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一,电流检测电阻的基本原理:
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2 i A+ i* s! U% w根据欧姆定律,当被测电流流过电阻时,电阻两端的电压与电流成正比。当1W的电阻通过的电流为几百毫安时,这种设计是没有问题的。然而如果电流达到10-20A,情况就完全不同,因为在电阻上损耗的功率(P=I2xR)就不容忽视了.我们可以通过降低电阻阻值来降低功率损耗,但电阻两端的电压也会相应降低,所以基于取样分辨率的考虑,电阻的阻值也不允许太低。# D R5 w0 @4 I2 r
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二,长期稳定性
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/ r. J/ y5 U* H- @- T; U对于任何传感器来说,长期稳定性都非常重要。甚至在使用了一些年后,人们都希望还能维持早期的精度。这就意味着电阻材料在寿命周期内一定要抗腐蚀,并且合金成分不能改变。要使测量元件满足这些要求,可以使用同质复合晶体组成的合金,通过退火和稳定处理的生产制程,以达到基本热力学状态。这样的合金的稳定性可以达到ppm/年的数量级,使其能用于标准电阻。
- \* f* i0 _7 K& _表面贴装电阻 在140℃下老化1000小时后阻值只有大约-0.2%的轻微漂移,这是由于生产过程中轻微变形而导致的晶格缺损造成的。阻值漂移很大程度上由高温决定,因此在较低的温度下比如+100℃,这种漂移实际是检测不出来的。
/ b' F& D. `4 |+ r; ]2 Z0 k三,端子连接
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! E8 }5 \- t, X" v在低阻值电阻中,端子的阻值和温度系数的影响往往是不能忽略的,实际设计中应充分考虑这些因素,可以使用附加的取样端子直接测量金属材料两端的电压。由电子束焊接的铜-锰镍铜电阻实际上具有这样低的端子阻值,通过合理的布线可以作为两端子电阻使用而接近四端子连接的性能。但是在设计时一定要注意取样电压的信号连线不能直接连接取样电阻的电流通道上,如果可能的话,最好能够从取样电阻下面连接到电流端子并设计成微带线。 ) E: D$ m& I' o6 _4 y; l( y5 N
# R. |# ]5 e; A5 n2 s9 |8 {四,低阻值% y* `3 _& F1 H6 ^; U4 n! ]4 e& V
4 }. N& Q; \; x5 {) N, V) l四引线设计推荐用于大电流和低阻值应用。通常的做法使用锰镍铜合金带直接冲压成电阻器,但这不是最好的办法。尽管四引线电阻有利于改进温度特性和热电压,但总阻值有时高出实际阻值2到3倍,这会导致难以接受的功率损耗和温升.此外,电阻材料很难通过螺丝或焊接与铜连接,也会增加接触电阻以及造成更大的损耗。
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