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 电源模块热设计分析

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发表于 2019-7-4 09:03 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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电源模块热设计分析
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) ]7 F$ M, B: P" z6 Q: D
摘要:一摸电源模块的表面,热乎乎的,模块坏了?!且慢,有一点发热,仅仅只是因为它正努力地工作着。但高温对电源模块的可靠性影响极其大!我们须致力于做好热设计,减小电源表面和内部器件的温升。这一次,我们扒一扒电源模块的热设计。# U" l. g1 m: T7 a
7 e8 B- B) w$ P& q. Q
高温对功率密度高的电源模块的可靠性影响极其大。高温会导致电解电容的寿命降低,变压器漆包线的绝缘特性降低,晶体管损坏,材料热老化,焊点脱落等现象。有统计资料表明,电子元件温度每升高2℃,可靠性下降10%。对于电源模块的热设计,它包括两个层面:降低损耗和改善散热条件。7 V/ S- T, A& x+ j# m- n

6 Z* _* Q  S* s* J2 ~+ ?一、元器件的损耗* b9 g3 h4 v4 \5 l$ x* ^  n& Q4 s
损耗是产生热量的直接原因,降低损耗是降低发热的根本。市面上有些厂家把发热元件包在模块内部,使得热量散不出去,这种方法有点自欺欺人。降低内部发热元件的损耗和温升才是硬道理。9 B3 p; Y& o; N! q+ B

7 h4 `% K* n2 {+ u电源模块热设计的关键器件一般有:MOS管、二极管、变压器、功率电感、限流电阻等。其损耗如下:
) E; X2 K2 K  G3 k% U' [( B. a* M* i
1、 MOS管的损耗:导通损耗、开关损耗(开通损耗和关断损耗);
7 I+ h* U) W. Q! I2、 整流二极管的损耗:正向导通损耗;
. b3 W5 w9 t( x6 G- q4 W: s3、 变压器、功率电感:铁损和铜损;( j+ p, D5 a8 G% D! k/ ~
4、 无源器件(电阻、电容等):欧姆热损耗。6 S; Q) c3 o  }+ Q* k. F' S
; q  g; ]# a3 n- B( h  A
二、热设计
; d7 G6 M, ]! }+ U在设计的初期,方案选择、元器件选择、PCB设计等方面都要考虑到热设计。
* H+ o3 w& V; [0 I
# h8 \% ?/ k+ M3 l% {" a5 y0 b1、方案的选择* Y) }$ A) s8 Y
方案会直接影响到整体损耗和整体温升的程度。9 S, q, T" E3 Q  i

& m& K: U. ?# }8 ]/ Y7 K: E, h2、元器件的选择
, f, k0 Z! X) ~& ]% ?' W元器件的选择不仅需要考虑电应力,还要考虑热应力,并留有一定降额余量。降额等级可以参考《国家军用标准——元器件降额准则GJB/Z35-93》,该标准对各类元器件的各等级降额余量作了规定。设计一个稳定可靠的电源,实在不能任性,必须好好照着各元件的性子,设计、降额、验证。图 1为一些元件降额曲线,随着表面温度增加,其额定功率会有所降低。
) p( c; P# e, A# B: K5 }8 ?7 D. S1 w2 f# q) `  B
+ X: s! N; Y! E$ t7 `
图1 降额曲线* a' a% N' |. D; Z# [

