TA的每日心情 | 怒 2019-11-20 15:01 |
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电阻类元件失
- E4 ~: z! Z) p% I0 R8 o+ _3 _效分析 : \& Y6 w# w1 M- q- o* a2 _) y: t
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
2 E6 I( e' m+ c; x" C性分析,切片,SEM&EDS 等
1 {/ [. U# a. s/ L2 R: a% c面议
@5 L/ s* t& `+ F, e4 _* G金属膜电阻器、 片式固定电 : N3 H0 d9 k" g, v' |- ~
阻器、金属箔固定电阻器、线
; J) E4 \* U' `" [# c+ y; J6 c绕电阻器、电位器、热敏(温 , d' g4 M! R0 V# c4 y
度传感) 电阻器 ( O b9 p6 [" ]) w( A
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+ u. h3 A1 X9 O7 T8 r电容器元件失
: f4 w5 P' D9 O效分析 1 K6 E: Z- x" o8 T7 E6 Q; [
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
0 Z0 \3 c( N9 Z l- q4 f性分析,切片,SEM&EDS 等
: }- K2 {5 O2 [* N+ {- e1 m( P面议
' h1 ^) A7 o( ?6 `陶瓷电容器、瓷片电容器、云 # P/ h! Y5 K& m3 T# d! O) h7 q* g
母电容器、薄膜电容器、非固 ; Y' z0 e" B4 U; h1 c4 Y
体电解质钽电容器等 6 f& w% C: {+ W" Q% T: b
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) Y+ ~: H! T- b; c+ }3 ^7 n电感元件失效
* s" P' r! p7 G. B8 {分析
' |( H2 `0 |, l$ E& J& \ p j. T外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
4 f- O: u0 a4 G- p8 t, I性分析,切片,SEM&EDS 等 ' p7 j; J# X1 [! L6 h
面议
, q5 s$ C9 t1 Z% H共模抑制电感、环形电感、晶 ) b+ Q8 D8 K$ z
体谐振器、连接器
& z2 \& ~5 Y/ r5 h, e7 x4 8 @! M& Z" k) |/ z
机电类器件失 4 v$ }5 J# m r8 Q4 X
效分析
" s, P& z3 H0 A6 L2 M2 ]外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
7 x& r7 L) x9 K1 c# s* h N性分析,切片,SEM&EDS 等
g0 o) O& [6 b6 _. C- O* j面议
. A ~* @3 q" b4 ?$ h6 I电磁继电器、固体继电器、接
" t6 @% C2 n, Z* Q口变压器、压力传感器、开关 5 F! p3 w: @9 @- ^( L+ R3 t- `2 M
5 4 @3 l' @' z- j3 T0 @1 U' y
光电类失效分
( y+ D4 n% ?" M析 5 ? F! u/ e: d+ |
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
6 |$ P2 z5 |: c! j0 ?1 e8 ?; I% ^8 \性分析,切片,SEM&EDS 等
. A! ~% }; B4 Z$ F: ?& ?3 w- z% X面议
. J1 ^6 E8 ?6 t- r( r. ]光耦、真空管、激光器
W( F$ ^1 `4 Q6 d8 e2 a5 u( D/ l6
1 m" H: n' q o0 o8 y% f二极管、三极 6 ~! ]9 c' c* h5 a6 i5 B. U
管、MOS 管失
+ O# V0 U1 k% k5 x3 O3 w效分析
7 K9 K6 H3 x% X) Y外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
( q2 e1 ~% {4 Z# q% y* E性分析,切片,SEM&EDS 等
+ B/ c- c' l9 ]. M' @/ m* i面议
( F0 N$ t7 X. k: r' }7 h# y/ `: ?7 6 g; k% x9 O6 T& C- e4 v
功率器件失效
. O% K) r$ ?+ E; A5 h/ b分析 4 j8 H) G9 _: q3 s* h
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 5 J4 Q* f7 F& D: M7 u/ ]
性分析,开封、切片,SEM&EDS 等 4 `" Q; T+ i0 n) a' z
面议 4 }# i' F; l; g
IGBT、整流桥、可控
: k* ` D: p6 t
电子元器件失效分析-就选广电计量!.pdf
(104.6 KB, 下载次数: 1)
: ?+ O/ x- S( Q# S: G2 B* d! M
0 ~* m: f, m6 L6 l% j, c" ]" q, J8 L6 X6 j: @8 P5 \
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