TA的每日心情 | 开心 2020-8-28 15:14 |
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引言: X- {2 q, H9 K8 J( B- c
& [2 I4 \1 U$ y! ~0 }) U 1993年世界上只GaN基蓝色LED问世以来,LED制造技术的发展令人瞩目。目前国际上商品化的GaN基LED均是在蓝宝石衬底或SiC衬底上制造的。但蓝宝石由于硬度高、导电性和导热性差等原因,对后期器件加工和应用带来很多不便,SiC同样存在硬度高且成本昂贵的不足之处,而价格相对便宜的si衬底由于有着优良的导热导电性能和成熟的器件加工工艺等优势,因此Si衬底GaN基LED制造技术受到业界的普遍关注。
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4 d# V) p1 L6 O+ X# Y# [* W# y; h 目前日本日亚公司垄断了蓝宝石衬底上GaN基LED技术,美国CREE公司垄断了SiC衬底上GaN基LED技术。因此,研发其他衬底上的GaN基LED生产技术成为国际上的一个热点。3 J- c. M% ~& I& q8 z" P( |
3 T; G# }/ q. Z# H# _ 1 Si衬底LED芯片制造
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1.1 技术路线
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% _0 K+ _) ^* m' E! @/ y 在si衬底上生长GaN,制作LED蓝光芯片。
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工艺流程:在si衬底上生长AlN缓冲层→生长n型GaN→生长InGaN多量子阱发光层→生长P型AlGaN层→生长p型GaN层→键合带Ag反光层并形成p型欧姆接触电极→剥离衬底并去除缓冲层→制作n型掺si层的欧姆接触电极→合金→钝化→划片→测试→包装。# B1 I, D8 G3 T! N
" J/ d$ W! e4 b% S" l+ u 1.2 主要制造工艺9 {) |7 Q! w. C" m8 k2 z+ z4 m0 q
$ J- D: G3 X( Z& H/ I 从结构图中看出,si衬底芯片为倒装薄膜结构,从下至上依次为背面Au电极、si基板、粘接金属、金属反射镜(P欧姆电极)、GaN外延层、粗化表面和Au电极。这种结构芯片电流垂直分布,衬底热导率高,可靠性高;发光层背面为金属反射镜,表面有粗化结构,取光效率高。; U* I# v- \# P
+ b; S6 j- Y# Y 1.3 关键技术及创新性+ F5 _9 o, \$ e* r9 t
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用Si作GaN发光二极管衬底,虽然使LED的制造成本大大降低,也解决了垄断问题,然而与蓝宝石和SiC相比,在Si衬底上生长GaN更为困难,因为这两者之间的热失配和晶格失配更大,si与GaN的热膨胀系数差别也将导致GaN膜出现龟裂,晶格常数差会在GaN外延层中造成高的位错密度;另外si衬底LED还可能因为si与GaN之问有0.5 v的异质势垒而使开启电压升高以及晶体完整性差造成P型掺杂效率低,导致串联电阻增大,还有si吸收可见光会降低LED的外量子效率。
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因此,针对上述问题,深入研究和采用了发光层位错密度控制技术、化学剥离衬底转移技术、高可靠性高反光特性的P型GaN欧姆电极制备技术及键合技术、高出光效率的外延材料表面粗化技术、衬底图形化技术、优化的垂直结构芯片设计技术,在大量的试验和探索中,解决了许多技术难题,终成功制备出尺寸1 mln×1 mm,350 mA下光输出功率大于380 mW、发光波长451 nm、工作电压3.2 V的蓝色发光芯片,完成课题规定的指标。采用的关键技术及技术创新性有以下几个方面。/ w1 ^ ~7 W4 \! B
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(1)采用多种在线控制技术,降低了外延材料中的刃位错和螺位错,改善了si与CaN两者之间的热失配和晶格失配,解决了GaN单晶膜的龟裂问题,获得了厚度大于4 m的无裂纹GaN外延膜。
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/ U5 a( A2 e b) w (2)通过引入A1N,A1GaN多层缓冲层,大大缓解了si衬底上外延GaN材料的应力,提高了晶体质量,从而提高了发光效率。* e% f+ X' p# P5 J
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(3)通过优化设计n.GaN层中Si浓度结构及量子阱/垒之间的界面生长条件,减小了芯片的反向漏电流并提高了芯片的抗静电性能。9 X' _7 `' A( u1 m2 s y; x
( W; n6 N* ?1 P3 U/ l- b, i" F (4)通过调节P型层镁浓度结构,降低了器件的工作电压;通过优化P型GaN的厚度,改善了芯片的取光效率。4 j5 F) G7 V* C+ Y# {
