|
|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
" Z# z. P( J% w& a开关电源电流检测技术在现在的各种检测设计中都有广泛的应用,许多的系统中都需要检测流入和流出的电流大小,检测电流大小能够避免器件出错。进行电路机理的保护,推荐了解一下“开关模式电源的电流检测技术”。
' p6 @9 ^- i0 }& Y# z3 ^4 r( {% g开关电源-电流模式控制由于其高可靠性、环路补偿设计简单、负载分配功能简单可靠的特点,被广泛用于开关模式电源。
: c/ ]4 r" c. F& Z( F1 a) m电流检测信号是电流模式开关模式电源设计的重要组成部分,它用于调节输出并提供过流保护。如下图中采用同步开关模式降压电源的电流检测电路。采用的IC控制器是一款具有逐周期限流功能的电流模式控制器件。检测电阻RS监测电流。
" @& {3 N0 i5 x- V# f3 Y2 l5 ^ H, z9 E: I. e9 N( {
+ m R; l* w$ @0 k/ [# c, n; x8 D
6 ^6 @/ e( q0 _4 \; t* z
开关模式电源电流检测电阻(RS)6 q/ \& N/ i& V5 c
如下图显示了两种情况下电感电流的示波器波形:
$ Q# Y& p( z4 B% t i第一种情况使用电感电流能够驱动的负载(红线),而在第二种情况下,输出短路(紫线)。
3 K2 @5 l- U1 ?2 D6 j5 d; A' a2 {5 k0 T6 \: s9 X
& [8 w p, n* y* w! p( j
0 K% k" [, q9 K: e8 R应用凌特的电源ic限流与折返示例,在供电轨上测量示意图8 [; k: D9 m l% G6 E
最初,峰值电感电流由选定的电感值、电源开关导通时间、电路的输入和输出电压以及负载电流设置(如图中用“1”表示)。当电路短路时,电感电流迅速上升,直至达到限流点,即 RS × IL (IL)等于最大电流检测电压,以保护器件和下游电路(如图中用“2”表示)。然后,内置电流折返限制(如图中数字“3”)进一步降低电感电流,以将热应力降至最低。
5 [5 I: R0 {+ x4 X z电流检测还有其他作用。在多相电源设计中,利用它能实现精确均流。7 D; z [; q9 M: n0 P
对于轻负载电源设计,它可以防止电流反向流动,从而提高效率(反向电流指反向流过电感的电流,即从输出到输入的电流,这在某些应用中可能不合需要,甚至具破坏性)。另外,当多相应用的负载较小时,电流检测可用来减少所需的相数,从而提高电路效率。对于需要电流源的负载,电流检测可将电源转换为恒流源,以用于LED驱动、电池充电和驱动激光器等等应用。
# u. i9 V: F3 c/ D1 t1 Y0 I) ~% c/ X检测电阻放哪最合适?
* {6 E7 w& g0 I电流检测电阻的位置连同开关稳压器架构决定了要检测的电流。检测的电流包括峰值电感电流、谷值电感电流(连续导通模式下电感电流的最小值)和平均输出电流。检测电阻的位置会影响功率损耗、噪声计算以及检测电阻监控电路看到的共模电压。我们在BUCK降压低成本的LED背光应用中采用了平均值电流检测方法。5 r) z, R# u+ u- H. `4 N9 S
放置在降压调节器高端% o: v+ q- u' f5 h- Z ]5 S
对于降压调节器,电流检测电阻有多个位置可以放置。当放置在顶部MOSFET的高端时(如下图所示),它会在顶部MOSFET 导通时检测峰值电感电流,从而可用于峰值电流模式控制电源。但是,当顶部MOSFET关断且底部MOSFET导通时,它不测量电感电流。
- V3 G2 B- O0 R8 I: v8 U! u
+ S2 v4 e; c+ L% P" y
9 J% O$ n0 H3 p2 P7 u1 Q, L% V
* u% i6 L8 o% n! ~& m带高端RSENSE的降压转换器
& F/ K3 s% E+ E2 p6 O' e+ _' |' r在这种配置中,电流检测可能有很高的噪声,原因是顶部 MOSFET的导通边沿具有很强的开关电压振荡。为使这种影响最小,需要一个较长的电流比较器消隐时间(比较器忽略输入的时间)。这会限制最小开关导通时间,并且可能限制最小占空比(占空比 = VOUT/VIN)和最大转换器降压比。注意在高端配置中,电流信号可能位于非常大的共模电压(VIN)之上。, @* P" l- F/ H% J* }2 y, N
放置在降压调节器低端
5 q. [+ m& z/ i( W, [" p; o) h; N" J如下图中,检测电阻位于底部MOSFET下方。在这种配置中,它检测谷值模式电流。为了进一步降低功率损耗并节省元件成本,底部MOS-RDS(ON)可用来检测电流,而可以不必使用外部电流检测电阻RSENSE。7 r) A' B& [& E- N7 V2 o
8 m! ]4 d& c" d' p
& I5 ^( V+ d- F. p) @" U
0 ~0 @5 g5 B/ F) y! A; p: ~带低端RSENSE的降压转换器
