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微电子器件可靠性的失效分析

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发表于 2021-10-9 10:08 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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本次课主要内容:
) N# N  ~; F+ `; O4 y
/ |* \/ J7 y0 y0 n: h' K第四章 失效分析
) R- j: d) b# v* o  r4 v4 w4.1 失效模式与失效机理
( a8 W* Q9 F3 ]. J0 ?- |4.2 失效模型
6 g& H- f4 G; V  S9 R% `4.3 失效分析的内容与程序* t; v" L6 |9 N+ s) `
4.4 微分析的物理基础
  ^" p* v! d3 D" l. j% ~! S/ C  r5 b1 }+ W- N  n$ a
补充材料:失效分析图片6 p/ g% _  l; Z  n* M+ A: y

0 c! k4 z% Q, H- p本次课要点:& p/ F0 b% g9 n$ y% n& Z
1、失效模式与失效机理定义区别2 |! {( `% J8 b1 c$ ^
2、了解几种失效模型;- l- [, X( j/ G# r/ @3 D3 e
3、掌握失效分析基本原则程序;: [! B, j0 w* I5 B  R6 K
4、了解微分析技术的物理基础。9 {' I  y- y% Q- v* u5 B1 {
, D( N8 Q' e- u1 e
附件: 微电子器件可靠性的失效分析.zip (6.16 MB, 下载次数: 1) ' _7 @- v! ?4 l  X1 N( O. N

4 i& B0 s1 N" T* G
  • TA的每日心情
    开心
    2025-11-24 15:18
  • 签到天数: 1222 天

    [LV.10]以坛为家III

    5#
    发表于 2021-10-9 15:06 | 只看该作者
    不错不错,分析的很是到位,内容全面丰富,很有指导和实用性,学习下
  • TA的每日心情
    开心
    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-10-9 13:57 | 只看该作者
    先做外部分析,后做内部(解剖)分析

    该用户从未签到

    3#
    发表于 2021-10-9 10:49 | 只看该作者
    有的失效可恢复(如雪崩击穿),有的不可恢复(如ESD),不可恢复的每次损伤都有影响,累积起来最终导致器件失效。, I( U+ B9 {/ `0 y- j* y7 ~
    步进应力和序进应力试验就是以这种模型为依据。' o9 j$ h* Q: J0 k  Y( A  n
          (应力不增加额外的失效模式)
    + w0 W' M# J# S

    该用户从未签到

    2#
     楼主| 发表于 2021-10-9 10:48 | 只看该作者
    串联模型——绳子从最细处断1 s. L% Y; j, r& L
    这个模型很重要
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