|
|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
本次课主要内容:
) N# N ~; F+ `; O4 y
/ |* \/ J7 y0 y0 n: h' K第四章 失效分析
) R- j: d) b# v* o r4 v4 w4.1 失效模式与失效机理
( a8 W* Q9 F3 ]. J0 ?- |4.2 失效模型
6 g& H- f4 G; V S9 R% `4.3 失效分析的内容与程序* t; v" L6 |9 N+ s) `
4.4 微分析的物理基础
^" p* v! d3 D" l. j% ~! S/ C r5 b1 }+ W- N n$ a
补充材料:失效分析图片6 p/ g% _ l; Z n* M+ A: y
0 c! k4 z% Q, H- p本次课要点:& p/ F0 b% g9 n$ y% n& Z
1、失效模式与失效机理定义区别2 |! {( `% J8 b1 c$ ^
2、了解几种失效模型;- l- [, X( j/ G# r/ @3 D3 e
3、掌握失效分析基本原则程序;: [! B, j0 w* I5 B R6 K
4、了解微分析技术的物理基础。9 {' I y- y% Q- v* u5 B1 {
, D( N8 Q' e- u1 e
附件:
微电子器件可靠性的失效分析.zip
(6.16 MB, 下载次数: 1)
' _7 @- v! ?4 l X1 N( O. N
4 i& B0 s1 N" T* G |
|