阻抗匹配问题。

shelby

$ p/ ~) w% a% b* o之前有调过一款 chip Ant 的阻抗匹配，芯片出来后先是π matching circuit，然后Ant PORT 的走线走的是内层，走线很长，最后到Chip Ant。这样对Chip ANT 进行阻抗匹配时发现，2.4-2.5G 的S11都在-10 db一下，但是在测试效率时发现只有几 percent,想请教一下大神，有没有遇到过这种情况，问题是出在哪里？非常感谢！

criterion

假设你铜管是焊在   芯片一出来的位置

如下图:

- q9 ]4 z0 R* V

这表示啥?    表示你量到的天线性能

不是只有chip Ant本身   而是整个黄色框框都包含在里面

你都说走线很长了    表示讯号从铜管灌进去

到达天线之前    势必会因为Loss而吃掉一些能量

效率当然不会好

在衡量天线性能时

要整体考虑      

净空区, 走线,  金属机构……等

最好是整个产品组起来去测    最准

不是天线本体好就好   

Colbie

你接一个10dB的衰减器上面S11还能到-20dB呢。。。所以单纯用S11来看一个天线好坏是不行的。

sunygd

对的。S11 只能反映发射回来的能量大小，并不能衡量有效辐射到空间的能量。

Ferrya

损耗太大了。

cariban

( n- |7 f' [# h0 ~

criterion 发表于 2019-9-24 18:12
; v; v; l$ W3 d& i) f$ V假设你铜管是焊在   芯片一出来的位置如下图:
这表示啥?    表示你量到的天线性能不是只有chip Ant本身   ...

criterion 版大回复最认真，先赞一下。稍微补充一下他的方案，也盗用了版大的图，版大莫怪。

俺的意见是把测量点移到天线的位置，因为楼主说从信号源到天线之间的布线比较长，这样有必要测量路径的散射参数，以知道路径损耗和传输线阻抗控制情况。阻抗匹配网络位置可以不变，但是要把路径的非理想因素考虑进去。这种窄带信号可以匹配地接近于无反射。推荐使用这个软件做路径散射参数测量和阻抗匹配:
https://www.eda365.com/thread-202847-1-1.html
4 D' Z6 t' U# D0 y" A
+ U0 ^0 O- u) C1 {# H  u如果路径损耗不大，匹配网络设计好之后还有问题，就需要测试天线的回波反射，看是不是天线本身失调了。如有必要就需要给天线也加匹配网络。
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