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铜、金键合线的差异.

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发表于 2016-1-8 16:17 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 yuju 于 2016-1-8 16:43 编辑 " d7 O: Q# E! d
' V' {: M+ c* x4 C& A
现今主流的键合线有铜、银、金、铝等合金线。. A7 b& a+ L, d6 r, D
铝线多用在Pad间隙大,成本低的产品中;
) y  ]% z6 u  t- j  D高密度键合用的比较早有金线,如今受到成本压力,银合金,铜合金的键合线也已产业化了。
& \7 t1 E, g, n0 ]& a在此对使用比较多的金、铜线做一个对比,供在方案选型中使用.8 M4 x9 L( K5 X3 r% B' y
a. 成本:铜线一般只有金线的1/3左右;

( i5 ~. y; |; Jb.电性能:铜电导率约0.62μΩ/cm),金电导率约0.42(μΩ/cm);
+ A% ^$ q7 t* p( L! `c.热性能:铜导热率约400w/mk,金导热率约300w/mk;
  S% Z9 ^5 G' Wd.机械性能:铜刚度高于金线;
( _& t$ j0 y# M! L3 _7 `e.层间化合物:金线与芯片pad之间容易产生Au2Al或AuAl2化合物,也容易产生裂纹;而铜与Al之间的扩散则慢很多;  W: k7 L8 ^% |# d2 X
) U; R0 F' k" B6 Z& b  `$ @* }
铜线具有较多的优势,为什么铜线在近期才开始普及.
. O: u8 C1 [5 }4 o! x主要原因:
) n, F& v4 O$ p/ J' U1 k- x1.铜线容易氧化,在键合时需要额外的环境来保护键合时铜线不被氧化,增强稳定性,目前一般使用氢气还原方法.由此增加设备的改造,及增加危险性.  O% P; A; Z& U6 d+ Q# W) n2 h
2.铜线比金线的硬度要高,在键合时需要更大力度及超声强度去压合,容易在芯片pad的裂损或暗伤,需要修改芯片pad的结构,同时也可以增加pad中的铜成分改善.
% |+ S" C+ {( s  [, g8 b+ A; j' T& _
% S; z' P& z. H( x3 }, b* o7 W# q2 J9 K: `+ `  a( j

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    7#
    发表于 2024-5-9 15:01 | 只看该作者
    存储类的IC应该还是金线居多吧

    该用户从未签到

    5#
    发表于 2017-4-14 00:10 | 只看该作者
    thank your sharing.

    该用户从未签到

    3#
    发表于 2017-3-23 14:59 | 只看该作者
    未来铜线应该是主流,基于现在工艺设备还有很多使用金线的,目前金线还是主流。

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2016-8-1 22:52 来自手机 | 只看该作者
    然后呢然后呢

    该用户从未签到

    1#
    发表于 2016-4-25 22:08 | 只看该作者
    铜线居多吧~
    4 w: P5 @' y8 k$ `
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