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常用元器件失效模式及解决办法

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发表于 2023-1-28 10:35 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 winushej 于 2023-1-28 10:36 编辑 0 _/ x+ F# P; V# R+ b
1 R2 i+ F, b' A- `0 U$ d; ]6 O
电子元器件主要包括元件和器件,电子元件是生产加工过程中分子成分不被改变的成品,比如:电容、电阻和电感等。电子器件是生成加工过程中分子结构发生变化的成品,比如:电子管、集成电路等。) r, y  i# s& t, c# v
8 `$ Y* E9 D4 p! k( _
电阻类元器件
$ b& ?' N6 j$ O; b+ B( g电阻类元器件出现故障在电子设备中占很大的比例,电阻可以分为分流、降压、负载、阻抗匹配等功能。根据构造的不同,电阻类元器件可以分为线绕电阻、非线绕电阻。* v0 C7 ~5 R1 o, `5 p+ ]3 t; ]
电阻类元器件失效的主要方式有接触损坏、开路以及引线机械损伤。
- F' @9 I+ X# L& z温度变化对电阻的影响主要是温度升高时,电阻的热噪声增加,阻值偏离标称值,允许耗散概率下降等。但我们也可以利用电阻的这一特性,比如,有经过特殊设计的一类电阻:PTC(正温度系数热敏电阻)和NTC(负温度系数热敏电阻),它们的阻值受温度的影响很大。4 \$ y; u9 q* w) D' P4 n) O9 c1 O
机械振动会使焊点、压线点发生松动,导致接触不良等机械损伤。
6 b0 O) B( }2 F8 L# d
. Y/ }! {4 ?9 G& A电容类元器件
$ d# r% I8 T/ g8 S电类元器件失效的主要方式有击穿、机械损伤、电解液泄露等。
) z8 ?3 d* P4 `8 V. R, E! Z" O电容出现击穿的原因主要有:1、介质存在缺陷、杂质和导电离子;9 T+ l: G2 @6 v4 \1 X0 w
2、介质出现老化;3 e3 t& q1 X" |8 u6 A
3、介质材料存在电、气隙击穿;
7 F/ w) o! H# I* z4、制造加工时介质有机械损伤;$ {9 u2 O* Q5 S8 s! i8 T
5、介质分子结构出现变化;
" |2 F: p) E3 |6、金属离子迁移构成导电沟道或边缘飞弧放电。) {; ~, Y9 ~. K! h

4 |1 \2 Z0 S6 W3 ~' \
电容失效也可能是开路造成的,引出线与电容接触点氧化导致低电平开路,引出线与电极接触不良,电解电容器阳极引出金属箔由于机械折断等造成开路故障。此为,电容也可能因为电参数退化故障而导致失效,比如:电极材料金属离子出现迁移、材料金属化电极自愈效应、电极的电解腐化与化学腐化、潮湿、表面污染等都可能造成电容的电参数退化。
3 l9 @$ Z9 Z* @% B1 @/ H8 d" G! Z* A0 D8 m& J+ D

9 D- l6 C% D! _5 M4 l9 T电感类元器件' |& I, n2 z( X
电感类元器件涉及到变压器、电感、滤波线圈、震荡线圈等。电感类元器件的大部分故障是外界因素导致的,比如:变压器的温度升高、负载短路使线圈经过的电流过大等,都会使线圈出现短路、短路以及击穿等故障。
( l5 t  u) L. k" M  l, N在集成电路中,不论哪一部分出现问题,整体都无法正常运行,比如:电极短路、开路、机械磨损、可焊接性差等都会失效。失效主要分为彻底损坏和热稳定性不良等,热稳定性失效主要出现在高温或者低温,超出了器件的工作温度范围而失效。$ e# `% S$ f# C' z. Y# Z

" M, d# j/ w$ u8 }8 F; r
: g: h* |1 ?) j" ^解决方法8 Z& Y# S! I' t
那如何有效的找到失效的电子元器件,并更换或者修复问题呢?$ B' X3 T9 M; [" h3 S$ m$ L4 s: |, H$ m
在调试中,出现电路无法工作或工作不正常的问题时。首先通过动态观察法,就是将线路设备通电的情况下,听、看、摸、闻等方法对电子元器件的故障进行判断。比如:听设备是不是有异常的声音,仔细看电路内有没有冒烟、火花等情况;摸一摸元器件、电路有没有发烫的情况;闻一闻有没有焦糊等味道。也可通过万用表测量电路中通断情况,通过测量正常与不正常电路中各类值来判断。" S6 e- K1 P5 V- Q: n

' X! G5 w8 ]  J- v8 ^

该用户从未签到

2#
发表于 2023-10-29 15:51 | 只看该作者
遇到失效状况先找原因
  • TA的每日心情
    开心
    2023-1-11 15:38
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    1#
    发表于 2023-1-28 13:11 | 只看该作者
    遇到失效状况先找原因
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