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很多时候,PCB走线中途会经过过孔、测试点焊盘、短的stub线等,都存在寄生电容,必然对信号造成影响。走线中途的电容对信号的影响要从发射端和接受端两个方面分析,对起点和终点都有影响。
/ b- F8 r* |0 h" ^5 }1 {5 G首先按看一下对信号发射端的影响。当一个快速上升的阶跃信号到达电容时,电容快速充电,充电电流和信号电压上升快慢有关,充电电流公式为:I=C*dV/dt。电容量越大,充电电流越大,信号上升时间越快,dt越小,同样使充电电流越大。
3 k8 U: e& C' `3 Q* K我们知道,信号的反射与信号感受到的阻抗变化有关,因此为了分析,我们看一下,电容引起的阻抗变化。在电容开始充电的初期,阻抗表示为:
! K8 M% X" Y. k6 j% t6 M# F, F3 h6 g9 {3 s$ F
这里dV实际上是阶跃信号电压变化,dt为信号上升时间,电容阻抗公式变为:
5 W( b* v$ { O" m) z4 S
1 `/ d! X7 H5 W& Y; {4 D( A& c从这个公式中,我们可以得到一个很重要的信息,当阶跃信号施加到电容两端的初期,电容的阻抗与信号上升时间和本身的电容量有关。
/ }) y. T0 E6 Y3 |% f' M通常在电容充电初期,阻抗很小,小于走线的特性阻抗。信号在电容处发生负反射,这个负电压信号和原信号叠加,使得发射端的信号产生下冲,引起发射端信号的非单调性。# a/ L+ Q- \) i, D7 M1 n8 B- ]
对于接收端,信号到达接收端后,发生正反射,反射回来的信号到达电容位置,那个样发生负反射,反射回接收端的负反射电压同样使接收端信号产生下冲。& W: u6 P4 d/ E) Z, `& @* U( j
为了使反射噪声小于电压摆幅的5%(这种情况对信号影响可以容忍),阻抗变化必须小于10%。那么电容阻抗应该控制在多少?电容的阻抗表现为一个并联阻抗,我们可以用并联阻抗公式和反射系数公式来确定它的范围。对于这种并联阻抗,我们希望电容阻抗越大越好。假设电容阻抗是PCB走线特性阻抗的k倍,根据并联阻抗公式得到电容处信号感受到的阻抗为:4 X) Z, E6 U5 n
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阻抗变化率为:
2 ]3 e( G; i, o8 w& @3 z5 k( ~! Q
9 o- G9 B$ T L1 `6 b! [- Z
即
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7 W* P% C- ^ |1 ^' |( B0 M1 R也就是说,根据这种理想的计算,电容的阻抗至少要是PCB特性阻抗的9倍以上。实际上,随着电容的充电,电容的阻抗不断增加,并不是一直保持最低阻抗,另外,每一个器件还会有寄生电感,使阻抗增加。因此这个9倍限制可以放宽。在下边的讨论中假设这个限制是5倍。
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有了阻抗的指标,我们就可以确定能容忍多大的电容量。电路板上50欧姆特性阻抗很常见,我就用50欧姆来计算。
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0 j- Y3 `6 F# o5 @& U/ D+ G得出:
8 B7 S- q6 y4 q8 X: K即在这种情况下,如果信号上升时间为1ns,那么电容量要小于4皮法。反之,如果电容量为4皮法,则信号上升时间最快为1ns,如果信号上升时间为0.5ns,这个4皮法的电容就会产生问题。
, [- q4 k+ d% k. ~/ {1 s5 Q这里的计算只不过是为了说明电容的影响,实际电路中情况十分复杂,需要考虑的因素更多,因此这里计算是否精确没有实际意义。关键是要通过这种计算理解电容是如何影响信号的。我们对电路板上每一个因素的影响都有一个感性认识后,就能为设计提供必要的指导,出现问题就知道如何去分析。精确的评估需要用软件来仿真。
8 q- J, Z7 h5 h V' \总结:4 x. T4 e1 ?( B1 l* o5 a# ~, \. y
1 PCB走线中途容性负载使发射端信号产生下冲,接收端信号也会产生下冲。
5 H/ g- q# `- h H! ~+ M5 M4 J8 ]0 U6 a
d/ k7 I8 S/ V- _3 |: g2 能容忍的电容量和信号上升时间有关,信号上升时间越快,能容忍的电容量越小。
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