元器件失效分析方法

lilino

器件一旦坏了，千万不要敬而远之，而应该如获至宝。
) ]! y1 k5 J9 C& l6 Z6 y　　开车的人都知道，哪里最能练出驾驶水平？高速公路不行，只有闹市和不良路况才能提高水平。社会的发展就是一个发现问题解决问题的过程，出现问题不可怕，但频繁出现同一类问题是非常可怕的。
- A' U+ x& i4 q0 ]& J/ J" `/ I　　失效分析基本概念
　　定义：对失效电子元器件进行诊断过程。
　　1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。
- T: J+ `; B7 j( ~8 v  V　　2、失效分析的目的是确定失效模式和失效机理，提出纠正措施，防止这种失效模式和失效机理的重复出现。
& s2 _- H* q2 ]4 _- Q　　3、失效模式是指观察到的失效现象、失效形式，如开路、短路、参数漂移、功能失效等。
　　4、失效机理是指失效的物理化学过程，如疲劳、腐蚀和过应力等。
　　失效分析的一般程序
% f7 L9 A0 i  v! v" t' o　　1、收集现场场数据

　　2、电测并确定失效模式
  q$ V. R' {. O5 S8 o　　3、非破坏检查

       4、打开封装
　　5、镜验
　　6、通电并进行失效定位
7 w/ Z- m% p  V8 o2 E4 I/ W# L　　7、对失效部位进行物理、化学分析，确定失效机理。
: ~8 n3 d1 x1 ~0 w　　8、综合分析，确定失效原因，提出纠正措施。
　　1、收集现场数据：
　　2、电测并确定失效模式
/ C; X4 x; o$ a3 o　　电测失效可分为连接性失效、电参数失效和功能失效。
　　连接性失效包括开路、短路以及电阻值变化。这类失效容易测试，现场失效多数由静电放电（ESD）和过电应力（EOS）引起。
　　电参数失效，需进行较复杂的测量，主要表现形式有参数值超出规定范围（超差）和参数不稳定。
, Y$ K' _% f3 G5 B8 I) l　　确认功能失效，需对元器件输入一个已知的激励信号，测量输出结果。如测得输出状态与预计状态相同，则元器件功能正常，否则为失效,功能测试主要用于集成电路。
　　三种失效有一定的相关性,即一种失效可能引起其它种类的失效。功能失效和电参数失效的根源时常可归结于连接性失效。在缺乏复杂功能测试设备和测试程序的情况下，有可能用简单的连接性测试和参数测试方法进行电测，结合物理失效分析技术的应用仍然可获得令人满意的失效分析结果。
　　3、非破坏检查

　　X-Ray检测，即为在不破坏芯片情况下，利用X射线透视元器件（多方向及角度可选），检测元器件的封装情况，如气泡、邦定线异常，晶粒尺寸，支架方向等。

　　适用情境：检查邦定有无异常、封装有无缺陷、确认晶粒尺寸及layout
　　优势：工期短，直观易分析
2 E* }2 J+ \' @2 a7 k9 \　　劣势：获得信息有限
: B' c$ I6 k9 r1 r  Z　　局限性：
　　1、相同批次的器件，不同封装生产线的器件内部形状略微不同；
) M5 ^" Q' M; S% ]5 ^: ?　　2、内部线路损伤或缺陷很难检查出来，必须通过功能测试及其他试验获得。
　　案例分析：
　　X-Ray 探伤----气泡、邦定线

　　X-Ray 真伪鉴别----空包弹（图中可见，未有晶粒）

! q# z& u2 g) [* |7 {/ \; T8 ~  }　　“徒有其表”

　　下面这个才是货真价实的

8 h% G; e, d7 q* r2 W3 P6 v/ {　　X-Ray用于产地分析（下图中同品牌同型号的芯片）

3 O6 U$ l: M6 |' F　　X-Ray 用于失效分析（PCB探伤、分析）

　　（下面这个密密麻麻的圆点就是BGA的锡珠。下图我们可以看出，这个芯片实际上是BGA二次封装的）

　　4、打开封装
7 z: Y( f  q7 u/ C* {" D# s. c( ^1 `　　开封方法有机械方法和化学方法两种,按封装材料来分类，微电子器件的封装种类包括玻璃封装(二极管)、金属壳封装、陶瓷封装、塑料封装等。

* n& t% I- T  d4 m) J* j　　机械开封
+ f* j0 Q/ @3 |  M) E$ A　　化学开封
2 m# y) G- F6 r0 X: N& W, z　　5、显微形貌像技术
% F- y  E. L7 `3 i3 T　　光学显微镜分析技术
　　扫描电子显微镜的二次电子像技术
* d9 Q- c/ d  F# p9 S2 C$ w　　电压效应的失效定位技术
" F* O! K9 J& |) m- V, ]+ n　　6、半导体主要失效机理分析

　　电应力（EOD）损伤
. [! Z' B9 |; L, i　　静电放电（ESD）损伤
* S* z, Q& n3 v: M　　封装失效
7 \' t* v! I/ y& P, I. l　　引线键合失效
　　芯片粘接不良
　　金属半导体接触退化
　　钠离子沾污失效
9 Z# l6 X( ]( T: |6 X; r　　氧化层针孔失效

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社会的发展就是一个发现问题解决问题的过程，出现问题不可怕，但频繁出现同一类问题是非常可怕的。