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快来:器件可靠性发展历程之猜图?猜中有威望值提升,

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    [LV.7]常住居民III

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    发表于 2019-11-29 18:02 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    本帖最后由 重阳 于 2019-11-29 18:02 编辑 % E* J- Y' E8 p" U

    0 Q: p1 H7 F% }  C7 vl失效分析在可靠性突破因素
    9 P5 X! |( r+ f0 {) F9 x% J8 Sl导弹,卫星,飞船,飞机等对可靠性提出更高要求
      {0 _8 |3 i  Sl电子产品需要承受更高热应力,机械应力等的器件
    & J5 @* L6 g. S3 Z' Y* A# el研究出可靠性更高的材料,工艺,制造设备等
    # N) }0 v3 J) g. i有谁能猜出?图1、图2分别是哪个可靠性大事件? + c) M! |2 @+ t/ |6 D5 D( [# U, a

    ; q% |' r3 P4 T8 B* Z% I' [# \( p
    4 h7 }+ r  a! X; ]2 h& l; `7 e
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    [LV.7]常住居民III

    2#
    发表于 2019-11-30 08:22 | 只看该作者
    图1,Columbia 号失事,因为橡胶密封圈的原因…科学发展路上正是因为前辈们充满对未知的好奇,勇往直前,不断试错…向前辈致敬

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