找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 487|回复: 1
打印 上一主题 下一主题

失效分析之设计中存在的问题:ADF4360没用输出管脚的匹配处理

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
发表于 2020-2-26 14:25 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
本帖最后由 pulbieup 于 2020-2-26 14:27 编辑
4 t0 h7 V- E* a: x# @! F2 G9 A; n# D2 Y! C, v
一. 概述
3 m2 f2 h7 x9 C. E, w$ d+ [9 f2 y, w( L! _/ i; Y

" {3 @' D2 G+ c/ a- Y
/ A' b5 W9 G# q4 g8 i* M
0 L6 Y6 v' ~3 a, n3 U8 u二. 结论
1 E- R3 K- ]/ Y9 b! d/ @5 F4 ^1 ~3 [  _  B+ Q8 N
芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁,为设计上的问题。' p: P) Z, V/ u; L+ _

, m5 e& w: E$ G& }( e: d7 @" ? 6 P' G7 T4 G8 V$ a
+ ]0 }: g1 K6 d8 {( J
三. 分析过程( m2 T# O7 p0 c1 j# o3 Q2 S

. h4 x' N+ p. D% l4 q* |3.1 失效确认8 j7 F4 ^8 Y4 j( d: h6 o, m  |

% j. B2 C) X% N- K/ S( ]把器件换到正常的PLL板上测试发现PLL无法锁定,ADF4360输出频率不对,且输出相噪很差的信号。
6 U, O+ ?- P2 B1 q# [9 o/ I8 y2 F1 v& b7 R. k
' D3 B5 E4 K! Q) q2 D
, ^# T$ E9 p) b+ s" u
把失效器件更换到评估板上测试,改变评估板软件的输出频率,ADF4360-7输出频率(423MHz)不变,且输出相噪很差的信号。测试ADF4360-7 Vturn电压只有几十mV。
* r9 l6 ]4 `( q5 Y! R  h& J# ?* I/ `* c8 ?4 F% b! y

) S6 l5 ~8 j# ^1 G' c1 m% O1 b# E* v" J, ~, i

' W, E2 v( u* [* a* J4 _) {. ?: h
6 l/ k7 c6 L9 i" C. g; a; p
. D' C  S4 I5 M( y' P) b  o
/ V& v( z* J$ P0 {8 }) A+ q- U. i% w8 M7 z
更改配置软件的Core Power Current(改小)电流及RF Output power(改小)能使输出恢复正常。& \0 I* `' ]$ ]

: |8 a2 k6 C* @: B+ m& \) s! m3.2外观检查, S6 J7 Q' R* j+ O. A4 y2 d

6 B& A" W+ h/ Y/ k1)外观检查,没有发现外观损坏情况。
& r+ r( O& M- C8 Q- S$ f& y7 C6 B6 j  \( K
8 R1 z3 W1 X- ]" Q+ y9 v6 X+ H
0 a+ J4 s# n' i0 z' M! a0 A8 }) n

6 a& `; Q4 B( P0 O' e8 g   3.3 X-Ray检查! W8 n! q: t$ t( I+ |

6 F) S$ R8 a0 n& x3 i1)X-RAY检查无异常。9 K: U4 d1 o+ n, u6 v: X) \
# {: q, l1 A6 S" }2 N7 I
" l, z+ [8 w6 J- B+ Q
   
5 X$ M! H" m4 ]
+ }* M0 a6 N% ?/ a" N3.4 管脚电阻测试" e; }, B8 i, ~0 h. x+ Y( A3 c5 d/ }; ?

8 X# F5 |+ x* @6 X# q  z管脚电阻测试正常芯片与失效芯片对比无异常。
/ I. X3 R; ]1 t
. y/ S. s, E/ [8 J
# z, s. D$ R; u- L$ J8 W* a* L/ D( P7 F! [; g
& i! R6 g9 p% [3 t& K
3.5 管脚IV特性曲线测试
" Q( I; m, m; Y; ]+ z- V& v! N6 i! r) M6 n/ y
管脚IV特性曲线测试正常芯片与失效芯片对比无异常。
5 E3 ]" b* I% f- ?
" Y' g. b4 M+ E7 t* C5 Q3.6 DECAP# o+ L+ A, Y" ]& k5 {

/ g  [& |5 h0 j0 Y: c4 j开封1 PCS失效样品与正常样品,开封观察芯片内部结构复杂,且表面覆盖了一层金属层,无法观察到异常5 {# i; a  N/ p+ Y
. ]4 h! i& V' ^9 u" v5 j
! m5 i1 Y" O5 B, G1 `- q( D9 r

" k5 d; @! }; j* [1 N1 I
  J7 E. ?* o; ^9 y$ `/ ?
2 A/ U/ M  |, J7 u& ~/ W$ {. Z
0 g2 ^6 ~0 m2 H. G- `
' N' S" x: @2 `6 ]% V% J3.7后续补充# e! \0 |2 L* q: s# n2 g) }

' c( x) h% d1 A& d7 F, z后续ADI的亚洲区技术支持工程师专门来现场确认,现场更改了电路板及评估板的一些参数,包括更改环路滤波的参数,也没办法解决出现的杂散问题,带回了2PCS失效样品回去分析。
- J! d  X+ r; u2 z5 U2 n. A
8 s# q+ O2 i) q) w  u1 S, J4 `) u带回去的2 PCS失效样品他们确认是没有问题的,他们的工程师建议我们在没有用的RFoutB上加上一个50Ω的负载再测试看一下。) e; o9 W9 F  }5 d' v( H

9 P8 _, D" M1 `排查我们内部的评估板及PLL板发现我司的评估板及PLL板RFoutB均悬空,对Vvco加51Ω电阻后失效的芯片均恢复正常。
  |2 m4 v- e' f# o8 D( J4 A- u; [1 P8 V8 m" v% N

5 ^" k- }) d( h7 a
: Z) |( M! @% Y; ?$ N8 o查阅芯片手册发现芯片的RFoutA及RFoutB输出均为差分输出。
1 d" m1 D  G( i4 ~. W( s) p& |! A  @1 D! b

9 _% e1 v/ J0 a* S" W( u; x
$ L6 M3 |5 C* e7 \: y1 oRFoutB悬空,导致恒流源电流全部从RFoutA输出导致的三极管电流过大,产生杂散及失锁。从改小Core Power Current能使芯片输出恢复正常也能从侧面说明此问题。且芯片手册上也有要求没用的输出管脚必须要做匹配处理,具体请见芯片手册。% G9 S" u+ i/ d* O3 G+ E4 _
3 C* v2 O2 ^* j+ y# R
四. 结论$ O6 `* F4 c9 @$ P3 D

) }$ B7 s6 K: K, e2 v' a% t. q9 F芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁,为设计上的问题。+ d, c6 Y4 a' n0 Y" ?: _; R1 |; l8 a

- }1 j2 R& _1 V+ K* Q! K0 ?

该用户从未签到

2#
发表于 2020-2-26 18:31 | 只看该作者
ADF4360没用输出管脚的匹配处理
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

GMT+8, 2025-11-24 19:59 , Processed in 0.171875 second(s), 26 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

快速回复 返回顶部 返回列表