7 U+ [- M5 ?# O" m7 ?) L这种配置通常用于谷值模式控制的电源。它对噪声可能也很敏感,但在这种情况下,它在占空比较大时很敏感。谷值模式控制的降压转换器支持高降压比,但由于其开关导通时间是固定/受控的,故最大占空比有限。
# g, R7 X1 Y/ N& M3 N/ c3 e: M降压调节器与电感串联0 E+ ]8 U" P3 f: E
如下图中,电流检测电阻RSENSE与电感串联,因此可以检测连续电感电流,此电流可用于监测平均电流以及峰值或谷值电流。所以,此配置支持峰值、谷值或平均电流模式控制。
+ }* ?* G, a9 |; {, O/ A. \ h
# W; y7 g6 S9 g# X
! {2 `: }; I! X5 ^RSENSE与电感串联, E( X* ?- V$ Q' A! S: J! ~
这种检测方法可提供最佳的信噪比性能。外部RSENSE通常可提供非常准确的电流检测信号,以实现精确的限流和均流。但是,RSENSE也会引起额外的功率损耗和元件成本。为了减少功率损耗和成本,可以利用电感线圈直流电阻(DCR)检测电流,而不使用外部RSENSE。
4 ?, g, J" d' ~( S/ O4 d5 Z放置在升压和反相调节器的高端
6 h3 f$ M; l( W' C% b' X5 G对于升压调节器,检测电阻可以与电感串联,以提供高端检测(如下图)。3 \: {9 b+ i2 l' a8 m
: h8 L2 T @+ u' L5 J0 W
% M3 C. Q2 f- C7 G6 ?8 \, H4 S9 R! b! r# j7 Y8 X3 [% {
带高端RSENSE的升压转换器. ^. I( x% Z4 {3 s$ T- U$ y
升压转换器具有连续输入电流,因此会产生三角波形并持续监测电流。
2 ]8 @1 s6 a& j! L5 s放置在升压和反相调节器的低端5 c; C: J: |% J" z
检测电阻也可以放在底部MOSFET的低端,如下图所示。
6 q# W- h+ v" ^4 x此处监测峰值开关电流(也是峰值电感电流),每半个周期产生一个电流波形。MOSFET开关切换导致电流信号具有很强的开关噪声。低成本的BOOST变换器基本都采用这种方法,在LED背光控制中应用最为典型。
3 C$ P4 u5 `* @0 N+ j6 o! _+ l/ W' {
7 c+ l+ t0 } E. Q: p0 k6 J( x
6 ]: X1 e3 v) P- n+ m' ~. ?带低端RSENSE的升压转换器: I P8 I, L( c/ I: N7 ~$ R
SENSE电阻放置在升降压转换器低端或与电感串联
) @& ^6 w) |( v4 ]2 @( h如下图显示了一个4开关升降压转换器,其检测电阻位于低端。当输入电压远高于输出电压时,转换器工作在降压模式;当输入电压远低于输出电压时,转换器工作在升压模式。在此电路中,检测电阻位于4开关H桥配置的底部。器件的模式(降压模式或升压模式)决定了监测的电流。$ Y7 T9 ]* g) y% K1 d1 b8 {/ u
+ t: q6 Z9 C2 D
' u- g/ E! V7 k6 p, S. L
. D D; L& B& e7 R0 z: |3 P! B
带低端RSENSE的升压转换器
( v6 T! e0 n; [! Q在降压模式下(开关D一直导通,开关C一直关断),检测电阻监测底部开关B电流,电源用作谷值电流模式降压转换器。' k" [) }3 k/ O4 U( n# Z4 _
在升压模式下(开关A一直导通,开关B一直关断),检测电阻与底部MOSFET (C)串联,并在电感电流上升时测量峰值电流。在这种模式下,由于不监测谷值电感电流,因此当电源处于轻负载状态时,很难检测负电感电流。负电感电流意味着电能从输出端传回输入端,但由于这种传输会有损耗,故效率会受损。对于电池供电系统等应用,轻负载效率很重要,这种电流检测方法不合需要。
; G+ g1 h, j/ c如下图的电路解决了这个问题,其将检测电阻与电感串联,从而在降压和升压模式下均能连续测量电感电流信号。由于电流检测 RSENSE连接到具有高开关噪声的SW1节点,因此需要精心设计控制器IC,使内部电流比较器有足够长的消隐时间。
2 C+ J! R8 k+ Q- [3 y8 }4 {: Z5 y
( e- i- R! p1 p# |* e
. ]3 q- i) k5 a4 Q2 a* |升降压转换器,RSENSE与电感串联9 S6 n: C* T( B
输入端也可以添加额外的检测电阻,以实现输入限流;或者添加在输出端,用于电池充电或驱动LED等恒定输出电流应用。这种情况下需要平均输入或输出电流信号,因此可在电流检测路径中增加一个强RC滤波器,以减少电流检测噪声。1 z( D% H$ y* D+ g
电流检测方法使用说明! R$ C. _( [# u+ T1 K
开关模式电源有三种常用电流检测方法是:; t( Z6 S' e4 P, u8 R( s* P
使用检测电阻,
: ^& {2 s3 C( e; M- Q使用MOSFET RDS(ON),4 [) N( h% V2 Q; b' ?9 n/ ?
