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本帖最后由 yigeqdaizouni 于 2019-10-9 16:04 编辑
, K& S, v" A/ `' {- ^) `. V5 l
来自微信群:EDA365-射频技术交流群
3 a, `0 y+ H, s) {0 G3 i
3 d- g+ `: s' K9 P0 t' V (红色楼主,蓝色群友)
) W2 e1 Y6 P/ ` O2 s, V/ x1 r8 N- O. ^
. @, s8 s) u! N! M* N9 OCaptain Z:& c) |8 `6 Z7 J1 } [
请教一下老师关于功放芯片损坏的问题,现象是栅极短路,此时是在进行整机测试时出现的问题,外围结构件安装完好,该屏蔽的地方进行屏蔽,灌封使用的是聚氨酯发泡胶,换一个功放芯片又可能变好了,该现象不可复现,这种情况下一般是由于什么因素导致的损坏呢?' F4 _( Q- m( L: t! |
9 V. m+ f/ X% U5 \' VHai wang:# M. o' ?; j' N% e+ k$ L) h
没有输出驻波保护,ESD隐患,过热,输入尖脉冲;这些是可能性。@captain Z 还需要了解下你的产品. o- ^1 l3 P: ?9 m" O+ |% \
c' a2 |2 A1 ]+ E1 G; g# ^5 OCaptain Z:
- O, d* S/ W+ X0 v输出加了隔离器,# A5 h |. i5 \% u D4 `- Q% L
8 v: S5 s% G) _, p5 f9 f# M6 i
Captain Z:" M; G2 S) v! l- N* m6 b4 W
一共做了好几台,有两台的功放芯片损坏
# n7 K4 A" F+ v, v/ H3 i" J6 {6 U! S) T+ N- f8 a* o
' W5 k& O$ }1 z% V. cjiao:
3 n0 v8 {3 D2 k" J4 \0 B5 f为啥要灌发泡胶?' w! W! ]' P/ \$ p' T# m
# e$ w. g8 \2 U) l4 mCaptain Z:
0 r, [) y$ ~$ d, U) W/ a* [装入整机以后还会有ESD隐患吗) O8 q8 v& t1 Q0 T# ^
9 H+ {( z3 y# ]7 H4 z; q/ A
Captain Z:
- j+ d: u) @% `6 ~4 [& i" E3 j6 Q5 F三防保护@EDA365-焦老师
2 H/ Z/ Y" c' h9 p# z" E3 M$ O( A# T8 \- c6 f6 d
Hai wang:
7 H- ~8 p2 \! a& ^; B$ ]Esd隐患是安装时发生的。整机后没有。7 y$ d! a! E3 v5 A3 ?
+ y$ X/ \2 w9 j% ?Captain Z:! e+ e6 h2 i4 }; _( c& Q6 F* A- a
就是装整机以后测了一下高低温,都没问题,在做振动实验时就坏了,中途没有拆过。
5 x- D9 b/ A: K
1 Z( R. |( r7 U; |7 V1 jHai wang:: o# V9 ~2 F9 R1 p
振动时,一般没有输入信号的,有时还定义没有电源。你怎么观察到是振动时损坏?+ U/ v3 T$ m1 j
8 }5 j9 w/ }: v2 R; G: ^% u6 g! ACaptain Z:! F h$ v: m# i8 C6 D
就是做了这个振动实验后再进行测试。就发现了异常,功放损坏7 f- [0 ~, _- U! Y
1 w9 v1 J: i' K! ~jiao:9 U T% e" e7 T( r. I4 r( E
重点排查装配过程esd和电路有没可能产生高脉冲: j# r9 v! O7 z9 t3 i
+ d+ t+ P; l) D2 S; I0 J, B. g/ v
Hai wang:
7 h/ g9 B5 w, b5 n# ~ i; K@Captain Z 多大功率,功放本体尺寸是多少?
