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DDR3损坏机制

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1#
发表于 2014-8-5 14:03 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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各位大侠,最近遇到客户返回的机器开不了机的,核查发现DDR3坏掉了。现在还不知道是什么原因导致DDR3坏掉的。

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2#
发表于 2014-8-5 14:13 | 只看该作者
什么产品?多少PCS这样DDR3坏?

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3#
 楼主| 发表于 2014-8-5 14:22 | 只看该作者
Aubrey 发表于 2014-8-5 14:13
( P' x! x* \: u3 u/ p& F什么产品?多少PCS这样DDR3坏?
* y) a4 K3 h2 Q; ^
TV-BOX,目前尚不清楚概率,出现过2pcs

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4#
发表于 2014-8-5 18:57 | 只看该作者
是怎么坏的?   你只是单纯的检测不到内存  或者内存烧了?或者其他现象   坏有很多种   最起码要找到最直观的现象  才有可能考虑原因
  • TA的每日心情
    郁闷
    2025-4-28 15:02
  • 签到天数: 13 天

    [LV.3]偶尔看看II

    5#
    发表于 2014-8-5 19:19 | 只看该作者
    楼上分析的对

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    8#
    发表于 2014-8-11 14:20 | 只看该作者
    这个你要是有条件可以拿去磨片分析看看,内部现象,你很简单的说烧了或者坏了,这个给分析带来难度是吧,呵呵
    9 ?  [  t# `: g' w2 hDDR总线PCB走线多,速度快,操作时序复杂,很容易出现失效问题,失效大概可以分为以下几类:
    7 S% H' [+ {( r$ X3 Y+ ~* e1) 上电时序出错
    9 X2 P$ x6 [6 Y) x# G( P4 o. C4 Y2) 操作时序违规
    0 n( ]8 h7 Z" K/ g3) 协议违规
    8 _" E! V3 Q6 @8 K8 C+ _' w. p4) 时钟信号完整性问题7 K; _/ e& F) t: L$ B; k
    5) 小概率信号完整性问题: O+ v. l6 h5 X( q9 f
    6) 其他,如不正确的ODT参数设置;非法的CAS Latency潜伏时间;SPD参数错误
    + D0 [3 g- A+ ~当有问题出现时,即出现失效时,我们需要用仪器测试和分析来解决问题,首先需要使失效可重复发生(此处很难,我们可以运行Memory Test软件使系统工作在加压状态。一般做系统或DIMM测试的都有Memory Test软件),然后对失效可能原因进行分类(上面是供参考的失效原因分类),然后选择测试内容,用仪器进行测试分析。
    . o3 P" n& P" n/ R- J总体思路是:通过快速检查和自动工具排除问题,缩小问题范围;对可能的问题根源进行深入的测试和分析。2 H$ J3 x: \( T, t, M! I' M$ B
    逻辑分析仪是常用的缩小问题范围的工具,因为它能够同时查看几十路、几百路、甚至几千路信号,从宏观观察和分析问题。当逻辑分析仪缩小问题范围后,示波器是非常好的工具,能够从细节深入测试和分析信号,找到问题的根源

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    9#
    发表于 2014-8-11 14:22 | 只看该作者
    weihuaping118 发表于 2014-8-11 14:206 r" p  ~" |7 f6 @+ k
    这个你要是有条件可以拿去磨片分析看看,内部现象,你很简单的说烧了或者坏了,这个给分析带来难度是吧,呵 ...

    * U# X7 @$ n6 n$ z* z% s像电源过冲,单调性等电源问题都有可能,主要还是看芯片是哪里损坏。

    该用户从未签到

    11#
     楼主| 发表于 2014-8-11 19:24 | 只看该作者
    weihuaping118 发表于 2014-8-11 14:20
    + d/ }' z3 \1 ?( F: l  e这个你要是有条件可以拿去磨片分析看看,内部现象,你很简单的说烧了或者坏了,这个给分析带来难度是吧,呵 ...

    . k; a7 A9 w* z# a' @& s说得很好,遇到问题是应该好好查清楚才对,但是现在的消费类电子企业,都心浮气躁,产品不稳定便冲冲上市。
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