|
|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
# F0 }/ T+ d+ y/ H {% t- L3 S5 b1 Y
开关电源电流检测技术在现在的各种检测设计中都有广泛的应用,许多的系统中都需要检测流入和流出的电流大小,检测电流大小能够避免器件出错。进行电路机理的保护,推荐了解一下“开关模式电源的电流检测技术”。
/ P' T1 W! x5 @% n开关电源-电流模式控制由于其高可靠性、环路补偿设计简单、负载分配功能简单可靠的特点,被广泛用于开关模式电源。 O4 Y* i, z+ Y& p; d" X. ]
电流检测信号是电流模式开关模式电源设计的重要组成部分,它用于调节输出并提供过流保护。如下图中采用同步开关模式降压电源的电流检测电路。采用的IC控制器是一款具有逐周期限流功能的电流模式控制器件。检测电阻RS监测电流。8 R& u, R. [4 W) a
, j6 ~& T* r0 c) E
% k; X2 y. M% [5 }3 _4 |5 v
) e2 {$ [! _0 t! b8 F" t' g开关模式电源电流检测电阻(RS)3 l( f7 X* [5 P& B# y/ g
如下图显示了两种情况下电感电流的示波器波形:- o+ G" l5 `) I
第一种情况使用电感电流能够驱动的负载(红线),而在第二种情况下,输出短路(紫线)。& i' L: C/ H7 n2 K7 M: J; t
4 V+ S% k4 w/ `2 k; c; A
6 W0 c- S9 c e# ]( E' I9 J& S6 B. w9 d0 G# h6 O' H% S
应用凌特的电源ic限流与折返示例,在供电轨上测量示意图
* K: o5 y7 E$ A7 y5 K# s最初,峰值电感电流由选定的电感值、电源开关导通时间、电路的输入和输出电压以及负载电流设置(如图中用“1”表示)。当电路短路时,电感电流迅速上升,直至达到限流点,即 RS × IL (IL)等于最大电流检测电压,以保护器件和下游电路(如图中用“2”表示)。然后,内置电流折返限制(如图中数字“3”)进一步降低电感电流,以将热应力降至最低。' l, Q; C( D7 e, ^ g6 d7 n
电流检测还有其他作用。在多相电源设计中,利用它能实现精确均流。! w: Q3 q: k) Q# D
对于轻负载电源设计,它可以防止电流反向流动,从而提高效率(反向电流指反向流过电感的电流,即从输出到输入的电流,这在某些应用中可能不合需要,甚至具破坏性)。另外,当多相应用的负载较小时,电流检测可用来减少所需的相数,从而提高电路效率。对于需要电流源的负载,电流检测可将电源转换为恒流源,以用于LED驱动、电池充电和驱动激光器等等应用。
5 Z( O3 @/ b6 h8 i. [$ f检测电阻放哪最合适?
" T7 w5 h; z! E6 e, i. v电流检测电阻的位置连同开关稳压器架构决定了要检测的电流。检测的电流包括峰值电感电流、谷值电感电流(连续导通模式下电感电流的最小值)和平均输出电流。检测电阻的位置会影响功率损耗、噪声计算以及检测电阻监控电路看到的共模电压。我们在BUCK降压低成本的LED背光应用中采用了平均值电流检测方法。
! H; s/ ~8 N! Z6 ^0 {放置在降压调节器高端1 W" L, K2 ~, B f" n9 N2 a
对于降压调节器,电流检测电阻有多个位置可以放置。当放置在顶部MOSFET的高端时(如下图所示),它会在顶部MOSFET 导通时检测峰值电感电流,从而可用于峰值电流模式控制电源。但是,当顶部MOSFET关断且底部MOSFET导通时,它不测量电感电流。2 b2 ?' t$ h G" E+ d
7 n5 _' v2 z- w' @8 R: D+ q3 B
) F8 D" |) I6 p0 E- }& L1 `
. F! Q- C' O: S! z7 m1 [. l带高端RSENSE的降压转换器
$ ?' E! c" }& T, p在这种配置中,电流检测可能有很高的噪声,原因是顶部 MOSFET的导通边沿具有很强的开关电压振荡。为使这种影响最小,需要一个较长的电流比较器消隐时间(比较器忽略输入的时间)。这会限制最小开关导通时间,并且可能限制最小占空比(占空比 = VOUT/VIN)和最大转换器降压比。注意在高端配置中,电流信号可能位于非常大的共模电压(VIN)之上。
