80c31单片机电路总剂量效应研究

ckjs

摘要:研究了80C31单片机电路在Coγ辐照环境中的响应特性及参数变化规律,通过对辐照
' S$ j! n2 o3 s5 b7 I后其电离辐照敏感参数在室温和100 C高温条件下随时间变化关系的分析,讨论了电路总剂量辐
; n! x6 {" ?& K6 w' r" |. Z射损伤的机理。
7 B! o* k, x6 z: f* o: e关键词:单片机; 60Co γ辐照;辐射损伤;退火.

游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复

) v1 J' J6 c! _& ^+ l" O+ R

fawa

有关电路总剂量辐射损伤的机理