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ADP2381稳压芯片的过压保护ATE测试研究

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发表于 2019-4-4 08:00 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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ADP2381稳压芯片的过压保护ATE测试研究
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本文首先介绍了芯片行业常用的测试方法和ATE( Automatic Test Equipment)测试的一般原理。根据ADP2381稳压芯片的系统构架和特点给出了该芯片的主要测试指标。结合ATE测试的技术优势,基于软件测试技术,以ADP2381过压保护功能为实例,提出了一种基于ATE测试系统的整体设计方案。测试结果表明该ATE测试系统能很好地完成ADP2381芯片过压保护功能的完好性测试。* k" C4 i# m" [3 e* b* l
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2#
发表于 2019-4-4 15:53 | 只看该作者
看看楼主怎么说的

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3#
发表于 2023-4-3 23:17 | 只看该作者
学习一下

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