9 T) D+ ?! I8 O  N/ I元器件的封装对器件的温升有很大的影响。如由于工艺的差异,DFN封装的MOS管比DPAK(TO252)封装的MOS管更容易散热。前者在同样的损耗条件下,温升会比较小。一般封装越大的电阻,其额定功率也会越大,在同样的损耗的条件下,表面温升会比较小。- E* f" a5 M7 d, Q: N  Z
% a( d) u6 R2 a( T+ M: _
设计中,要评估的电阻一般有MOS管的限流检测电阻、MOS管的驱动电阻等。限流电阻一般使用1206或更大的封装,多个并联使用。驱动电阻的损耗也需要考虑,否则可能导致温升过高。
: U& b- P+ h; e6 t' m, J; @9 t. |* A: @' J0 ~) {$ m
有时,电路参数和性能看似正常,但实际上隐藏很大的问题。如图 2所示,某电路基本性能没有问题,但在常温下,用红外热成像仪一测,不得了了,MOS管的驱动电阻表面温度居然达到95.2℃。长期工作或高温环境下,极易出现电阻烧坏、模块损坏的问题。可见,研发过程中使用热成像仪测试元器件的温度尤其重要,可及时发现并定位问题点。通过调整电路参数,降低电阻的欧姆热损耗,且将电阻封装由0603改成0805,大大降低了表面温度。
0 N- ?9 g: u* S# s$ ?' P$ F1 `5 k8 W; z2 I, o6 a& Q& C
: d8 M5 A* I, j" V
图2驱动电阻表面温度( r6 q8 j8 }2 \9 k% M2 ]
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3、PCB设计- B; l; ]  ]7 S6 k5 H- o# k, k
PCB的铜皮面积、铜皮厚度、板材材质、PCB层数都影响到模块的散热。常用的板材FR4(环氧树脂)是很好的导热材料,PCB上元器件的热量可以通过PCB散热。特殊应用情况下,也有采用铝基板或陶瓷基板等热阻更小的板材。" o" e) R+ j, e" m" g

! W8 B# b4 d4 D+ k0 ~6 ePCB的布局布线也要考虑到模块的散热:0 ^7 q# o3 g: {' J

, I4 ^( j6 r! D- y, J5 u/ a(1) 发热量大的元件要避免扎堆布局,不要哪里“热”闹,就往哪里凑,尽量保持板面热量均匀分布;: x  q$ y4 Z8 V# c
(2) 热敏感的元件尤其应该“哪边凉快哪边去”;$ m1 Q  B) z0 I" }6 g8 B0 |1 d
(3) 必要时采用多层PCB;  v( e  ?6 r& A
(4) 功率元件背面敷铜平面散热,并用“热孔”将热量从PCB的一面传到另一面。热孔的孔径应很小,大约0.3mm左右,热孔的间距一般为1mm~1.2mm。功率元件背面敷铜平面加热孔的方法,可以起到很好的散热效果,降低功率元件的表面温升。如图 3所示,上面两图为没有采用此方法时,MOS管表面温度和背面PCB的温度;下面两图为采用“背面敷铜平面加热孔”方法后,MOS管表面温度和背面铜平面的温度。可以看出:
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a) MOS管表面温度由98.0℃降低了22.5℃;; i: t9 Q( E+ f1 R6 L  Q
b) MOS管与背面的铜平面的温差大大减小,热孔的传热性能良好。; e% k& m; P! e( d6 T9 K* @

4 M2 n" G. f+ |) R
2 Z# H! _4 N8 m9 C$ S8 S% @) C) I' E图3 背面敷铜加热孔的散热效果+ H& W) T7 ?& O* M
; t, ~1 A, Z$ ?' e( f- K
热设计时,还须注意:% u! [% [, a& F) L
' R( n, S4 d1 V- T8 H" c. W7 A
1、 对于宽压输入的电源模块,高压输入和低压输入的发热点和热量分布完全不同,需全面评估。短路保护时的发热点和热量分布也要评估。
3 u" s" U* X, \) E5 q* ~  g# A
; w9 s: v  H, d) [1 ~" b5 R2、 在灌封类电源模块中,灌封胶是一种良好的导热的材料。模块内部元件的表面温升会进一步降低。即便如此,我们仍要测试高温环境下内部元件的表面温升,来确保模块的可靠性。那怎么才能测试准确地测试内部元件的温升呢?请查阅《ZLG是如何测试电源模块内部的温升的!》一文,文中有详细的描述。
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