以及使用电感的直流电阻(DCR)。- h$ P8 Y, [, i0 T _; o
每种方法都有优点和缺点,选择检测方法时应予以考虑。
3 s8 P! x) v9 W0 Q' x检测电阻电流传感
) E, U* V2 \1 }作为电流检测元件的检测电阻,产生的检测误差最低(通常在1%和5%之间),温度系数也非常低,约为100ppm/°C (0.01%)。在性能方面,它提供精度最高的电源,有助于实现极为精确的电源限流功能,并且在多个电源并联时,还有利于实现精密均流。5 Q# t5 v/ g; |2 p- d
( K8 \8 _; K; f& d
$ S3 y: x7 l0 ?& s
1 v0 b/ Y: J- _RSENSE电流检测( ~+ N4 h; m2 ]" z, z Y) l& f4 Q
另一方面,因为电源设计中增加了电流检测电阻,所以电阻也会产生额外的功耗。因此,与其他检测技术相比,检测电阻电流监测技术可能有更高的功耗,导致解决方案整体效率有所下降。专用电流检测电阻也可能增加解决方案成本,虽然一个检测电阻的成本通常在0.05美元至0.20美元之间。
. z$ Z7 F/ u' k0 c选择检测电阻时不应忽略的另一个参数是其寄生电感(也称为有效串联电感或ESL)。检测电阻可以用一个电阻与一个有限电感串联来正确模拟。
s: C! u6 c; v* U- v8 G
9 m/ y+ U z0 n7 p$ N6 @& Y
& a! [: _# Z2 v; `/ a& P1 T5 q2 }- E+ F& b) i$ _3 |/ P- U" H5 W& }! o
RSENSE ESL模型
- D: X$ E- E) u4 J& `( ]此电感取决于所选的特定检测电阻。某些类型的电流检测电阻,例如金属板电阻,具有较低的ESL,应优先使用。相比之下,绕线检测电阻由于其封装结构而具有较高的ESL,应避免使用。3 m2 P$ Z/ u9 o5 m( x0 H; V/ c8 {
一般来说,ESL效应会随着电流的增加、检测信号幅度的减小以及布局不合理而变得更加明显。+ Q6 D) h1 R( Q' g3 \0 k3 J( ~
电路的总电感还包括由元件引线和其他电路元件引起的寄生电感。电路的总电感也受到布局的影响,因此必须妥善考虑元件的布局,不恰当的布局可能影响稳定性并加剧现有电路设计问题。8 X/ C% O# n! y4 _
检测电阻ESL的影响可能很轻微,也可能很严重。ESL会导致开关栅极驱动器发生明显振荡,从而对开关导通产生不利影响。它还会增加电流检测信号的纹波,导致波形中出现电压阶跃,而不是预期的如下图所示的锯齿波形。这会降低电流检测精度。; v/ f& E0 A* y
, m) p- | j+ G% k0 ?
