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如何把芯片的EMI消灭在源头----从封装入手

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1#
发表于 2015-2-15 16:46 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-16 11:45 编辑 : @6 b& k- W+ `5 r: w( Q

; u5 I% ]% G: g7 d0 E( o下图是一块1994年的pcb,现在看来是很简单了,但是20多年前却是绝对的高大上。
( c( g3 q7 z0 O0 i' l它是一个ECU(engin contol unit)模块,是Motorola(摩托罗拉)给Chrysler(克莱斯勒)专门定做的发动机引擎控制单元,地地道道的发动机心脏。
, b3 x' Q* l3 e) r(那个时代的巨头们的风采,啧啧...)8 e; k) Q/ f/ X

7 R* w8 j8 u% z* R汽车电子对可靠性的要求,基本和军工是一个等级,所以对EMC的要求也是相当的高。7 K. J8 s8 a3 e7 a# T0 ^' K& l

: N0 w/ ?) c+ F: S! Q1 T- w; O1 q( g" J  y  U* _
图中红圈中是PCB上贴装的一个mcm芯片封装(QFP的,BGA技术还没商用),内部封了3个裸芯,三个裸芯具体的功能就不讲了。
5 m* A; n  z- r+ \; Z5 [为什么要把三个芯片做在一起呢?(那时多芯片封装还极少商用,主要是成本高,技术不成熟)
1 X" i$ L6 f. ?0 g7 gPCB上有大把空间,三个芯片单独封装完全可以放的下。! t3 V8 \, f. Y. E$ \" ~5 b
但是由于单独封装,芯片之间的互联路径太长,造成EMI辐射。问题解决不了,不得不尝试新技术mcm。* r  e, E; g+ S$ E1 _
mcm将三个裸芯放在一个封装里,互联路径短了,信号辐射就降下来了。
, S( o- d& Q( J: q' _1 d0 z- S1 W1 `% P0 t9 }
下两图是他们在采用mcm技术前后的emc测试对比。  q2 y+ z; |0 j) N! u7 [: E4 _

, G  A, i4 r6 S5 e. `/ X2 ]+ F1 M; G; l/ A. O- |# ^- [( T
所以封装的小型化,高集成度不失为解决EMI问题的一个好方法。
2 w7 c5 M6 [# G+ {: K未完待续...: z6 e+ Z: y5 \8 M* f
. b: J3 L( r- P5 L2 x5 ]
继续$ m9 E% P  ~0 E6 P
芯片封装里的电磁辐射来自哪里,看下图是贴在pcb上的封装好的芯片,我们常用的芯片基本都是这种塑封封装。
" Q5 Q8 n% U. M7 ]( h从外观我们看不出什么来,芯片被塑封料完全覆盖。
- j- m# X% I$ s9 O$ E; z9 g1 \6 Q. y % q% {3 g& q6 A& F/ J

2 X/ c0 ]4 w& A/ C继续看下图封装内部的图片,可以看到封装内部的互联金丝、基板走线、以及芯片上的布线等所有的互联结构。
/ C1 n0 m! F: P/ r- u塑封料只能对封装内部起到物理保护和化学保护,风吹雨打没问题。但塑封料对电磁辐射完去没有任何招架能力,所有的电路都是完全暴露在电磁环境下的。(可以想象一下,我们的pcb所有的封装塑封都去除掉后的样子,那是一大堆的光屁股裸奔芯片. c8 O5 g/ E  m
封装内部的辐射直接到空间,空间的辐射直接到封装内,尤其高频的芯片,更易产生EMI问题。5 p) w) v" l0 O) D% z0 ^6 \  q4 |* x
. C0 W$ p9 U) b

该用户从未签到

3#
发表于 2015-2-16 10:43 | 只看该作者
20年前绝对是顶尖技术!
  • TA的每日心情
    开心
    2024-2-21 15:59
  • 签到天数: 313 天