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(5)通过优化外延层结构及掺杂分布,减小串联电阻,降低工作电压,减少热产生率,提升了LED的工作效率并改善器件的可靠性。& Z E" s. O o4 [
. d# j9 x; v: F (6)采用多层金属结构,同时兼顾欧姆接触、反光特性、粘接特性和可靠性,优化焊接技术,解决了银反射镜与p-GaN粘附不牢且接触电阻大的问题。4 f, T& w( c# |+ W1 r& X, c
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(7)优选了多种焊接金属,优化焊接条件,成功获得了GaN薄膜和导电Si基板之间的牢固结合,解决了该过程中产生的裂纹问题。
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(8)通过湿法和干法相结合的表面粗化,减少了内部全反射和波导效应引起的光损失,提高LED的外量子效率,使器件获得了较高的出光效率。
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(9)解决了GaN表面粗化深度不够且粗化不均匀的问题,解决了粗化表面清洗不干净的难题并优化了N电极的金属结构,在粗化的N极性n.GaN表面获得了低阻且稳定的欧姆接触。: {6 `& i5 _) }' w, x! I
6 L- W& v m @+ v. O" o 2 Si衬底LED封装技术( X) s) L; g' h, _
1 [) Q5 E2 z$ s7 s 2.1 技术路线" F, {8 A7 b4 Y2 A. k4 y
n3 {: o0 u& I# e# j) R 采用蓝光LED激发YAG/硅酸盐/氮氧化物多基色体系荧光粉,发射黄、绿、红光,合成白光的技术路线。
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工艺流程:在金属支架/陶瓷支架上装配蓝光LED芯片(导电胶粘结工艺)一键合(金丝球焊工艺)一荧光胶涂覆(自动化图形点胶/自动喷射工艺)一si胶封装(模具灌胶工艺)一切筋一测试一包装。
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& E: Z7 q3 T6 r& m- {6 @ 2.2 主要封装工艺 i/ ?( [0 g8 m& U; N' w8 @7 f
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Si衬底的功率型GaN基LED封装采用仿流明的支架封装形式,其外形有朗柏型、矩形和双翼型。其制作过程为:使用导热系数较高的194合金金属支架,先将LED芯片粘接在金属支架的反光杯底部,再通过键合工艺将金属引线连接LED芯片与金属支架电极,完成电气连接,用有机封装材料(如si胶)覆盖芯片和电极引线,形成封装保护和光学通道。这种封装对于取光效率、散热性能、加大工作电流密度的设计都是的。其主要特点包括:热阻低(小于10~c/w),可靠性高,封装内部填充稳定的柔性胶凝体,在一40~120 oC范围,不会因温度骤变产生的内应力,使金丝与支架断开,并防止有机封装材料变黄,引线框架也不会因氧化而沾污;优化的封装结构设计使光学效率、外量子效率性能优异, q9 c4 N! V: d/ N. x" V6 B
0 O8 o( b# z0 w5 X' z: ` 2.3 关键技术及创新性
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功率型LED的热特性直接影响到LED的工作温度、发光效率、发光波长、使用寿命等,现有的si衬底的功率型GaN基LED芯片设计采用了垂直结构来提高芯片的取光效率,改善了芯片的热特性,同时通过增大芯片面积,加大工作电流来提高器件的光电转换效率,从而获得较高的光通量,也因此给功率型LED的封装设计、制造技术带来新的课题。功率LED封装重点是采用有效的散热与不劣化的封装材料解决光衰问题。为达到封装技术要求,在大量的试验和探索中,分析解决相关技术问题,采用的关键技术和创新性有以下几点。
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(1)通过设计新型陶瓷封装结构,减少了全反射,使器件获得高取光效率和合适的光学空间分布。6 B% q$ u) w' j
8 Y2 A! k0 M& E+ w3 _8 X (2)采用电热隔离封装结构和优化的热沉设计,以适合薄膜芯片的封装要求。# q2 G* a% b; a2 y! W
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(3)采用高导热系数的金属支架,选用导热导电胶粘结芯片,获得低热阻的良好散热通道,使产品光衰≤5% (1 ooo h)。
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- I8 ]" V5 { g4 C. S1 O (4)采用高效、高精度的荧光胶配比及喷涂工艺,保证了产品光色参数可控和一致性。
