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请各位高手帮我看看我的问题,谢谢!

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1#
发表于 2008-5-28 15:20 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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我用hyperlynx做两线串扰的仿真实验,在设置了叠层、线长、线宽、线距。研究干扰源信号频率的变化对受害线上串扰噪声的影响,理论上是频率越高串扰值越来越大,但是我做出来的实验结果不是这样的,在500MHZ以上,随着频率的增加,串扰值却越来越小。而且我在干扰线和受害线都没有设置端接,而且驱动端和接受端用的都是cmos 3.3 fast。因为我看了不少人的文章,他们研究干扰线频率的影响,在500MHZ以内远端串扰值是单调递增的,而我做做出来的忽高忽低的,我不知道什么原因,百思不得其解,很苦恼,请各位帮助指点一下

我的串扰仿真实验.rar

216.29 KB, 下载次数: 35, 下载积分: 威望 -5

该用户从未签到

2#
发表于 2008-5-28 17:37 | 只看该作者
先提醒楼主明确一个概念,什么是串扰,影响串扰的因素有哪些。# f% g8 a/ [) I; o
% n9 `/ L% K/ b- w0 P
其实楼主给出的串扰仿真的instance忽略了一个事实:
, t' E8 i: i" {3 s3 J6 o0 g/ f1 q4 q7 w; H9 \0 n7 i. i+ ]
你是在仿真串扰,但你却忽略了你给的仿真环境是:阻抗失配+串扰. U- L( U: Y/ d$ g8 _
, H5 `' u! \  l
得到的结果也是这两者共同作用的仿真结果。( t1 H8 K) b4 q' N8 e' ?" m. H
单单的用frequency来评估你的crosstalk+impedance mismatch结果,这种评估是没有实际分析意义的(如果你可以进行两种影响因素的剥离还有的研究)& H& Z) x5 h  S4 _) d

! o2 K0 w6 h$ L7 {' N2 r而且严格的讲,你用的驱动模型的上升沿已经达到300ps,驱动端的pkg寄生参数影响也会使得仿真结果更加复杂。
8 r% b1 l* w0 l  I7 Y9 `4 [$ Z6 c" a5 q9 g7 a+ Q8 X
讲的不一定对,请指正!  D$ R; o, z( K- V# W
: {5 b7 K5 N; }, @
[ 本帖最后由 forevercgh 于 2008-5-29 11:13 编辑 ]

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3#
发表于 2008-5-28 20:57 | 只看该作者

!

频率越大,介电常数越大,传播距离越近,串扰就越小。
& S% K8 T& k5 ^: N) u- _
7 z. f$ N' c6 X0 W" g低频下串扰高低起伏不同主要是因为你源端的频率跟你传输线的长度有关,至少满足1/4波长的时候,才用天线作用,其他长度不一效果好,呵呵!

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4#
 楼主| 发表于 2008-5-29 15:34 | 只看该作者
这个实验我是按照别人的文章里面设置的数据来做的,但是他做的结果是随着频率的升高,远端串扰值是增大的,我的结果就是我上面讲的一样。而且我发现即使在干扰线上加远端端接,受害线两端都端接来消除反射的影响,结果还是和我做的没有端接差不多,远端值还是忽高忽低的,到500mhz以上,就越来越小了。另外我发现,在干扰线上信号频率达到500mhz以上,信号的上升沿劣化,而且高电平的值也降低了,这是怎么回事呢??

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5#
发表于 2008-6-17 14:16 | 只看该作者
顶起!

该用户从未签到

6#
发表于 2008-6-25 06:48 | 只看该作者
"另外我发现,在干扰线上信号频率达到500mhz以上,信号的上升沿劣化,而且高电平的值也降低了,这是怎么回事呢??": d( y! v" x: O* k3 b, I
6 ]6 Y& N2 L, J) x
-- this might be caused by lossy line issue - when frequency is high enough, the skin-effect and di-electric loss will attenuate signals.

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    7#
    发表于 2008-6-25 09:06 | 只看该作者
    “信号的上升沿劣化”是因为传输线损耗引起,你仿真用的应该是有损传输线模型,上升沿变缓后,信号带宽就减小,高频谐波分量少了,串扰就小了。
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