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在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?

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1#
发表于 2020-4-9 10:23 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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你好,. Y9 g6 o7 w# `1 ^1 L+ J! B; W: W+ y
我目前正在研究一个项目,我需要在两个替代设计选项之间做出决定,我必须考虑可靠性分析。(我不需要担心我的设计中的软错误效应)8 f+ k* ?. t% _; d2 [  Y
根据我的研究,我发现FIT值是FPGA可靠性的基本标准。, C) C. q8 `* D4 [0 U
在第一个设计中,我计划使用XC6SLX25T(Spartan6-0.045um-FIT:11)FPGA,另一个使用XC6VLX550T(Virtex6-0.040um-FIT:8)。. V! k$ w% ^7 y1 ?! E1 @- \
当我看到“UG116 xilinx器件可靠性报告”时,我看到所有FPGA的FIT值都归类于工艺技术中,而Virtex6的FIT值明显低于Spartan6(约为34%)。
5 I8 z2 ?' l; u; T! F/ `/ I$ j. ^我好几天都在搜索这个话题,但我找不到确切的答案。
( d2 y" j. r( N+ H  R& w$ ^为什么FIT率被归类为工艺技术?我观察到工艺技术和FIT值之间没有直接的相关性。. Q% n1 P" F+ d. C- w# }
为什么Virtex6与Spartan6相比具有更小的FIT值?
3 Q4 s$ z4 G$ u# v  T4 f" T为什么在相同的工艺技术FPGA之间的芯片尺寸或栅极数量没有区别& {  J7 L8 c( t: Z7 q# E0 ~- F
在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?: z( {7 a% B* i: E, W

该用户从未签到

2#
发表于 2020-4-9 11:30 | 只看该作者
由于已发布的硬故障率基于实际数据(故障),因此它就是这样。
- H! ~' z. T0 @- e2 F在特定技术节点上创建设备所需的一切复杂性几乎是无穷无尽的。1 ^8 k+ @# T2 Y7 A+ A
因此,一个部件的一个故障容易改变数量。
7 U0 q% l5 \$ C* L& v+ o* N$ n此外,此数据的置信区间为60%,这意味着真实或实际的故障率很容易变为表中的一半或两倍。
$ V; v3 S- u1 K& `8 n( `$ f这不应该是选择哪个家庭的考虑因素(它们都是如此之低以至于完全等同)。
4 Q0 d6 x  z: U% F" R即使您正在构建数百万个单元,也几乎不可能看到您选择的硬故障率有任何差异。
% d( @* h# w1 Z9 s当然,你如何使用该部件将完全控制你的现场失败率(例如,炎热的环境总是导致比温带环境更多的失败)。
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