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EDA365电子论坛网»电子社区 › 研发技术版块 › FPGA|CPLD论坛 › FPGA芯片中边界扫描电路的设计实现
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FPGA芯片中边界扫描电路的设计实现

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Allevi
  • TA的每日心情
    开心
    2019-11-19 15:19

    • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到
    跳转到指定楼层
    1#
    发表于 2019-9-30 09:19 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    FPGA芯片中边界扫描电路的设计实现

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    FPGA芯片的规模越来越大,引脚数目越来越多,边界扫描单元也随之相应增加。在此情况下,边界扫描电路设计时为了避免移入错误数据,对时钟偏差提出了很高的要求。同时,由于扫描链包含大量的边界扫描单元,在板级测试时,大大降低了有效测试速率。针对这两个问题,提出了对边界扫描单元的改进方式,改进后的边界扫描电路不仅可实现测试、编程功能,而且大大提高了电路抗竞争能力,保证电路正常工作。
    4 k0 w( m( h; o+ S# V  C& O# e
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    EDA365微信号及QQ群号！
    雷北城

    该用户从未签到
    3#
    发表于 2022-9-12 15:23 | 只看该作者
    FPGA芯片中边界扫描电路的设计实现

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    瞪郜望源_21
  • TA的每日心情
    开心
    2025-7-25 15:22

    • 签到天数: 1136 天

    [LV.10]以坛为家III
    4#
    发表于 2022-9-13 13:43 | 只看该作者
    真是不错，很是地道和专业，学习下

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