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下面提供美国军方的一个失效率表:
+ a, w$ h* {. \: ?2 { [/ T 摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
* ~4 C `" H# N" X
6 D0 V% t w- F7 Q 部件 ..................... 失效率(%/1000小时) + X2 j4 x; C4 g" C! T q, I6 f; x
1.电容器 ................. 0.02 2 \ K4 x4 q# Z/ }% a2 @( P- n7 G
2.连接器接点 ............. 0.005
+ \# V$ Q. t1 i 3.二极管 ................. 0.013
8 Q' v# r1 F1 E4 Z) c& U& F, U* J 4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015 ! y7 S6 [+ g7 C9 |! v& Y
5.石英晶体 ............... 0.05 5 B0 B: o5 O. J( v2 B* H$ C
6.电阻 ................... 0.002
4 F' ]/ B4 Y: ?, F6 H" S9 k: T: T2 q 7.焊点 ................... 0.0002
. x6 C; d! @: ~) a) T0 | 8.变压器 ................. 0.5
9 \; d8 _. C1 z& s7 c# j 9.晶体 ................... 0.04
7 ` N, Z, t! P/ K 10.可变 ................... 0.01
- x; A* v& q% g ` 11.绕线接点 ............... 0.00002 ------------!
3 B- Z1 Y) y1 S/ z- U" z% j
+ m! E: a6 i/ v6 {( \$ }0 B0 U: s3 _ 平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。
6 w$ I$ Y+ u8 l+ j6 P 当然,这个表是假定了所有部件都是合理使用的。
* s: q; t3 B5 L. s 这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。 |
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