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下面提供美国军方的一个失效率表:
7 O* z& Y) Y1 W: P8 R 摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
' j+ R j p( E1 W3 \ 9 o5 m. G! g$ q0 z5 x- n
部件 ..................... 失效率(%/1000小时)
% y) [$ M7 f/ M) q 1.电容器 ................. 0.02 : h, h* \0 e4 n D
2.连接器接点 ............. 0.005 3 y) F& \1 P, O8 h, |2 n4 ]
3.二极管 ................. 0.013
& C! ? a' p d% v 4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015
" G( I1 Q- I6 e2 R" ?2 P 5.石英晶体 ............... 0.05 ! `" P$ U- L1 b9 [
6.电阻 ................... 0.002 5 K2 \1 I; o7 o& y
7.焊点 ................... 0.0002
7 I& s$ x! P9 q/ V/ J 8.变压器 ................. 0.5 % H2 D/ c2 y+ v1 J% n
9.晶体 ................... 0.04
& ?; `5 B. I0 w5 B0 ~ 10.可变 ................... 0.01 . @+ U7 M7 ~- E, F- Y/ T/ D
11.绕线接点 ............... 0.00002 ------------!
3 d; f( x# f$ M
1 m& d1 L( ^1 z: h+ L! a8 Y6 W 平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。 1 ?2 q x: j" _2 ^- u/ p' T
当然，这个表是假定了所有部件都是合理使用的。 # I- m0 j& ^3 Q+ T( E% t
这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。 |
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发表于 2009-2-15 21:47
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