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电子元器件失效分析-就选广电计量!

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  • TA的每日心情

    2019-11-20 15:01
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2021-12-10 17:58 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    电阻类元件失
    - E4 ~: z! Z) p% I0 R8 o+ _3 _效分析 : \& Y6 w# w1 M- q- o* a2 _) y: t
    外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    2 E6 I( e' m+ c; x" C性分析,切片,SEM&EDS 等
    1 {/ [. U# a. s/ L2 R: a% c面议
      @5 L/ s* t& `+ F, e4 _* G金属膜电阻器、 片式固定电 : N3 H0 d9 k" g, v' |- ~
    阻器、金属箔固定电阻器、线
    ; J) E4 \* U' `" [# c+ y; J6 c绕电阻器、电位器、热敏(温 , d' g4 M! R0 V# c4 y
    度传感) 电阻器 ( O  b9 p6 [" ]) w( A
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    + u. h3 A1 X9 O7 T8 r电容器元件失
    : f4 w5 P' D9 O效分析 1 K6 E: Z- x" o8 T7 E6 Q; [
    外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    0 Z0 \3 c( N9 Z  l- q4 f性分析,切片,SEM&EDS 等
    : }- K2 {5 O2 [* N+ {- e1 m( P面议
    ' h1 ^) A7 o( ?6 `陶瓷电容器、瓷片电容器、云 # P/ h! Y5 K& m3 T# d! O) h7 q* g
    母电容器、薄膜电容器、非固 ; Y' z0 e" B4 U; h1 c4 Y
    体电解质钽电容器等 6 f& w% C: {+ W" Q% T: b
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    * s" P' r! p7 G. B8 {分析
    ' |( H2 `0 |, l$ E& J& \  p  j. T外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    4 f- O: u0 a4 G- p8 t, I性分析,切片,SEM&EDS 等 ' p7 j; J# X1 [! L6 h
    面议
    , q5 s$ C9 t1 Z% H共模抑制电感、环形电感、晶 ) b+ Q8 D8 K$ z
    体谐振器、连接器
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    机电类器件失 4 v$ }5 J# m  r8 Q4 X
    效分析
    " s, P& z3 H0 A6 L2 M2 ]外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    7 x& r7 L) x9 K1 c# s* h  N性分析,切片,SEM&EDS 等
      g0 o) O& [6 b6 _. C- O* j面议
    . A  ~* @3 q" b4 ?$ h6 I电磁继电器、固体继电器、接
    " t6 @% C2 n, Z* Q口变压器、压力传感器、开关 5 F! p3 w: @9 @- ^( L+ R3 t- `2 M
    5 4 @3 l' @' z- j3 T0 @1 U' y
    光电类失效分
    ( y+ D4 n% ?" M5 ?  F! u/ e: d+ |
    外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    6 |$ P2 z5 |: c! j0 ?1 e8 ?; I% ^8 \性分析,切片,SEM&EDS 等
    . A! ~% }; B4 Z$ F: ?& ?3 w- z% X面议
    . J1 ^6 E8 ?6 t- r( r. ]光耦、真空管、激光器
      W( F$ ^1 `4 Q6 d8 e2 a5 u( D/ l6
    1 m" H: n' q  o0 o8 y% f二极管、三极 6 ~! ]9 c' c* h5 a6 i5 B. U
    管、MOS 管失
    + O# V0 U1 k% k5 x3 O3 w效分析
    7 K9 K6 H3 x% X) Y外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
    ( q2 e1 ~% {4 Z# q% y* E性分析,切片,SEM&EDS 等
    + B/ c- c' l9 ]. M' @/ m* i面议
    ( F0 N$ t7 X. k: r' }7 h# y/ `: ?7 6 g; k% x9 O6 T& C- e4 v
    功率器件失效
    . O% K) r$ ?+ E; A5 h/ b分析 4 j8 H) G9 _: q3 s* h
    外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 5 J4 Q* f7 F& D: M7 u/ ]
    性分析,开封、切片,SEM&EDS 等 4 `" Q; T+ i0 n) a' z
    面议 4 }# i' F; l; g
    IGBT、整流桥、可控
    : k* `  D: p6 t 电子元器件失效分析-就选广电计量!.pdf (104.6 KB, 下载次数: 1)
    : ?+ O/ x- S( Q# S: G2 B* d! M
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    - c* ]8 i( d' [! t! v

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2021-12-10 18:23 | 只看该作者
    X-RAY,电参数测试是常见的分析方法
  • TA的每日心情
    开心
    2025-11-22 15:53
  • 签到天数: 1221 天

    [LV.10]以坛为家III

    3#
    发表于 2021-12-15 12:48 | 只看该作者
    rare resource!!! excellent  professional  datas!!!  thanks for your sharing!!!
  • TA的每日心情
    开心
    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-12-16 16:04 | 只看该作者
    电容的失效性要好好测,一个板子用的太多了
    * @" e& |: ?  H2 M: Z; @) \4 N1 Z) ^
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