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如何把芯片的EMI消灭在源头----从封装入手

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1#
发表于 2015-2-15 16:46 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-16 11:45 编辑
0 y) q6 `/ \5 f9 K3 B) ~& ^. {) ^1 k0 |
下图是一块1994年的pcb,现在看来是很简单了,但是20多年前却是绝对的高大上。' k$ @8 r; n' v. L+ e5 \" z4 m
它是一个ECU(engin contol unit)模块,是Motorola(摩托罗拉)给Chrysler(克莱斯勒)专门定做的发动机引擎控制单元,地地道道的发动机心脏。9 k/ f1 _: P' D. t0 P
(那个时代的巨头们的风采,啧啧...)9 O1 A" X; ?/ G" Q/ W, b+ a- p

. P6 Y6 V8 v; s5 g& p汽车电子对可靠性的要求,基本和军工是一个等级,所以对EMC的要求也是相当的高。+ o( D9 R& x6 R; I# Q- q- S
4 `# [0 a" v7 I) @1 G
" A4 f$ R& {1 w0 l9 T/ h
图中红圈中是PCB上贴装的一个mcm芯片封装(QFP的,BGA技术还没商用),内部封了3个裸芯,三个裸芯具体的功能就不讲了。
1 _% |: ~% L4 B. C: z, C8 V1 x为什么要把三个芯片做在一起呢?(那时多芯片封装还极少商用,主要是成本高,技术不成熟)0 W. v5 |7 D0 w
PCB上有大把空间,三个芯片单独封装完全可以放的下。
- e0 B$ @# S; O  ~! B但是由于单独封装,芯片之间的互联路径太长,造成EMI辐射。问题解决不了,不得不尝试新技术mcm。: I- F3 w9 Z0 w
mcm将三个裸芯放在一个封装里,互联路径短了,信号辐射就降下来了。) ^* C* e, h7 o! q. B
+ o" M5 L# }. g8 J7 U" ~
下两图是他们在采用mcm技术前后的emc测试对比。
- ~, m, K% y8 b , ~9 m+ H2 n* x  l; ?3 b9 P

' Q* o* w: m) J* U5 x0 F# m所以封装的小型化,高集成度不失为解决EMI问题的一个好方法。+ k$ X. X- N1 Q
未完待续...
6 l6 B+ x+ x( v! Y' l0 p  C9 _
8 W7 P* j' e$ ~  |9 u继续2 i6 k0 J6 \3 Q( b: p
芯片封装里的电磁辐射来自哪里,看下图是贴在pcb上的封装好的芯片,我们常用的芯片基本都是这种塑封封装。
' E9 u- j( m, ?0 \( _0 @从外观我们看不出什么来,芯片被塑封料完全覆盖。9 A+ K& q8 S; N3 F

* {  H, Z6 W; c/ @$ \
! J/ b9 t, t2 T  F& T6 ]# l! C; r继续看下图封装内部的图片,可以看到封装内部的互联金丝、基板走线、以及芯片上的布线等所有的互联结构。+ d3 P! L, V3 C6 c6 G' M; z2 f
塑封料只能对封装内部起到物理保护和化学保护,风吹雨打没问题。但塑封料对电磁辐射完去没有任何招架能力,所有的电路都是完全暴露在电磁环境下的。(可以想象一下,我们的pcb所有的封装塑封都去除掉后的样子,那是一大堆的光屁股裸奔芯片- X2 {5 t9 N7 T
封装内部的辐射直接到空间,空间的辐射直接到封装内,尤其高频的芯片,更易产生EMI问题。
# h" c2 I9 t$ E3 p% G
0 ?2 ?9 n8 b! G" x

该用户从未签到

3#
发表于 2015-2-16 10:43 | 只看该作者
20年前绝对是顶尖技术!
  • TA的每日心情
    开心
    2024-2-21 15:59
  • 签到天数: 313 天

