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开放式FPGA增加测试灵活性

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发表于 2018-12-28 01:00 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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开放式FPGA增加测试灵活性# k! s$ j; x' a3 p# U0 t$ w% ^0 E
6 b! l# z& R# z$ n

现在的大多数仪器通过将封闭式FPGA与固定固件相结合来实现仪器的各种功能。如果您看过一个拆解后的示波器,您可能已经看过里面的FPGA.FPGA提高了测试仪器的处理能力,而且如果您会使用仪器中的开放式FPGA,就可以自己编写仪器的测试功能。- Z/ j* s. E- u& v

6 ^+ k; r* ?. B; G仪器厂商早就认识到FPGA的优势,而且也利用其独特的处理能力来实现仪器的各种特性:& H  R, ^+ a8 f( W( m. i, i

1 B/ B% I5 m3 B*在示波器上进行预触发采集
9 J; a, v, g: c" J' r
$ h1 S! g+ S% y9 T6 ?*在矢量信号分析仪上通过信号处理生成I和Q数据  D+ ^5 U6 U* Z3 X1 l3 J
7 d3 f, g! v9 A5 _
*实时实现模式生成和高速数字仪器的向量比较6 u( d4 P! ~6 r) |
9 S4 r5 F! k$ K- X* J) @  J

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