找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 247|回复: 3
打印 上一主题 下一主题

电子元器件失效分析-就选广电计量!

[复制链接]
  • TA的每日心情

    2019-11-20 15:01
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    跳转到指定楼层
    1#
    发表于 2021-12-10 17:58 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

    EDA365欢迎您登录!

    您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

    x
    电阻类元件失 , U  {1 V0 T4 S% x, D7 P& y0 l
    效分析
    0 N6 O, M+ f/ o# i, e& y) j6 g外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 5 {3 E1 r7 K5 z" x- E% \
    性分析,切片,SEM&EDS 等 ! ^& K' j& S8 J, v2 _/ U) S8 R
    面议 / C& ^; i9 E. n  H
    金属膜电阻器、 片式固定电 . \3 w8 O4 s6 U. d! e/ |: p# l
    阻器、金属箔固定电阻器、线 6 y2 i( {# ~/ J- g9 [
    绕电阻器、电位器、热敏(温 $ Z: W; {; d# M5 P2 c6 i( q
    度传感) 电阻器 , u9 @3 H  g# h4 }
    2 : X' @- I6 r* c! s0 [1 U3 N' f) E
    电容器元件失
    8 {; t  d% d" g' w效分析 ; u' @4 Z1 G1 m1 Y- j
    外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 + I3 ]) j9 S: _2 ^) y% n
    性分析,切片,SEM&EDS 等
    # D  Z9 J$ n5 p- }6 I/ }面议
    ; @* b* {0 E. M% n$ D- B陶瓷电容器、瓷片电容器、云 % K3 {+ f( f% e( y) x
    母电容器、薄膜电容器、非固 ' l5 d/ F3 q9 L5 S  l) p7 F9 }- u
    体电解质钽电容器等
    , ^$ X, u7 p" p8 [' N3
    + y8 p' _) ~' B# v* ~6 i电感元件失效
    ; Z+ h. J' ~8 F% w/ D# G/ q分析 . X+ Z! ?+ l5 q. X$ m; q+ f+ W% k
    外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    ! m1 m0 w8 Z. j4 ^性分析,切片,SEM&EDS 等
    ; M, _. J/ b' T! W. o面议
    : j0 d& ?3 N: |共模抑制电感、环形电感、晶 8 f3 G; t! A2 ?; [8 p, Y9 L& l
    体谐振器、连接器 . ]- v1 [: P9 x. z3 d
    4 $ D% w! s7 N6 N, S6 X( f; `; u% P" n
    机电类器件失
    / \0 `/ M% S4 {! Q* e! f效分析
      j6 P7 i+ p# J! P外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    7 G4 @) G  z0 _9 V性分析,切片,SEM&EDS 等 # t7 h# b- {" }) w  F4 g
    面议 % a; m& f( {, x3 z8 ?
    电磁继电器、固体继电器、接
    ' n% O! b7 D, H口变压器、压力传感器、开关 / }  z3 Y7 s# A0 h9 d
    5 / @4 G. e, P5 l: z* U8 K3 i
    光电类失效分 1 I& ~. p4 t: n( W# e

    # v/ m! d1 p4 t; ^5 Z  b& D- [4 T外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 1 N+ h2 A9 Y7 y8 C: \" I
    性分析,切片,SEM&EDS 等
    / V. Q+ o( l. o- o/ B面议
    0 }9 Y, ?( b- n$ k光耦、真空管、激光器 9 i* e8 M- j+ E) Y# F
    6 ) _4 B# G# D, ?" F; Z1 m
    二极管、三极 * @1 @* w' \$ p$ ], D, w# d
    管、MOS 管失 % Q2 w) D2 T( P: F+ z6 _1 Z0 n$ U
    效分析
    " g# E6 B: N) A" `/ u! a外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 & V9 U6 I# J, V2 I! v
    性分析,切片,SEM&EDS 等 , m0 ]2 s4 C* |, v9 `! n
    面议 $ B. O2 Q# x  {( p% e! w- f% P( @
    7 % g& R# j" v- |$ O# T, D4 \) c
    功率器件失效
    0 ]" f, F, r( k' }7 {. [1 U分析 + Z' |! T2 O: O; {; F+ ^* T) x5 e
    外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 0 `1 s9 y$ N3 [9 ^. i- s2 l# |
    性分析,开封、切片,SEM&EDS 等
    3 y9 t; p' w& V$ P5 u面议 * I9 i1 _; X, I- {$ Y' |
    IGBT、整流桥、可控. B* I1 O4 k5 W& `/ M- @& ^0 d
    电子元器件失效分析-就选广电计量!.pdf (104.6 KB, 下载次数: 1) ; G' P# A; B; S' g; i2 m9 J- {; B# h
    ( x4 \" U8 Y! B' [% W

    1 Y" u' p0 v# D  R# d- o) j; M1 r% [% s) _! y- W
  • TA的每日心情
    开心
    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-12-16 16:04 | 只看该作者
    电容的失效性要好好测,一个板子用的太多了4 g4 B- S% B7 F* \
  • TA的每日心情
    开心
    2025-11-24 15:18
  • 签到天数: 1222 天

    [LV.10]以坛为家III

    3#
    发表于 2021-12-15 12:48 | 只看该作者
    rare resource!!! excellent  professional  datas!!!  thanks for your sharing!!!

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2021-12-10 18:23 | 只看该作者
    X-RAY,电参数测试是常见的分析方法
    您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

    本版积分规则

    关闭

    推荐内容上一条 /1 下一条

    EDA365公众号

    关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

    GMT+8, 2025-11-24 15:43 , Processed in 0.156250 second(s), 27 queries , Gzip On.

    深圳市墨知创新科技有限公司

    地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

    快速回复 返回顶部 返回列表