    [LV.8]以坛为家I

    4#
    发表于 2015-2-16 13:31 | 只看该作者
    第一次看到芯片内部实物图

    该用户从未签到

    5#
    发表于 2015-2-16 13:58 | 只看该作者
    20年前啊,想都不敢想,老外真是先进
  • TA的每日心情
    郁闷
    2025-4-28 15:02
  • 签到天数: 13 天

    [LV.3]偶尔看看II

    6#
    发表于 2015-2-16 15:31 | 只看该作者
    见识了,版主

    该用户从未签到

    7#
     楼主| 发表于 2015-2-23 13:22 | 只看该作者
    本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-23 13:37 编辑
    % J  b# ^6 X5 q/ k
    $ F# _: F8 G/ ^! y继续; G( X: ~! x  m
    小型化只是减小了EMI,并不能完全完全消除,所以sip封装有时候需要进一步的做EMI工作,终极的隔离屏蔽措施。$ ~* O7 K& }: v  H
    下图分别是屏蔽盖、供形屏蔽、金属封装的。
    3 M  \% L/ M2 w  e5 K$ f
    . c+ a( T% f" b6 T( y" c屏蔽盖,有效的解决EMI问题,无论在封装级还是在系统级都是常用的,也是成本最低的措施。" J3 E( x$ V8 h. i- V; N2 h

    * v" u! r' d; [9 G
    7 w  l8 W9 j" _1 D共形屏蔽,在塑封的表面溅射一层金属,并与IC载板的地层连接在一起,这样所有的元器件都被包裹在屏蔽层内,与外界电磁环境完全隔离。
    ( c0 A/ A5 L5 J( J* ]  v) a
    1 t% T) R, E' d( r& n; {. K  ^
    . [' H  U3 j+ e3 T# x5 F金属屏蔽,用金属壳体将芯片等完全密封起来,屏蔽效果最佳,成本也高。1 H9 O8 f" |# j' B6 \% w6 ?

    7 U* ~6 ?, h4 t" b最近几年最IC载板内埋器件的厂家也越来越多,这也是在封装级解决EMI的一个独到方案。
    7 L4 J& Z! g  p详情参阅:https://www.eda365.com/thread-105112-1-1.html
    : h. ]- b+ y% Q  w( z: S' ]- @; H$ i0 j  f* R! \4 ^

    3 o7 C  O! N- D& [( H对sip来说,采用屏蔽盖和共形屏蔽层,将封装内部电路与外界电磁环境完全隔离,对去除EMI效果相当好。
    + o6 g, C  f- I* q2 G但由于屏蔽层距离芯片太近,处理不当却会适得其反,引起封装内部电路的相互干扰。
    : ?" m& ~0 l4 n* c$ G1 q如下图分别是共形屏蔽和屏蔽盖挖空处理,即将敏感部分或干扰源部分的屏蔽层挖空(与地平面分割原理类似),防止引起封装内部干扰。+ e/ u  O. o5 i9 L
       % S  O# `: q3 `! {
    9 e$ j5 u& m" E: c$ v1 \

    2 e& R3 w1 g) {% X# z

    该用户从未签到

    9#
    发表于 2015-3-11 09:29 | 只看该作者
    以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

    该用户从未签到

    10#
    发表于 2015-3-11 10:17 | 只看该作者
    20年前绝对是顶尖技术!以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

    该用户从未签到

    11#
    发表于 2015-3-15 09:06 | 只看该作者
    可望而不可即的,都没接触过这方面

    该用户从未签到

    13#
    发表于 2015-3-16 09:55 | 只看该作者
    很好很强大的技术啊

    该用户从未签到

    15#
    发表于 2016-2-22 16:49 | 只看该作者
    太厉害!最近看到新闻《苹果已委托星科金朋和艾克尔负责iPhone 7主要芯片的EMI屏蔽处理》,是不是就是用金属层隔离呢?这种方式能够实现所说的“能更精细地组装电路板,一旦芯片之间的安装空间减小,多出来的空间就能用来安装更大容量的电池”吗?还是采用的内埋的方式?求大神不吝赐教!

    点评

    内埋成本太高了,iphone7主要还是采用溅射金属--共形屏蔽。  详情 回复 发表于 2016-2-22 20:06
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