3 `: \% ]& _4 S放置在降压调节器低端 H1 k6 M( A1 h( N4 b9 x+ Q
如下图中,检测电阻位于底部MOSFET下方。在这种配置中,它检测谷值模式电流。为了进一步降低功率损耗并节省元件成本,底部MOS-RDS(ON)可用来检测电流,而可以不必使用外部电流检测电阻RSENSE。$ E/ E0 q' F J G" z
5 d7 x' r2 K$ |
: Y3 C+ h* |+ t+ u! p/ b2 M
- o, U" R( _$ Z, h
带低端RSENSE的降压转换器
2 f. C* c6 m) z4 X1 V这种配置通常用于谷值模式控制的电源。它对噪声可能也很敏感,但在这种情况下,它在占空比较大时很敏感。谷值模式控制的降压转换器支持高降压比,但由于其开关导通时间是固定/受控的,故最大占空比有限。! a& F' H9 l- X1 D5 I
降压调节器与电感串联% J' [9 s0 i) _+ n) U
如下图中,电流检测电阻RSENSE与电感串联,因此可以检测连续电感电流,此电流可用于监测平均电流以及峰值或谷值电流。所以,此配置支持峰值、谷值或平均电流模式控制。
+ z% o+ I" G) m$ C. }5 W
" d/ b- a9 x8 F6 L( H% r: `/ C- M% ?1 s0 R, r' I
RSENSE与电感串联9 G0 W) L; J. ? Q+ i
这种检测方法可提供最佳的信噪比性能。外部RSENSE通常可提供非常准确的电流检测信号,以实现精确的限流和均流。但是,RSENSE也会引起额外的功率损耗和元件成本。为了减少功率损耗和成本,可以利用电感线圈直流电阻(DCR)检测电流,而不使用外部RSENSE。
5 v& c3 }: J. k8 c8 C放置在升压和反相调节器的高端
+ v! g7 W' d) ^对于升压调节器,检测电阻可以与电感串联,以提供高端检测(如下图)。: K# x5 n4 n1 O+ T: E/ K
q" Y2 i F6 N
- o q5 |0 R2 s+ H
/ o0 o0 B$ w, y/ Z+ f$ Q4 Q; r带高端RSENSE的升压转换器
8 c4 _* U6 n" ?& P" B升压转换器具有连续输入电流,因此会产生三角波形并持续监测电流。9 `: J1 P9 T, L, \4 I
放置在升压和反相调节器的低端. G, l5 D* q6 \3 H
检测电阻也可以放在底部MOSFET的低端,如下图所示。
6 K) @- U* v* b+ c0 r% z) a! e此处监测峰值开关电流(也是峰值电感电流),每半个周期产生一个电流波形。MOSFET开关切换导致电流信号具有很强的开关噪声。低成本的BOOST变换器基本都采用这种方法,在LED背光控制中应用最为典型。
: n( D9 b" d4 O; e* ~0 y+ H. a8 U& h: ~
4 p1 G% N/ ], {) s
% |4 Q) w* i( O2 R( o$ L( Q
带低端RSENSE的升压转换器# z( M% g* n+ {, H/ U Y
SENSE电阻放置在升降压转换器低端或与电感串联/ V& c8 D$ _. a( ^/ s: p' N
如下图显示了一个4开关升降压转换器,其检测电阻位于低端。当输入电压远高于输出电压时,转换器工作在降压模式;当输入电压远低于输出电压时,转换器工作在升压模式。在此电路中,检测电阻位于4开关H桥配置的底部。器件的模式(降压模式或升压模式)决定了监测的电流。* _! Q8 t2 g* D; Y# n$ _' Z3 c
" |- @' N2 W7 c! s
4 i0 {% d0 Y6 M# J, _& k
6 q( E' A* }- B' m& c( V
带低端RSENSE的升压转换器$ \6 [( L3 K8 P5 @
在降压模式下(开关D一直导通,开关C一直关断),检测电阻监测底部开关B电流,电源用作谷值电流模式降压转换器。
