的指标:首先是技术参数:预期的设计参数和最终产品鉴定实测的参数,鉴定参数优于设计参数越多越好,但是产品在设计的最初就应该考虑工艺难度、可维修性,否则这个产品只能算是一个方案,永远不能实现。工艺实现的难度:产品设计出来以后,最初肯定是样机,样机要实现量产,量产过程是需要很多的测试设备、工装、夹具(制具)、工艺流程,产品设计都是应该包括这些资料和资源的。产品的其他重要的设计包括:可靠性设计(容差设计(应该算是工艺设计的一部分,是可制造性设计的一部分,降额设计))、软件方面的健壮性设计(鲁棒设计(robust))、失效模式,因为这些设计都是相互包含,你中有我我中有你的,有时候他们是互为因果的关系。
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8 F1 M" }: o( [9 w3 J  h       以上介绍的这些都是产品设计实现的工作,但是大部分企业都是做到了技术参数和功能性能的设计实现,好的公司可能考虑到了容差设计和降额设计,但是很少有企业做好工艺性设计的,甚至有的企业、或者研发机构的设计人员对工艺实现根本就不理解,或者不知道,这会导致一些有趣的事情发生,比如某产品就是用于背板互联的模块,直接采用电口驱动芯片相互连接,但是工艺上却需要老化,导致很多的问题,这里就不一一细说了,而这个产品确实不需要这个工序。9 f8 ?3 D7 P* E, ]- {" o- \
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       还有就是光器件的耦合,大部分低速率的探测器的耦合采用的是一种光纤,能够保证产品很好的工艺性,但是在另一个生产车间生产时采用另一种光纤耦合,因此出现了产品可靠性的问题,和产品容差的问题,这个问题我在另一次失效分析中曾经提出了,但是没有往这方面思考,也就是犯了一个“大错”,没有将失效分析中强调的“重细节”这条发挥出来,因此导致某产品的成品率只有50%,差点导致我自己犯更大的错误,也就是打报告建议这个产品停产下马,但是经过理论分析发现可以用一种办法解决这个问题提,后来经过试验,产品的成品率提高到了90%,从这个问题和另一次的分析发现了另一个车间的制具有问题,也就是用了另一种光纤,因此才导致次问题的发生,现在虽然已经发现这个问题,但是还没有更改过来,采用这种工艺生产的器件用出去问题会很大,存在互换性和可靠性问题。但是已经有人拍板可以放行,我本人也就没有多说。但是大家心里都清楚风险有多大,但是前期也发了很多,已经不在乎这几千只了。/ ^- D5 W: i3 g  F9 O0 i
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    发表于 2020-2-27 16:28 | 只看该作者
    失效分析有感
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