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[Cadence Sigrity] Speed2000新功能SI Mertrics信号质量指标检查-中文视频教程

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发表于 2012-5-8 11:29 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 shg_zhou 于 2012-5-9 22:19 编辑
/ k# e& d3 Z& O+ [" T
/ t3 J6 i8 E( r4 i7 \1 vSIMertrics是针对Intel提供的要求,sigirty订制的PCB布线检查流程,该流程是通过speed2000,检查PCB布线是否满足信号完整性的性能指标,由于目前电子产品的速度高,功耗大等情况,传统的线宽,线长,间距等布线要求,很难满足产品最终的设计要求,所以,厂家提供信号质量指标,通过speed2000仿真,检查仿真结果是否满足厂家提供的信号指标数据。' B1 P! u8 n$ i" S- |
9 e3 J. x  o. k0 G
数据输入:: P* u" j: O$ p5 [: t. S
布线完成的板卡文件
  e" `, I* ?! N; b. Z  \8 N+ q信号激励(软件SI Mertrics向导流程中可以指定,不需要IBIS,spice等模型)。- j0 V. K$ D7 ?! X  M' t1 I. J

9 O1 ]+ V- O( [0 C( X/ I# @/ P( b结果:4 b' |; H/ r3 b+ X$ z3 W6 }
完整的SI指标报告。
' x+ f1 A. j& W% U) B  h. U9 [8 }3 S2 @2 z+ k3 s( D

. n" i" F. g, P0 Q& `0 ^3 @/ k6 n' V$ a1 c- Z- c. e

7 I: S3 W5 P+ F3 t7 X" Z: [. |
游客,如果您要查看本帖隐藏内容请回复
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4 E% W5 k4 z  A5 x6 _! _; F; R1 |+ M8 t
发个简单的结果报告看一下:  j9 D4 a6 k4 L7 [: P: F( c
, e/ S2 k% g1 [% h8 k& e' h9 M

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发表于 2018-3-27 15:08 | 只看该作者
信号质量指标检查-中文视频教程 [修改]$ X/ t  H( u0 W& Y3 f8 A) U

该用户从未签到

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发表于 2018-3-29 22:03 | 只看该作者
看看,谢谢分享。正在学习这一部分内容
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    , t# x4 t0 ?5 b$ z- p

    该用户从未签到

    5#
    发表于 2012-5-8 14:39 | 只看该作者
    不是很懂,这个是干嘛用的?: b+ U9 ^! K4 K+ O& \8 K0 ~
    检查PCB布线是否满足信号完整性的性能指标?

    该用户从未签到

    6#
     楼主| 发表于 2012-5-9 22:15 | 只看该作者
    检查你板卡上的布线,是否满足信号完整性指标,比如:近端串扰,远端串扰值,码间干扰,等等。
    " N% @1 C! O' E( r以后芯片企业例如intel会提供这些指标的标准值,如果不满足要求,需要修改布线的。

    该用户从未签到

    7#
    发表于 2012-5-14 20:20 | 只看该作者
    学习一下!谢谢

    该用户从未签到

    8#
    发表于 2012-6-1 13:32 | 只看该作者
    好资料,谢谢楼主提供!
  • TA的每日心情
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    9#
    发表于 2012-6-4 11:53 | 只看该作者
    很是不错

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    10#
    发表于 2012-6-4 18:00 | 只看该作者
    看看好东西

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    11#
    发表于 2012-8-5 17:02 | 只看该作者
    谢谢分享

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    12#
    发表于 2013-4-7 21:27 | 只看该作者
    这个功能不是很理解,如果不需要芯片的模型的话,那芯片内部的走线的影响如何考虑进去呢?毕竟有的芯片内部走线也是很长的啊。还是说这个仿真出来的仅仅是PCB板上到PKG处的结果而不是到芯片DIE的结果啊。希望楼主能够帮忙解答下~~~谢谢了~~

    该用户从未签到

    18#
    发表于 2017-1-19 14:29 | 只看该作者
    2 [; V) l: n) @$ |1 J9 z6 S4 F
    要下来看看,希望能帮到自己
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