* k z6 e% u0 E u+ a/ q在升压模式下(开关A一直导通,开关B一直关断),检测电阻与底部MOSFET (C)串联,并在电感电流上升时测量峰值电流。在这种模式下,由于不监测谷值电感电流,因此当电源处于轻负载状态时,很难检测负电感电流。负电感电流意味着电能从输出端传回输入端,但由于这种传输会有损耗,故效率会受损。对于电池供电系统等应用,轻负载效率很重要,这种电流检测方法不合需要。! }* a# f( h5 e) u" U- V. m" G
如下图的电路解决了这个问题,其将检测电阻与电感串联,从而在降压和升压模式下均能连续测量电感电流信号。由于电流检测 RSENSE连接到具有高开关噪声的SW1节点,因此需要精心设计控制器IC,使内部电流比较器有足够长的消隐时间。
2 k* L/ q6 Q! E/ }+ t( E- D+ I/ R' ~ w: O( h/ A# B
, p; F* p e0 w8 J' W$ T1 i( V: m- R1 Z! ]% h# @* ^+ H
升降压转换器,RSENSE与电感串联
1 G+ Z* [: B1 @8 c5 c输入端也可以添加额外的检测电阻,以实现输入限流;或者添加在输出端,用于电池充电或驱动LED等恒定输出电流应用。这种情况下需要平均输入或输出电流信号,因此可在电流检测路径中增加一个强RC滤波器,以减少电流检测噪声。; c8 X/ g* I0 {/ _& ?. ]) L4 P
电流检测方法使用说明+ N( G+ r8 W; F# X( @
开关模式电源有三种常用电流检测方法是:5 \: ~+ k- \( E& K
使用检测电阻,
6 o- t% o. H8 {使用MOSFET RDS(ON),5 {, I) o7 R" X3 t* C# f: [, y8 D2 J
以及使用电感的直流电阻(DCR)。/ n2 h+ _4 H; Z( }
每种方法都有优点和缺点,选择检测方法时应予以考虑。2 ^8 g! m+ y9 I4 }0 A8 u0 K" V
检测电阻电流传感
: k3 h, ?2 P ^2 n! N作为电流检测元件的检测电阻,产生的检测误差最低(通常在1%和5%之间),温度系数也非常低,约为100ppm/°C (0.01%)。在性能方面,它提供精度最高的电源,有助于实现极为精确的电源限流功能,并且在多个电源并联时,还有利于实现精密均流。
% C" U6 h3 @3 S3 K% x/ Z: v/ K
) G1 ^' Y& C, `& G- l& ]) B
! P/ a3 n2 w9 h0 K+ SRSENSE电流检测: q' R! y, W, Z3 y6 |
另一方面,因为电源设计中增加了电流检测电阻,所以电阻也会产生额外的功耗。因此,与其他检测技术相比,检测电阻电流监测技术可能有更高的功耗,导致解决方案整体效率有所下降。专用电流检测电阻也可能增加解决方案成本,虽然一个检测电阻的成本通常在0.05美元至0.20美元之间。7 c# I3 Y# P8 {- P. ` _
选择检测电阻时不应忽略的另一个参数是其寄生电感(也称为有效串联电感或ESL)。检测电阻可以用一个电阻与一个有限电感串联来正确模拟。 c+ \# {# L3 D* j4 R
2 O8 }* d* S5 b; Q
6 U* N6 g5 ?& v! ^6 y" h. |1 B. w
4 I l( P0 B; q0 Z. ?( i4 n. u3 C2 rRSENSE ESL模型
) Z/ V D, J0 f5 v此电感取决于所选的特定检测电阻。某些类型的电流检测电阻,例如金属板电阻,具有较低的ESL,应优先使用。相比之下,绕线检测电阻由于其封装结构而具有较高的ESL,应避免使用。: g5 b" R6 L% M0 r& P) J" T: U, \
一般来说,ESL效应会随着电流的增加、检测信号幅度的减小以及布局不合理而变得更加明显。7 Y3 @0 F' H) U4 Y$ D A) D8 _
电路的总电感还包括由元件引线和其他电路元件引起的寄生电感。电路的总电感也受到布局的影响,因此必须妥善考虑元件的布局,不恰当的布局可能影响稳定性并加剧现有电路设计问题。
3 g% x8 i4 l! V2 i* Z检测电阻ESL的影响可能很轻微,也可能很严重。ESL会导致开关栅极驱动器发生明显振荡,从而对开关导通产生不利影响。它还会增加电流检测信号的纹波,导致波形中出现电压阶跃,而不是预期的如下图所示的锯齿波形。这会降低电流检测精度。
( ?' G8 r- \9 U3 n# ], e! m, h* X! q/ F6 i, V0 q; ?
