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微电子器件可靠性的失效分析

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发表于 2021-10-9 10:08 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
本次课主要内容:
6 M- Y+ p5 W- b# q: T. P1 n/ M5 ?5 p, P
第四章 失效分析
; L0 n- g& R' z1 E+ C8 c% @1 r4.1 失效模式与失效机理
' o. ]' \5 H0 d$ h& X! _4.2 失效模型
. z* X, [& Y$ r* [- O7 l& B+ r4.3 失效分析的内容与程序, d5 }  G; l2 W
4.4 微分析的物理基础% ]; C" ]$ r' y  b  p, w( M$ h& K
8 }8 g2 i; w- k6 j1 t6 k4 S* S
补充材料:失效分析图片. P2 F% X+ S* }9 m

) h0 V6 h& T# y9 S- N0 x本次课要点:
5 j* K- M2 ?0 }1 S. Z& U# K1、失效模式与失效机理定义区别3 J- y3 U% `( }) Z
2、了解几种失效模型;6 N$ p( m7 i( ?  ?* i- Y
3、掌握失效分析基本原则程序;
9 ?$ C9 u) [- G: Q: @4、了解微分析技术的物理基础。3 \/ _, a2 w" b3 I. Y1 a( }

) l# A, N+ \4 w7 [附件: 微电子器件可靠性的失效分析.zip (6.16 MB, 下载次数: 1)
$ L: w1 R7 A7 W+ [( u* O) L& K2 {: I" Y

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2#
 楼主| 发表于 2021-10-9 10:48 | 只看该作者
串联模型——绳子从最细处断' s, e' F4 P* m
这个模型很重要

该用户从未签到

3#
发表于 2021-10-9 10:49 | 只看该作者
有的失效可恢复(如雪崩击穿),有的不可恢复(如ESD),不可恢复的每次损伤都有影响,累积起来最终导致器件失效。4 Q. c( {( I+ E
步进应力和序进应力试验就是以这种模型为依据。# `3 J# D$ V) e/ d
      (应力不增加额外的失效模式)2 I) r" h) ^7 E6 }" m
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    2023-5-15 15:25
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    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-10-9 13:57 | 只看该作者
    先做外部分析,后做内部(解剖)分析
  • TA的每日心情
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    [LV.10]以坛为家III

    5#
    发表于 2021-10-9 15:06 | 只看该作者
    不错不错,分析的很是到位,内容全面丰富,很有指导和实用性,学习下
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