    [LV.8]以坛为家I

    4#
    发表于 2015-2-16 13:31 | 只看该作者
    第一次看到芯片内部实物图

    该用户从未签到

    5#
    发表于 2015-2-16 13:58 | 只看该作者
    20年前啊,想都不敢想,老外真是先进
  • TA的每日心情

    2025-11-21 15:00
  • 签到天数: 58 天

    [LV.5]常住居民I

    6#
    发表于 2015-2-16 15:31 | 只看该作者
    见识了,版主

    该用户从未签到

    7#
     楼主| 发表于 2015-2-23 13:22 | 只看该作者
    本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-23 13:37 编辑 1 {' G8 G8 R! \( e; |
    , m6 g' C) C3 L2 L3 P' `
    继续
    6 }5 O4 }7 Y9 J( q  M9 p' f小型化只是减小了EMI,并不能完全完全消除,所以sip封装有时候需要进一步的做EMI工作,终极的隔离屏蔽措施。) X& e% I) Y5 o/ k% Z
    下图分别是屏蔽盖、供形屏蔽、金属封装的。$ \5 e' X# h/ G' f" L/ c& s3 l
    ) u  y$ t/ h, ]4 \. v+ D/ p6 C
    屏蔽盖,有效的解决EMI问题,无论在封装级还是在系统级都是常用的,也是成本最低的措施。
    . u; K- Y6 g2 Q% U
    1 u* N! F5 K/ r* H! F5 U6 ?( N % ]7 m! J0 ^$ H  K% N6 J
    共形屏蔽,在塑封的表面溅射一层金属,并与IC载板的地层连接在一起,这样所有的元器件都被包裹在屏蔽层内,与外界电磁环境完全隔离。
    8 n* P6 Q7 r6 ?- l
    ' q3 _; U6 \7 n4 c: L1 F' O: h8 Q! I, H5 D. B
    金属屏蔽,用金属壳体将芯片等完全密封起来,屏蔽效果最佳,成本也高。
    " g/ V0 H: x6 G6 Z2 i" n9 S4 m, t* y8 X
    最近几年最IC载板内埋器件的厂家也越来越多,这也是在封装级解决EMI的一个独到方案。2 w) T$ p" a/ }$ m
    详情参阅:https://www.eda365.com/thread-105112-1-1.html6 h% p0 n  C$ k3 V8 R3 T* c8 n8 a

    & Y2 c' T" p# v$ t' P" G/ Q2 S* M5 Q" m/ @8 P) I
    对sip来说,采用屏蔽盖和共形屏蔽层,将封装内部电路与外界电磁环境完全隔离,对去除EMI效果相当好。
    , }" Z2 o0 X' F8 v( o但由于屏蔽层距离芯片太近,处理不当却会适得其反,引起封装内部电路的相互干扰。  U% s3 }* v+ |  [* U4 d) |; u
    如下图分别是共形屏蔽和屏蔽盖挖空处理,即将敏感部分或干扰源部分的屏蔽层挖空(与地平面分割原理类似),防止引起封装内部干扰。
    % v. K8 ?' F1 O$ e7 I5 {4 ?    5 F- B% }2 \4 K+ o/ e' A2 ?
    ; q) }9 G& e5 M6 u. l) E
    . X( T5 [4 |5 r9 K

    该用户从未签到

    9#
    发表于 2015-3-11 09:29 | 只看该作者
    以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

    该用户从未签到

    10#
    发表于 2015-3-11 10:17 | 只看该作者
    20年前绝对是顶尖技术!以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

    该用户从未签到

    11#
    发表于 2015-3-15 09:06 | 只看该作者
    可望而不可即的,都没接触过这方面

    该用户从未签到

    13#
    发表于 2015-3-16 09:55 | 只看该作者
    很好很强大的技术啊

    该用户从未签到

    15#
    发表于 2016-2-22 16:49 | 只看该作者
    太厉害!最近看到新闻《苹果已委托星科金朋和艾克尔负责iPhone 7主要芯片的EMI屏蔽处理》,是不是就是用金属层隔离呢?这种方式能够实现所说的“能更精细地组装电路板,一旦芯片之间的安装空间减小,多出来的空间就能用来安装更大容量的电池”吗?还是采用的内埋的方式?求大神不吝赐教!

    点评

    内埋成本太高了,iphone7主要还是采用溅射金属--共形屏蔽。  详情 回复 发表于 2016-2-22 20:06
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