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1.1 PID效应的发现和成因
# g! \4 p/ [4 q' A) M8 ]PID效应( Potential Induced Degradation )全称为电势
9 x- e( @& o7 A t诱导衰减。PID直接危害就是大量电荷聚集在电池片表面,使 电池表面的钝化效,4 I5 o# A( g" _5 @5 j( i
从而导致电池片的填充因子、开路电压、短路电流降低,电池组件功率衰减。
5 o5 D& i3 e4 @! P; ~2005年Sunpower公司就发现晶硅N型电池在组件中施加正
/ f p$ S# V: b1 C: C" t: ]* c! w& P# c高压后存在PID 现象。2008年, Ever green 公司报道了P 型电池组件的PID
1 M( O* r: c' \, C! a效应。但是目前还没有明确的证据能够证明一个工作了五年的光伏电站,+ }2 p& G( m# i+ w' j$ N6 b2 b
组件的输出功率骤降就是因为PID效应引起的。不过近年光伏行业对电池组件的1 n9 ^! n7 p- a, s, G
PID 效应还是引起了足够的重视。德 国测试企业TUV发 布了他们的建议标准:+ i7 {. M! }& h( S) _
TC82标准化(82/685 / NP) 温度、 湿度、偏置电压、导体,上述参数测试的主要环
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