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摘要:单片机抗干扰性能是单片机应用系统可靠性的重要指标 , 本文针对单片机应用系统中的干扰因素 , 结合工8 }4 P. \2 v$ w
作实际阐述了采取硬件、软件两种方法抗干扰的具体措施 -% n1 ?) c5 c# L; r
关键词 :单片机 . 硬件 . 软件 . 抗干扰
6 _5 \3 I- f' E& U, C# @9 A; M. U# N, {) ?: E S( Z0 M. `
引 言
6 a5 q& h+ J, c3 `随着单片机在工业控制领域中的应用越来越广泛 , 对
* @: d( r' e5 G( |( q( S( N6 W4 U其可靠性的要求也越来越高 - 单片机系统的可靠性是由多% N7 S8 f) M" W' N/ h Y
种因素决定的 , 其中系统抗干扰性能是可靠性的重要指标
1 \( }' p! A5 o& N) M2 v1 _之一 。
' W( O1 H5 A- U( _$ i7 J6 }工业环境中的干扰一般是以脉冲形式进入单片机系统 {1 r( @2 v5 b# E: k1 T, {
的 , 其渠道主要有三条 !% w* _* B `3 ` _. y, O9 D; {
(1) 空间干扰(场干扰):电磁信号通过空间辐射进入
4 _! l! M5 f' Y. y系统 。
6 T1 j' ^* i- W" V8 B(2)过程通道干扰 :干扰通过与系统相连的前向通道 3
2 a* P4 T; U( @# W. h6 y# k1 m后向通道及与其它系统的相互通道进入系统 。0 u& O$ _0 M; F: ]
(3)供电系统干扰:电源的干扰或电磁信号通过供电" S) ~& T7 d& g
线路进入系统 。
. I) r3 x3 j7 n1 r4 b因此 , 在进行单片机测控系统的设计时 , 必须针对干扰
8 {) _# n7 w9 K" ` L形成的原因 , 采取一定的抗干扰措施 。总的来说 , 抗干扰措
, `4 y8 h/ g5 R6 H) C施有硬件措施和软件措施。硬件如果设计得当 , 可将绝大; k% {6 ]2 x4 r# h, G; ~2 D
部分干扰拒之门外 , 但仍然会有少数干扰进入单片机系统 ," A$ m( ]* i5 J6 w1 h4 T
所以软件措施作为抗干扰的第二道防线必不可少。由于软7 d8 o- m; M {7 U2 a7 q) E
件抗干扰措施是以占用CPU为代价的 , 如果没有硬件消除1 E5 D. H# |8 f9 a0 I1 l' p
绝大多数干扰 ,CPU将疲于奔命 , 严重影响系统的工作效, P/ K0 X- `" S# U
率和实时性。
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