失效分析之设计中存在的问题：ADF4360没用输出管脚的匹配处理

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一． 概述

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% v  G& x" Z9 B; m+ _二． 结论

& y. V& |+ u% l' ~芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁，为设计上的问题。

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# N4 x) }+ u6 O1 t三． 分析过程

2 y* i+ W) W0 O3.1 失效确认

  }3 [9 j: A3 B) [) }把器件换到正常的PLL板上测试发现PLL无法锁定，ADF4360输出频率不对，且输出相噪很差的信号。
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& M8 y! P! V7 J0 B8 M9 B把失效器件更换到评估板上测试，改变评估板软件的输出频率，ADF4360-7输出频率（423MHz）不变，且输出相噪很差的信号。测试ADF4360-7 Vturn电压只有几十mV。
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* Y& o& b2 }# \) g7 J7 ]3 @; z: g更改配置软件的Core Power Current(改小)电流及RF Output power（改小）能使输出恢复正常。
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6 V+ ?& R5 }- D, q3.2外观检查

1）外观检查，没有发现外观损坏情况。




2 g4 {4 m8 v8 i. x2 w2 D   3.3 X-Ray检查
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1）X-RAY检查无异常。

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3.4 管脚电阻测试
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管脚电阻测试正常芯片与失效芯片对比无异常。




3 C1 P5 M6 l% y+ t. A4 i3.5 管脚IV特性曲线测试
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& e( }; y+ r( w管脚IV特性曲线测试正常芯片与失效芯片对比无异常。

# x; E/ \  d- F! E& k; T0 P: ~3.6 DECAP

开封1 PCS失效样品与正常样品，开封观察芯片内部结构复杂，且表面覆盖了一层金属层，无法观察到异常
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! K. K4 B9 H' O! O; p7 w- A3.7后续补充
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后续ADI的亚洲区技术支持工程师专门来现场确认，现场更改了电路板及评估板的一些参数，包括更改环路滤波的参数，也没办法解决出现的杂散问题，带回了2PCS失效样品回去分析。

带回去的2 PCS失效样品他们确认是没有问题的，他们的工程师建议我们在没有用的RFoutB上加上一个50Ω的负载再测试看一下。
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排查我们内部的评估板及PLL板发现我司的评估板及PLL板RFoutB均悬空，对Vvco加51Ω电阻后失效的芯片均恢复正常。
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$ _* y3 {  \# h$ T8 a2 h2 X3 j查阅芯片手册发现芯片的RFoutA及RFoutB输出均为差分输出。

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RFoutB悬空，导致恒流源电流全部从RFoutA输出导致的三极管电流过大，产生杂散及失锁。从改小Core Power Current能使芯片输出恢复正常也能从侧面说明此问题。且芯片手册上也有要求没用的输出管脚必须要做匹配处理，具体请见芯片手册。

四． 结论
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芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁，为设计上的问题。

多言数穷

ADF4360没用输出管脚的匹配处理