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FPGA可编程逻辑单元测试方法研究

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A-Lin

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1#
发表于 2019-8-30 13:48 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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FPGA可编程逻辑单元测试方法研究
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- ^7 D' B: A) G" B; f! T  U! x$ e" j! j  B( I
文章简要介绍了SRAM型FPGA的逻辑单元(LE)的结构,提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。8 h1 x1 d4 h) g/ B
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雷北城

该用户从未签到
3#
发表于 2022-6-3 14:14 | 只看该作者
FPGA可编程逻辑单元测试方法研究

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瞪郜望源_21
  • TA的每日心情
    开心
    2025-7-25 15:22

    • 签到天数: 1136 天

    [LV.10]以坛为家III
    4#
    发表于 2022-6-3 15:17 | 只看该作者
    不错不错，写的很有深度和专业，琢磨一下

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