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在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?

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1#
发表于 2020-4-9 10:23 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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你好,) H7 ^' w8 Z6 B% O& q. M  A
我目前正在研究一个项目,我需要在两个替代设计选项之间做出决定,我必须考虑可靠性分析。(我不需要担心我的设计中的软错误效应)
/ _2 U% N  X; @6 C根据我的研究,我发现FIT值是FPGA可靠性的基本标准。
& @1 Y8 j. E/ k: \在第一个设计中,我计划使用XC6SLX25T(Spartan6-0.045um-FIT:11)FPGA,另一个使用XC6VLX550T(Virtex6-0.040um-FIT:8)。
- U7 }' R2 B) {5 |1 c( p5 [当我看到“UG116 xilinx器件可靠性报告”时,我看到所有FPGA的FIT值都归类于工艺技术中,而Virtex6的FIT值明显低于Spartan6(约为34%)。) v" F+ P- ]  S: Q% m4 Q
我好几天都在搜索这个话题,但我找不到确切的答案。
' ^$ C* L9 Q/ V3 {: H为什么FIT率被归类为工艺技术?我观察到工艺技术和FIT值之间没有直接的相关性。2 N8 n6 d! \! J9 O+ l
为什么Virtex6与Spartan6相比具有更小的FIT值?
2 Q( c' }' _+ B3 z$ ^, q+ s为什么在相同的工艺技术FPGA之间的芯片尺寸或栅极数量没有区别
2 S4 s) F. T  c( s在同一FPGA上运行的两个不同系统是否具有相同的FIT值?, e2 o* h+ c, h5 o# e

该用户从未签到

2#
发表于 2020-4-9 11:30 | 只看该作者
由于已发布的硬故障率基于实际数据(故障),因此它就是这样。. t( e8 w( ]3 _+ B7 a! [
在特定技术节点上创建设备所需的一切复杂性几乎是无穷无尽的。" p3 {" @9 I* \& g
因此,一个部件的一个故障容易改变数量。* e5 p* A1 l& v5 d
此外,此数据的置信区间为60%,这意味着真实或实际的故障率很容易变为表中的一半或两倍。
5 B: X. V* y/ R& J7 ^9 \5 r) _这不应该是选择哪个家庭的考虑因素(它们都是如此之低以至于完全等同)。
6 T7 v1 J2 u; Y  j9 O* y即使您正在构建数百万个单元,也几乎不可能看到您选择的硬故障率有任何差异。9 }% n: `% W( U% n/ }+ D
当然,你如何使用该部件将完全控制你的现场失败率(例如,炎热的环境总是导致比温带环境更多的失败)。
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