/ L! K" r0 ]# H" T; S2 {% ]
! s7 m2 X: J W8 M4 j$ @* @7 KRSENSE ESL可能会对电流检测产生不利影响
/ S& B4 W0 A% C8 M, A为使电阻ESL最小,应避免使用具有长环路(如绕线电阻)或长引线(如厚膜插件电阻)的检测电阻。薄型表面贴装器件是首选,例子包括板结构SMD尺寸0805、1206、2010和2512,更好的选择包括倒几何SMD尺寸0612和1225。# m( T& N9 i9 Z: ~( q) l3 [3 @
基于功率MOSFET的电流检测
6 l; D/ O7 J! h- m/ o9 e利用MOSFET RDS(ON)进行电流检测,可以实现简单且经济高效的电流检测。如下是一款采用这种方法的器件。它使用恒定导通时间谷值模式电流检测架构。顶部开关导通固定的时间,此后底部开关导通,其RDS压降用于检测电流谷值或电流下限。PI的内置MOS的FLY结构也才用类似的方法。# @3 k7 K% x. u4 V
& j8 F2 s% ^3 W
# i" z% @" F( @
4 m/ c; m: A. T/ lMOS-RDS(ON)电流检测
4 X2 I9 W2 w6 }) L! W3 E虽然价格低廉,但这种方法有一些缺点。首先,其精度不高, RDS(ON)值可能在很大的范围内变化(大约33%或更多)。其温度系数可能也非常大,在100°C以上时甚至会超过80%。另外,如果使用外部MOSFET,则必须考虑MOSFET寄生封装电感。这种类型的检测不建议用于电流非常高的情况,特别是不适合多相电路,此类电路需要良好的相位均流。PI的小功率电源中已有使用。
. U6 S) k y+ {, R) u/ X6 d+ D) X电感DCR电流检测! {4 O) x6 ?5 K3 t- D( B$ e" Y* a* w2 v
电感直流电阻电流检测采用电感绕组的寄生电阻来测量电流,从而无需检测电阻。这样可降低元件成本,提高电源效率。与MOS-RDS(ON)相比,铜线绕组的电感DCR的器件间偏差通常较小,不过仍然会随温度而变化。它在低输出电压应用中受到青睐,因为检测电阻上的任何压降都代表输出电压的一个相当大部分。将一个RC网络与电感和寄生电阻的串联组合并联,检测电压在电容C1上测量(如下图所示)。+ x# f3 e- t# d3 E4 `& U' O4 y
- m4 l1 R' e7 c
5 c( X+ p" {. T: o
4 Q, z; l0 `! u/ x
电感DCR电流检测
# ~2 @# S. C+ F9 D通过选择适当的元件(R1×C1 = L/DCR),电容C1两端的电压将与电感电流成正比。为了最大限度地减少测量误差和噪声,最好选择较低的R1值。+ ~/ p1 O( u! u y# c, i
电路不直接测量电感电流,因此无法检测电感饱和。推荐使用软饱和的电感,如铁粉芯电感。与同等铁芯电感相比,此类电感的磁芯损耗通常较高。与RSENSE方法相比,电感DCR检测不存在检测电阻的功率损耗,但可能会增加电感的磁芯损耗。
3 s9 i7 P3 z5 U; D8 ~! J. i使用RSENSE和DCR两种检测方法时,由于检测信号较小,故均需要开尔文检测。必须让开尔文检测痕迹(电路中的SENSE+和 SENSE-)远离高噪声覆铜区和其他信号痕迹,以将噪声提取降至最低,这点很重要。
o/ [- ?/ |6 [# k* Y某些器件具有温度补偿DCR检测功能,可提高整个温度范围内的精度。: r- |6 v6 I6 j, G+ C. m( x# g6 j1 s
如下表总结:电流检测方法的优缺点8 V; j! `& e4 L( p
; w! C& M: l h0 D
+ E- V* ?) e! Z5 ]* _/ l4 r
! p0 F: Q, k) g8 m6 M$ Y+ Y' C在表中提到的每种方法都为开关模式电源提供额外的保护。
g( O5 m& _9 [3 w0 c1 { r取决于设计要求,精度、效率、热应力、保护和瞬态性能方面的权衡都可能影响选择过程。电源设计人员需要审慎选择电流检测方法和功率电感,并正确设计电流检测网络。
+ I% h+ d4 Y) Y# H* {其他电流检测方法1 M. r: y# c6 |" S1 v: I) e
还有其他电流检测方法可供使用。例如,电流检测互感器常常与隔离电源一起使用,以跨越隔离栅对电流信号信息提供保护。这种方法通常比上述三种技术更昂贵。此外,近年来集成栅极驱动器(DrMOS)和电流检测的新型功率MOSFET也已出现,但到目前为止,还没有足够的数据来推断DrMOS在检测信号的精度和质量方面表现状况。- K- o: u5 M% \$ Z- v j- p1 N6 Q
|
|