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1.1 PID效应的发现和成因
& Q5 Z0 |) R* a: m# wPID效应( Potential Induced Degradation )全称为电势& w' W# e: R1 X& f! Q: I+ A
诱导衰减。PID直接危害就是大量电荷聚集在电池片表面,使 电池表面的钝化效,
9 P2 @" L% t# H从而导致电池片的填充因子、开路电压、短路电流降低,电池组件功率衰减。
u X$ C# E: O0 A. }2005年Sunpower公司就发现晶硅N型电池在组件中施加正' Y8 P: [8 \( k, Z9 S* p
高压后存在PID 现象。2008年, Ever green 公司报道了P 型电池组件的PID
% f5 F& p' ^ ^- y/ B$ r. L1 x7 Z7 ^效应。但是目前还没有明确的证据能够证明一个工作了五年的光伏电站,
- b) R* x" b2 u# m3 h组件的输出功率骤降就是因为PID效应引起的。不过近年光伏行业对电池组件的
( L7 c0 f9 I: `- \! zPID 效应还是引起了足够的重视。德 国测试企业TUV发 布了他们的建议标准:
, N5 Q* `1 T( B. _' ]" qTC82标准化(82/685 / NP) 温度、 湿度、偏置电压、导体,上述参数测试的主要环& ^( Z1 h6 f. ~
境数据。, v" J5 E( V- y+ w7 E; A+ {
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