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下面提供美国军方的一个失效率表:
" h$ ^* z% V$ w+ i 摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页 - \ E9 q2 Z- t% P7 h
& V E4 R! ~ Y
部件 ..................... 失效率(%/1000小时) * V+ d2 W% W5 s% u# x4 m" L1 @
1.电容器 ................. 0.02
+ h) Q) H; B+ H8 C3 N1 z' m: j: | 2.连接器接点 ............. 0.005 , C! l5 O# k6 a
3.二极管 ................. 0.013
# _# O, l# y% {- _; U 4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015
! g! U/ P7 d# `9 G3 |4 g) x 5.石英晶体 ............... 0.05 / ^+ t; F; L, i3 ^# h0 m( B
6.电阻 ................... 0.002
+ c7 T0 T0 T) ]0 F9 C 7.焊点 ................... 0.0002
$ j {$ m; |; G/ c4 }) K 8.变压器 ................. 0.5 , [# R9 j5 }1 R% U/ I/ W- ^
9.晶体 ................... 0.04
3 x+ b8 I6 [4 L" W3 T" L 10.可变 ................... 0.01 6 o8 B: ?8 ^5 D( N) \$ u6 U7 H! o
11.绕线接点 ............... 0.00002 ------------! }+ x! ?7 T+ R3 q7 P* v
& `; z3 b7 Q" C) x3 G 平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。
$ g5 u8 h: h. u/ O* e 当然，这个表是假定了所有部件都是合理使用的。
9 T* q5 K* S3 _ 这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。 |
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发表于 2009-2-15 21:47
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