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基于FPGA的NAND FLASH控制器

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A-Lin

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基于FPGA的NAND FLASH控制器
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主要介绍现场可编程阵列FPGA在NAND FLASH芯片测试仪系统中的应用,由于芯片本身内部结构非常复杂,还可以允许坏块的存在,而且坏块的数目在使用过程中还可以增加,这使得对芯片进行操作变得非常难,而利用FPGA对NAND FLASH进行控制,可以非常方便地对他进行读写、擦除以及坏块判断等几种重要的操作,从而能快捷、准确、稳定地测试出芯片的好坏,为NAND FLASH厂商和用户提供更为准确的判断依据。
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