TA的每日心情 | 怒 2019-11-20 15:01 |
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元器件失效分析的几个关键点
, n' o) _, M& x: Z, [器件失效会存在于产品的整个生命周期,如果缺乏对各个阶段失效信7 E7 ?( `( e( T* R# k7 m
息及失效器件的收集,失效分析工作将失去必要的物质基础。因此,开展失效
8 x, V2 i9 ~9 F3 u& f分析,必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制
3 J' H7 [, L) g$ u c! t- N度。
6 { s! ?* i& j失效预警及启动分析机制
% f4 Y8 [/ l! u& }" U5 v( Q失效分析虽然重要,但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻" ~$ ^# \4 i7 ~& G" N
底地分析。在产品生命周期内,器件失效具有明显的阶段性特点,不同阶段失, W6 T& ]' q# x+ ~! E
效的原因也有所不同,因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而" ^( w& t/ N [3 N6 X9 k
实际操作中,应根据具体情况来灵活处理,根据需要决定是否启动失效分析。
# \4 H u% ~% _3 d开发阶段失效数量少,但相对的失效率很高,而且设计使用问题、新器8 x0 P. L; _; r( T! E% y
件质量问题相对较多。在该阶段发现问题,更改成本也较低。因此应适当降低& c8 `/ M/ H) X
预警门限,加大失效分析的覆盖面。9 a) `# o/ M5 t) b% i
生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD 问题、测试过
" o `) }+ S% H4 g* c应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题,预警门限相$ F* u9 m: I( _- n- t
对较高
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元器件失效分析的几个关键点.pdf
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