Candence XtractIM 仿真的问题

tencome

求大神，问一下，使用 XtractIM 仿真对封装芯片颗粒进行RCL参数提取，仿真结果有两个文件，一个是IBIS文件，一个是PIN MODEL文件。

两个文件中，同样的信号，为什么RCL数据会有一点点的差距呢？  这个差距是怎么来的？

! v$ L, f& j6 g* f$ {) M  P6 p例如：A0: 电阻在IBIS文件中是0.62326， 而在PIN MODEL文件中是0.625292呢？

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jackli198323

是不是所处的频率不同？