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& ]5 K2 O* m. Y* D6 V$ r+ _ (5)多层复合封装,降低了封装应力,实施SSB键合工艺和多段固化制程,提高了产品的可靠性。) C2 d" W ?* ]$ F% e
8 O$ j+ i- |9 j. B6 l+ l5 k (6)装配保护二极管,使产品ESD静电防护提高到8 000 V。
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3 产品测试结果
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~, ~3 P _8 L 3.1 Sl衬底LED芯片
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6 X3 ]0 {7 u' l: K 通过优化si衬底表面的处理和缓冲层结构,成功生长出可用于大功率芯片的外延材料。采用Pt电极作为反射镜,成功实现大功率芯片的薄膜转移。采用银作为反射镜,大大提高了反射效率,通过改进反射镜的设计并引入粗化技术,提高了光输出功率。改进了A异反射镜蒸镀前P型GaN表面的清洗工艺和晶片焊接工艺,改善了银反射镜的欧姆接触,量子阱前引入缓冲结构,提高了芯片发光效率,优化量子阱/垒界面生长工艺,发光效率进一步提高,通过改进焊接技术,减少了衬底转移过程中芯片裂纹问题,芯片制备的良率大幅度提高,且可靠性获得改善。通过上述多项技术的应用和改进,成功制备出尺寸1 mmx 1 mm,350 n 下光输出功率大于380 mW的蓝色发光芯片,发光波长451 nnl,工作电压3.2 V,完成课题规定的指标。
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3.2 Si衬底LED封装
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7 L; J, v4 P6 H9 p/ F8 J 根据LED的光学结构及芯片、封装材料的性能,建立了光学设计模型和软件仿真手段,优化了封装的光学结构设计。通过封装工艺技术改进,减少了光的全反射,提高了产品的取光效率。改进导电胶的点胶工艺方式,并对装片设备工装结构与精度进行了改进,采用电热隔离封装结构和优化的热沉设计,降低了器件热阻,提高了产品散热性能。$ h7 R( F6 q0 s# i2 W& l+ b
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采用等离子清洗工艺,改善了LED封装界面结合及可靠性。针对照明应用对光源的光色特性的不同要求,研究暖白、日光白、冷白光LED颜色的影响因素:芯片参数、荧光粉性能、配方、用量,并通过改进荧光胶涂覆工艺,提高了功率LED光色参数的控制能力,生产出与照明色域规范对档的产品。蓝光和白光LED封装测试结果见表2。表中:Φ为光通量;K为光效;P为光功率;R为热阻; μ为光衰;I为饱和电流。8 Y; r5 Z7 p, {5 [8 e
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4 结语+ }% ~6 O5 j( c/ e$ }" D4 e0 b
- E7 }2 g/ @# d( w/ j! V t- [+ ^ si衬底的CaN基LED制造技术是国际上第三条LED制造技术路线,是LED三大原创技术之一,与前两条技术路线相比,具有四大优势:
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, H& M& V: e0 r4 O1 e ,具有原创技术产权,产品可销往国际市场,不受国际限制。
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5 l0 C$ {' o0 t; S) Z 第二,具有优良的性能,产品抗静电性能好,寿命长,可承受的电流密度高。" z% {5 w% |* |! y
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第三,器件封装工艺简单,芯片为上下电极,单引线垂直结构,在器件封装时只需单电极引线,简化了封装工艺,节约了封装成本。
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第四,由于Si衬底比前两种技术路线使用的蓝宝石和SiC价格便宜得多,而且将来生产效率更高,因此成本低廉。; {- Q u/ v% s9 E3 {- I
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经过三年的科技攻关,课题申请发明12项、实用新型7项,该技术成功突破了美国、日本多年在半导体发光芯片(LED)方面的技术壁垒,打破了目前日本日亚公司垄断蓝宝石衬底和美国CREE公司垄断SiC衬底半导体照明技术的局面,形成了蓝宝石、SiC、Si衬底半导体照明技术方案三足鼎立的局面。因此采用si衬底GaN的LED产品的推出,对于促进我国拥有知识产权的半导体LED照明产业的发展有着重大意义。4 U$ I! V2 c. Z
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