; N4 }, x# f4 r1 O
7 K$ V, V) c. u& U, P, Z ORSENSE ESL可能会对电流检测产生不利影响 F' R2 G2 z1 n, ]. D" r/ ]
为使电阻ESL最小,应避免使用具有长环路(如绕线电阻)或长引线(如厚膜插件电阻)的检测电阻。薄型表面贴装器件是首选,例子包括板结构SMD尺寸0805、1206、2010和2512,更好的选择包括倒几何SMD尺寸0612和1225。
; c% [) W7 Z$ J- X6 I基于功率MOSFET的电流检测
/ ], S9 R8 t/ @7 S& ?* h+ s利用MOSFET RDS(ON)进行电流检测,可以实现简单且经济高效的电流检测。如下是一款采用这种方法的器件。它使用恒定导通时间谷值模式电流检测架构。顶部开关导通固定的时间,此后底部开关导通,其RDS压降用于检测电流谷值或电流下限。PI的内置MOS的FLY结构也才用类似的方法。
: W8 ~- {( k+ V0 ~: p( G8 ?& ?, d/ u4 ^8 u- B9 N1 X
- U! y6 e( n3 q* d" k: S4 D5 E& V% w! j! u" w9 ?: J
MOS-RDS(ON)电流检测% `8 ]0 s+ ?2 R( I0 {+ P
虽然价格低廉,但这种方法有一些缺点。首先,其精度不高, RDS(ON)值可能在很大的范围内变化(大约33%或更多)。其温度系数可能也非常大,在100°C以上时甚至会超过80%。另外,如果使用外部MOSFET,则必须考虑MOSFET寄生封装电感。这种类型的检测不建议用于电流非常高的情况,特别是不适合多相电路,此类电路需要良好的相位均流。PI的小功率电源中已有使用。
4 [+ I3 r0 o3 p& y; H! E. V电感DCR电流检测7 r. [4 D1 D5 K$ {& C; h' X8 t
电感直流电阻电流检测采用电感绕组的寄生电阻来测量电流,从而无需检测电阻。这样可降低元件成本,提高电源效率。与MOS-RDS(ON)相比,铜线绕组的电感DCR的器件间偏差通常较小,不过仍然会随温度而变化。它在低输出电压应用中受到青睐,因为检测电阻上的任何压降都代表输出电压的一个相当大部分。将一个RC网络与电感和寄生电阻的串联组合并联,检测电压在电容C1上测量(如下图所示)。
' S+ f. ^- A2 o& ~7 C/ u' p% R; B0 J
- `6 T. y4 X- z* Y l* Z' W% O/ |7 ?
& J+ Y, ?$ w" I
电感DCR电流检测* r. l8 |+ j( y. n: B
通过选择适当的元件(R1×C1 = L/DCR),电容C1两端的电压将与电感电流成正比。为了最大限度地减少测量误差和噪声,最好选择较低的R1值。
, T8 e7 u+ T$ w5 I6 {电路不直接测量电感电流,因此无法检测电感饱和。推荐使用软饱和的电感,如铁粉芯电感。与同等铁芯电感相比,此类电感的磁芯损耗通常较高。与RSENSE方法相比,电感DCR检测不存在检测电阻的功率损耗,但可能会增加电感的磁芯损耗。
& t; A0 {2 Q8 H. c4 p* B使用RSENSE和DCR两种检测方法时,由于检测信号较小,故均需要开尔文检测。必须让开尔文检测痕迹(电路中的SENSE+和 SENSE-)远离高噪声覆铜区和其他信号痕迹,以将噪声提取降至最低,这点很重要。
$ M! R) o9 n3 g某些器件具有温度补偿DCR检测功能,可提高整个温度范围内的精度。
- q1 h! V. {% m' s如下表总结:电流检测方法的优缺点
V! o$ L4 G' M# s% I! Y
; Y) m! i6 b# M* `# e4 T" n! B
; @# ]0 y6 ?; O) @
2 C1 _0 L3 C7 s" W9 I
在表中提到的每种方法都为开关模式电源提供额外的保护。
' K! m# R2 Q P$ l1 w+ ]取决于设计要求,精度、效率、热应力、保护和瞬态性能方面的权衡都可能影响选择过程。电源设计人员需要审慎选择电流检测方法和功率电感,并正确设计电流检测网络。
) Z5 d' ]& ~6 R$ k% ~其他电流检测方法
' @6 R9 H3 I1 ?7 r* b还有其他电流检测方法可供使用。例如,电流检测互感器常常与隔离电源一起使用,以跨越隔离栅对电流信号信息提供保护。这种方法通常比上述三种技术更昂贵。此外,近年来集成栅极驱动器(DrMOS)和电流检测的新型功率MOSFET也已出现,但到目前为止,还没有足够的数据来推断DrMOS在检测信号的精度和质量方面表现状况。
" Z( U2 j6 Z8 m: T) @ |
|