8 p' `) x6 j; C" Q1 Q* a* f6 A) n1 f& W( ]% [
Captain Z:* y8 i3 n7 g6 Q# F& m
10W功放
. r' V& @: H" I' c! ?; R% A1 k6 ?4 O( J! z% _2 z5 Z
Captain Z:, k7 f N9 A" W6 |3 U& H; D" [
增益10dB
8 n3 b, `! d- O* L8 G8 U8 W C e" [- r
- ~0 p/ k! W; ~; s8 W6 c. h( N* e+ hCaptain Z:
+ d% E* g1 ^" d; j加上管脚,7×5. D0 ~0 P; j& O, Y1 D$ c ^
9 y3 b; }' w1 e8 u- p# G+ c4 PHai wang:9 E9 i% |9 t0 b4 t0 Q9 t0 ]( _
直接报型号呀
% `; k y+ q/ t9 z; j* v0 ?$ I, g& T! d: t. K0 T& H9 i
Captain Z:+ H( f+ H; I6 _6 {7 A
Yp160842
, c- U4 Q! G; n# g; k+ N2 D! w$ H2 ~
Captain Z:- j5 @4 K# M% V" h
英诺迅的5 [* p6 C+ g1 Z# u2 e( s% Z, ]9 j
) d$ t6 o, {( o3 Y# S3 ?9 v% @Captain Z:
' J5 V; c, v5 p$ F3 M, D, S灌封后是不是会影响散热?, K0 N7 ]9 I3 M3 P/ A/ Y5 d
, Q: w. r) F; L. b1 \$ J, B
Captain Z:8 Q, V9 c* @ Y. H+ u: i1 ]% T
还有腔体效应。
( {5 |6 @% O, m+ [1 N
. B; [0 m- c! s5 D0 ~* l2 ]. o% O/ NHai wang:
7 L7 m# w- Y8 y热传导性能比空气差,就会影响散热
, l: O R( k. [. W' Z
5 x- ^2 U, G+ w b4 f0 ]Hai wang:
8 b$ ^5 \/ n/ C+ w5 p英诺迅官网上没有找到这个器件资料。看这个厂家的功放,都是塑封,大面积接地的。# g* q+ }2 }, l& Y j9 {0 R
( x! z: `+ n! N- g# e4 N+ AHai wang:
% f5 J* b. k7 ~/ h5 t$ hYP163840,的Esd是C等级,这个ESD性能应该OK的。
1 G& Y9 D) V% K# p; m% e1 m7 ~' P) e+ O& a% _1 U
Hai wang:
. O5 ?% v* f. a/ q若是已经完成高低温实验,查证产品没有问题的话。建议再检查:1、因振动导致的接口松动,因此产生的毛刺。2、除功放的输入、输出,还需要检查电源支路。电源的毛刺电压也会损伤器件
% D3 }) x2 k# w6 R+ ]8 |6 U1 \. q' t
Captain Z:0 s$ [4 D' O' L9 T1 j1 i; l) P
这个功放是几秒钟发一次,脉宽是几百ms,不知道用的聚氨酯发泡胶是不是会影响散热,从而导致的性能恶化。
S k* z+ c! p( `' M3 {% J( t0 S) g6 P! Q- X6 B
Hai wang:
& {4 F7 r2 O; @; }0 W. X( ?# D@Captain Z 检验是否影响散热,可以通过高低温实验来验证,不是通过振动试验" ]% e0 p% W7 g/ m3 X6 f
Captain Z:7 s" K% F1 R/ n/ W. T6 U- c2 }4 D
另外功放的输入功率太大导致的烧功放,对于功放是表现出什么样的特性呢?比如栅极或者漏级短路?) z. Q/ ^: `- h) Q7 ?% y0 E& p4 x3 z
7 Y* T2 C5 k& C( O
Hai wang:
4 ~. o+ @6 ^5 m5 {+ f( c@Captain Z 输入功率过大导致的烧毁,和输出驻波过大导致的烧毁,表现出来的都是一样的。其基本原理都是一样的$ I b+ F8 S' w `$ S
5 }0 D2 m, n: g9 P" E" `0 P
Captain Z:
! B `/ s, @5 `7 z这种方式烧的功放会导致功放栅极短路吗?0 F. Z4 x1 ]5 f, V2 Y; a# `
4 M8 ~0 k8 J9 k' g. e, @Hai wang:: b3 w6 z$ t2 `9 Y# t
产生大量的热量,导致最后一级的最热的地方烧毁
6 Y% I- L. [' e5 i9 T# ?
( S, ^7 F) G% { e; BCaptain Z:
3 I3 A- P4 U2 M2 [8 Z$ ?' z这种过热导致的烧毁是栅极漏极阻抗都不正确了。
7 J1 j9 Y. b9 p
1 p$ l/ Y$ A7 |. QCaptain Z:# j) @- ^( g! B/ y6 }
还是阻抗虽然正常,但就是不出功率了?
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+ b' Q. ~2 |. [3 e/ ]; ~Hai wang:# Y; P& Y1 W6 o" s/ `, \9 D" R
烧毁后,器件的输出阻抗不正常了
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