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简单介绍一下JTAG

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发表于 2019-9-17 11:33 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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调试ARM,要遵循ARM的调试接口协议,JTAG就是其中的一种。当仿真时,IAR、KEIL、ADS等都有一个公共的调试接口,RDI就是其中的一种,那么我们如何完成RDI-->ARM调试协议(JTAG)的转换呢?有以下两种做法:
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3 P1 _; D4 c  [, D2 X0 T1.在电脑上写一个服务程序,把IAR、KEIL和ADS中的RDI命令解析成相关的JTAG协议,然后通后一个物理转换接口(注意,这个转换只是电气 物理层上的转换,就像RS232那样的作用)发送你的的目标板。H-JTAG就是这样的。H-JTAG的硬件就仅是一个物理电平的转换接口,所以很简单。 而电脑中装的h-JTAG软件就是前面说到的服务程序,负责协议转换的。
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2.做一个板,用此板直接接收来自IAR、KEIL和ADS等软件的调试命令,由此板做RDI->JTAG协议的转换。然后与目标板通信,这就是JLINK的工作原理。
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) W4 O1 _9 k; x- V3 B6 Z由上可以看出H-JTAG由于是软件作协议转换的,所以速度较慢,但是硬件简单。而第二种方法的JLINK一般带一个强劲的CPU,作硬件协议转换,把以硬件复杂,但速度快。0 @! K! m- ~: g1 r3 x# j
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JTAG的基本原理
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. l; K: u% M; ~" x$ h* l) nJTAG(JointTestActionGroup,联合测试行动组)是一种国际标准测试协议(IEEE1149.1兼容)。标准的JTAG接口是4线——TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
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JTAG的主要功能有两种,或者说JTAG主要有两大类:
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1)一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题;5 w8 P2 T- H( Y; y  k' }

% M( R( l$ c, ~4 h/ k9 w2)另一类用于Debug,对各类芯片以及其外围设备进行调试;一个含有JTAGDebug接口模块的CPU,只要时钟正常,就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器、挂在CPU总线上的设备以及内置模块的寄存器。本文主要介绍的是Debug功能。
: k# @9 T, T  G% P* l0 O( j$ M1 Q: T7 R! ?  H" a! J. A
JTAG原理分析
4 u1 c) S- ^9 ^
  P0 c4 u; g# l) c简单地说,JTAG的工作原理可以归结为:在器件内部定义一个TAP(TestAccessPort,测试访问口),通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试和调试。首先介绍一下边界扫描和TAP的基本概念和内容。
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边界扫描! p9 `; k% m5 b  Q
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边界扫描(Boundary-Scan)技术的基本思想是在靠近芯片的输入/输出引脚上增加一个移位寄存器单元,也就是边界扫描寄存器(Boundary-ScanRegister)。9 l8 x: S7 ?$ A; Y5 E) `
# Q5 k# Y; p5 S# y1 s! P
当芯片处于调试状态时,边界扫描寄存器可以将芯片和外围的输入/输出隔离开来。通过边界扫描寄存器单元,可以实现对芯片输入/输出信号的观察和控制。对 于芯片的输入引脚,可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元把信号(数据)加载到该引脚中去;对于芯片的输出引脚,也可以通过与之相连的边界扫描寄存器“捕 获”该引脚上的输出信号。在正常的运行状态下,边界扫描寄存器对芯片来说是透明的,所以正常的运行不会受到任何影响。这样,边界扫描寄存器提供了一种便捷 的方式用于观测和控制所需调试的芯片。另外,芯片输入/输出引脚上的边界扫描(移位)寄存器单元可以相互连接起来,在芯片的周围形成一个边界扫描链 (Boundary-ScanChain)。边界扫描链可以串行地输入和输出,通过相应的时钟信号和控制信号,就可以方便地观察和控制处在调试状态下的芯 片。7 _( x7 g( \5 E2 z( X

( d# I0 X( U1 J0 \* R$ i& L8 _测试访问口TAP* A, ]2 b9 N0 f9 N9 ~
& Y5 H! [8 V4 S; T2 z% V8 _( E1 d
TAP(TestAccessPort)是一个通用的端口,通过TAP 可以访问芯片提供的所有数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。对整个TAP的控制是通过TAP控制器(TAPController)来完成的。下面先 分别介绍一下TAP的几个接口信号及其作用。其中,前4个信号在IEEE1149.1标准里是强制要求的。7 D& N8 n$ g; a+ S5 ^; e
9 A; I. G: f* A: o7 U* L
TCK:时钟信号,为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号。
# E  M* W- U* z: p# Q1 ~# l4 d' ~
TMS:模式选择信号,用于控制TAP状态机的转换。3 {: l1 h8 n, e% n5 q$ L4 J, C
, \0 ]# j# [( {5 y7 ]
TDI:数据输入信号。3 J5 u$ g1 F/ C+ H

7 p/ d( k. T" NTDO:数据输出信号。0 M3 \/ F2 u, O* }7 u

9 Z  t, l! i. ~* NTRST:复位信号,可以用来对TAPController进行复位(初始化)。这个信号接口在IEEE1149.1标准里并不是强制要求的,因为通过TMS也可以对TAPController进行复位。9 ]( ^' q0 s4 {! b( G
. k- T; d" m* ^3 R6 i9 e
STCK:时钟返回信号,在IEEE1149.1标准里非强制要求。0 S  i/ d! q) u2 K
- t, ]; Q! l. P) H
简单地说,PC机对目标板的调试就是通过TAP接口完成对相关数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)的访问。- O4 x* L% W% h0 ?* ]

; N! Y8 Z" B, f8 E+ Z1 M系统上电后,TAPController首先进入Test-LogicReset状态,然后依次进入Run-Test/Idle、Selcct-DR- Scan、Select-IR-Scan、Capture-IR、Shift-IR、Exitl-IR、Update-IR状态,最后回到Run- Tcst/Idle状态。在此过程中,状态的转移都是通过TCK信号进行驱动(上升沿),通过TMS信号对TAP的状态进行选择转换的。其中,在 Capture-IR状态下,一个特定的逻辑序列被加载到指令寄存器中;在Shift-IR状态下,可以将一条特定的指令送到指令寄存器中;在 Update—IR状态下,刚才输入到指令寄存器中的指令将用来更新指令寄存器。最后,系统又回到Run—Test/Idle状态,指令生效,完成对指令 寄存器的访问。当系统又返回到Run—Test/Idle状态后,根据前面指令寄存器的内容选定所需要的数据寄存器,开始执行对数据寄存器的工作。其基本 原理与指令寄存器的访问完全相同,依次为seIect—DR—Scan、Capture—DR、Shift—D、Exitl一DR、Update—DR, 最后回到Run-Tcst/Idle状态。通过TDl和TDO,就可以将新的数据加载到数据寄存器中。经过一个周期后,就可以捕获数据寄存器中的数据,完 成对与数据寄存器的每个寄存器单元相连的芯片引脚的数据更新,也完成了对数据寄存器的访问。* Z2 Z$ ~. l( d

7 m! _5 Z. m; R目前,市场上的JTAG接口有14引脚和20引脚两种。其中,以20引脚为主流标准,但也有少数的目标板采用14引脚。经过简单的信号转换后,可以将它们通用。
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